鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

殘余應(yīng)力測(cè)試

?項(xiàng)目簡(jiǎn)介

外力撤除后在材料內(nèi)部殘留的應(yīng)力就是殘余應(yīng)力。但是，習(xí)慣上將殘余應(yīng)力分為微觀應(yīng)力和宏觀應(yīng)力。兩種應(yīng)力在X射線(xiàn)衍射譜中的表現(xiàn)是不相同的。

微觀應(yīng)力是指晶粒內(nèi)部殘留的應(yīng)力，它的存在，使衍射峰變寬,而超微觀應(yīng)力的存在則會(huì)使衍射峰強(qiáng)度降低。這種變寬通常與因?yàn)榫Я＜?xì)化引起的衍射峰變寬混雜在一起，兩者形成卷積。通過(guò)測(cè)量衍射峰的寬化，并采用近似函數(shù)法或傅立葉變換方法來(lái)求得微觀應(yīng)力的大小。

宏觀應(yīng)力是指存在于多個(gè)晶體尺度范圍內(nèi)的應(yīng)力，相對(duì)于微觀應(yīng)力存在的范圍而視為宏觀上存在的應(yīng)力。一般情況下，殘余應(yīng)力的術(shù)語(yǔ)就是指在宏觀上存在的這種應(yīng)力。宏觀殘余應(yīng)力（以下稱(chēng)殘余應(yīng)力）在X射線(xiàn)衍射譜上的表現(xiàn)是使峰位漂移。當(dāng)存在壓應(yīng)力時(shí)，晶面間距變小，因此，衍射峰向高角度偏移，反之，當(dāng)存在拉應(yīng)力時(shí)，晶面間的距離被拉大，導(dǎo)致衍射峰位向低角度位移。通過(guò)測(cè)量樣品衍射峰的位移情況，可以求得殘余應(yīng)力。

?樣品要求

1、尺寸：邊長(zhǎng)大于5mm，小于3cm，厚度小于8mm，其他尺寸可以先寫(xiě)測(cè)試單我們確認(rèn)。15071040697

2、XRD測(cè)得是宏觀殘余應(yīng)力，做殘余應(yīng)力前，肯定要先做普通的XRD，且在譜圖中可以找到一個(gè)強(qiáng)度較高的獨(dú)立的峰，且要知道該峰的晶面指數(shù)和2θ角位置，以及該物質(zhì)的泊松比和彈性模量。

3、如果是混合物，則需每一物相滿(mǎn)足該條件，測(cè)出每一物相的殘余應(yīng)力，在按不同的體積比進(jìn)行計(jì)算整個(gè)試樣的殘余應(yīng)力.

4、切割時(shí)最好手工，否則容易帶入外來(lái)的應(yīng)力。

5、樣品是各向異性，那要明確測(cè)得是哪個(gè)方向（比如冷軋板按照纖維方向和垂直纖維方向殘余應(yīng)力是不一樣的）。

6、有基地的薄膜樣品，樣品薄的需要掠入射XRD測(cè)試。

7、殘余應(yīng)力剝層測(cè)試、測(cè)試靶材有要求請(qǐng)?zhí)厥鈧渥ⅰ?/span>

8、GB/T 7704法

http://www.doc88.com/p-7088693400638.html

cos α法
https://mp.weixin.qq.com/s/xx8qCBWIg9GmfD-Ry3Vg2Q

?結(jié)果展示

cosα 法結(jié)果參考

?測(cè)試提示：

1.可開(kāi)正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶(hù)需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；

4.測(cè)試人員與顧客通過(guò)QQ，微信或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流。QQ：82187958。微信：15071040697

5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。