鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計原子熒光光度計(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動態(tài)熱機械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導率儀電化學工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費休水分測定儀自動電位滴定儀電化學儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計有機鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機元素分析儀(EA)粘度計振動樣品磁強計(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機時同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(HER)費米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標理化-其它非標理化項目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學-常規(guī)指標糖化學液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負極顆粒粒徑分析負極極片孔洞分析負極顆粒包覆層觀察負極顆粒羥基含量測定負極極片包覆層觀察負極表面SEI膜分析XPS法負極極片SEI膜成分分析與厚度測定負極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實密度正極材料-振實密度電池產(chǎn)品-正極材料負極材料-PH值負極材料-比表面積負極材料-層間距 石墨化度負極材料成分分析負極材料-磁性異物負極材料-粉末壓實密度負極材料-固定碳含量負極材料-化學成分負極材料-粒徑分布負極材料-石墨鑒定負極材料-水分負極材料-限用物質(zhì)含量負極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負極材料-陰離子的測定負極材料-有機物含量負極材料-真密度負極材料-振實密度負極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負極材料電解液-電導率電解液-化學元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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二維紅外光譜技術(shù)

 
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二維紅外光譜技術(shù)

?樣品準備須知?。?!


如果您的樣品需要低溫寄送,4℃左右可用冰袋寄送(冰袋需自備),-20℃-80℃請干冰寄送;

親愛的同學您好!請仔細閱讀以下條款,下單即表示接受以下內(nèi)容

1、請按照紅外送樣要求送樣;

2二維紅外數(shù)據(jù)分析是基于已獲知的測試數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)處理原則,我們尊重事實,保證分析數(shù)據(jù)的準確性和合理性,但不能保證分析結(jié)果完全符合您的預期,請理性對待。

2、數(shù)據(jù)分析完成后,請于一周之內(nèi)對結(jié)果進行確認。

3、在鑠思百做的數(shù)據(jù)分析,我們可以協(xié)助回復該部分的審稿意見。

4、數(shù)據(jù)分析及解釋僅針對于本次數(shù)據(jù)分析,其他問題請自行查閱相關(guān)資料。

5、更多分析要求,請聯(lián)系工程師



注:結(jié)果上傳后,請務必及時下載查看結(jié)果,有問題及時反饋,我們的售后周期為分析結(jié)果上傳后一個月內(nèi)。



?樣品測試填寫要求注意事項


數(shù)據(jù)數(shù)量

填寫需要測試樣品的數(shù)量

樣品編號

請輸入該組樣品編號,以逗號分隔,例如1,2,3

樣品制備流程/工藝

盡量詳細寫出樣品的情況,成分,元素種類,來源等

分析目的/要求

盡可能詳細描述

預期分析結(jié)果


二維紅外光譜技術(shù)

?項目簡介


二維相關(guān)紅外光譜作為一種先進的光譜分析方法,具有提高譜圖分辨率、解析動態(tài)過程等優(yōu)勢,近來在高分子表征中引起了越來越多的關(guān)注.高分子體系涉及了豐富的相互作用和復雜的結(jié)構(gòu),分子光譜是常用的表征手段,而借助二維相關(guān)光譜分析技術(shù),能夠有效識別精細結(jié)構(gòu)、判別動態(tài)變化機制,從而顯著豐富和完善分析結(jié)果 。

二維相關(guān)光譜主要分為常規(guī)二維紅外與異質(zhì)二維紅外,本研究主要以常規(guī)二維紅外為主要技術(shù)手段進行分析,其優(yōu)勢在于:

1)對于包含許多重疊峰的復雜譜圖,起到圖譜簡化的作用

2)譜峰的相關(guān)性可幫助判斷體系中的相互作用以及峰歸屬

3)可用于確定外界刺激下不同過程的發(fā)生次序


二維相關(guān)光譜圖包含同步譜和異步譜2類,上圖展示了典型的同步和異步譜圖。

二維相關(guān)光譜同步譜圖表現(xiàn)了給定2波數(shù)v1(橫坐標)和v2(縱坐標)處光譜強度的同步或者一致變化.同步譜圖沿對角線(對應于光譜坐標v1=v2)方向?qū)ΨQ(虛線),其中相關(guān)峰可以出現(xiàn)在對角線上,也可以出現(xiàn)在對角線外.落在對角線上的相關(guān)峰稱作自動峰,自動峰強度對應于外擾過程中光譜變化的自相關(guān)函數(shù).在同步譜中,自動峰的強度始終為正,代表了對應波數(shù)下光譜強度動態(tài)波動的整體程度.所以,在動態(tài)譜圖中表現(xiàn)出更大程度強度變化的區(qū)域?qū)淖詣臃逶綇?,而那些基本保持不變的峰自動峰強度小甚至沒有自動峰.交叉峰處于同步譜圖的非對角線區(qū)域,表現(xiàn)了不同波數(shù)光譜信號的同步變化.這樣一種同步的變化,反過來,預示著2波數(shù)間可能存在一定的相關(guān)性.盡管自動峰的強度始終為正,但交叉峰的強度可正可負.如果2波數(shù)的交叉峰為正,說明這2個波數(shù)對應的光譜強度在外擾下同時增加或者同時降低;如果兩波數(shù)的交叉峰為負,說明這2個波數(shù)對應的光譜強度一個增加另一個降低.

利用同步和異步譜圖的交叉峰,可以獲得外擾條件下光譜強度發(fā)生變化的先后次序關(guān)系.為方便表述,將同步譜圖中(v1,v2)處的峰強度記為Φ(v1,v2),將異步譜圖中(v1,v2)處的峰強度記為Ψ(v1,v2).根據(jù)Noda規(guī)則:如果(v1,v2)在同步和異步譜圖的交叉峰符號一致(都為正或者都為負),則v1→v2;如果(v1,v2)在同步和異步譜圖的交叉峰符號不一致(一個為正而另一個為負),則v2→v1.


?樣品要求


1.粉末:樣品干燥不含水,大于10mg,200目以上,可用于直接壓片的粒度;

2.溶液:樣品必須無毒、無腐蝕性;提供2mL以上,樣品盡量不含水(含水的樣品,水峰對樣品譜圖的干擾很大);

3.塊體/薄膜:樣品干燥不含水,大于0.5cm*0.5cm,硬的塊狀/薄膜樣品很難出峰,需要提前咨詢確認能否測試;ATR模式需要壓緊測試,若樣品易碎則容易造成損壞,需要您提前知悉并接受風險后再行預約!

4.易潮解的樣品,請用戶自備干燥器放置;

5.易揮發(fā)、升華、對熱不穩(wěn)定的樣品,請用帶密封蓋或塞子的容器盛裝并蓋緊,同時必須注明樣品保存條件;


?結(jié)果展示


下圖為1750~1600cm-1波段樣品的同步光譜圖和異步光譜圖。同步光譜中自動峰主要為(1653,1653);異步光譜中交叉峰主要為(1665,1699)。結(jié)合同步和異步光譜圖,各波數(shù)對溫度的響應速度由快到慢是:1653 cm-1>1665cm-1>1699 cm-11699 cm-1,1679 cm-11652 cm-1對應與氫鍵結(jié)合的酰胺鍵(-NH-CO- (結(jié)合N-HC=O)。通過同步和異步二維紅外光譜說明,酰胺鍵中自由N-HC=O的相對含量較少,溫度能直接作用于結(jié)合N-HC=O。

?測試提示:


1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。

2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷,測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化;

3.客戶需提供詳細的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;

4.測試人員與顧客通過QQ,微信或郵件溝通,出現(xiàn)測試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請加QQ和技術(shù)人員交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責任。



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