三維原子探針（APT）

?設(shè)備型號(hào)

LEAP 5000HR

?樣品準(zhǔn)備須知！??！

測(cè)試前請(qǐng)先下單FIB-SEM制備針尖，一般樣品制備2-3根針尖，如果樣品易斷，可能需要制備更多針尖待用。

?樣品測(cè)試填寫要求注意事項(xiàng)

1.樣品數(shù)量：填寫需要測(cè)試樣品的數(shù)量

2.樣品編號(hào)(名稱)：請(qǐng)輸入該組樣品編號(hào)，以逗號(hào)分隔，例如1,2,3

3. 樣品材質(zhì)：

4. 樣品所含全部元素：

5. 需要測(cè)試元素：

6. 測(cè)試目的：

7. 預(yù)估測(cè)試時(shí)間/樣品：1h/2h/3h/4h/5h

實(shí)際收費(fèi)按最終占用機(jī)時(shí)時(shí)間，多退少補(bǔ)。

8. 數(shù)據(jù)處理: 是/否

測(cè)試后數(shù)據(jù)都需要處理才能使用

9.對(duì)接單上傳:

10. 文獻(xiàn)上傳:

如有相同或類似材料的文獻(xiàn)可上傳

三維原子探針（APT）

?項(xiàng)目簡(jiǎn)介

以三維視角在亞納米尺度揭示材料內(nèi)部所有元素的分布。針對(duì)材料研發(fā)中令人棘手的測(cè)量和分析方面難題，三維原子探針為研究者提供原子量級(jí)分辨率的材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維成分圖像，分析靈敏度接近百萬分之一，特別適合于研究納米尺度的微小結(jié)構(gòu)(沉淀、團(tuán)簇、GP區(qū)等)以及各種內(nèi)界面(晶界、相界、多層膜結(jié)構(gòu)中的層間界面等)，使用該設(shè)備可觀測(cè)和研究元素在界面的偏聚行為，微小沉淀相的尺寸、分布以及成分。

?樣品要求

一般APT樣品的針尖尺寸?？傻?/span>fib界面下單制備樣品：聚焦離子束掃描電鏡（FIB-SEM）

一般至少要制備2-3根針尖備用，測(cè)試過程中針尖可能會(huì)斷（這是這個(gè)測(cè)試不可避免的風(fēng)險(xiǎn)，需要您自己承擔(dān)）

?結(jié)果展示

?常見問題

1. 粉末能不能做APT

答：納米級(jí)別的粉末不可以，微米級(jí)別的可以具體評(píng)估下。

?測(cè)試提示：

1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；

4.測(cè)試人員與顧客通過QQ，微信或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流。QQ：82187958。微信：15071040697

5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。