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X射線熒光光譜儀(XRF) ?項(xiàng)目簡(jiǎn)介
可測(cè)元素范圍:常規(guī)測(cè)試范圍11Na-92U,部分儀器可以測(cè)到O元素,如果需要測(cè)到O需要備注好 制樣方法:壓片、融片 結(jié)果模式:?jiǎn)钨|(zhì)、氧化物 一般是半定量測(cè)試,可測(cè)試的深度是毫米級(jí),可作為一種快速的無損分析。 ?樣品要求
1. 樣品狀態(tài):可為粉末、塊狀、薄膜樣品 2. 粉末樣品:粉末樣品需要至少2 g ,最好3 g以上,樣品在測(cè)試之前盡量干燥,可以過200目篩的樣品無需研磨;含碳元素含量超過10%的樣品,請(qǐng)先將樣品燒成灰,再測(cè)試 3. 塊狀、薄膜樣品:塊狀樣品尺寸在2.5 ~4.5cm之間,標(biāo)明測(cè)試面(表面光滑平整) ?結(jié)果展示
測(cè)試結(jié)果給出的是txt格式或者word版測(cè)試結(jié)果。如下圖分別為單質(zhì)和氧化物模式的測(cè)試結(jié)果。
結(jié)果中Sx是總硫
1. 為什么要求XRF測(cè)試粉末樣品用量最好達(dá)到3 g以上? 因?yàn)樾枰偷矸垡黄饓浩?,如果樣品量太少的,需要加很多淀粉容易?dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。 2. 為什么XRF測(cè)試要求薄膜(塊體)樣品尺寸直接要大于2.5 cm?因?yàn)榉胖帽∧ぃ▔K體)樣品需要放進(jìn)測(cè)試槽,測(cè)試槽的直徑是2.5 cm,如果樣品太小會(huì)固定不了。 3. XRF測(cè)試可以精確到多少?XRF測(cè)試原則上可以精確到ppm級(jí)別的,但這個(gè)精度是基于標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的,常規(guī)的XRF測(cè)試只是半定量測(cè)試,誤差不好判斷,僅作為元素含量百分比的參考。 ?測(cè)試提示:
1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票,附帶測(cè)試清單。 2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員,測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷,測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化; 3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論,商定最終測(cè)試條件; 4.測(cè)試人員與顧客通過QQ,微信或郵件溝通,出現(xiàn)測(cè)試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流。QQ:82187958。微信:15071040697 5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。 |