同步輻射XRD，PDF，SAXS

設(shè)備型號(hào)

同步輻射光源

樣品準(zhǔn)備須知！?。?/span>

同步輻射xrd可測(cè)變溫，范圍-100-1000℃。

同步輻射XRD常用于結(jié)構(gòu)分析，物相鑒定，與常規(guī)X光相比，同步輻射光波長(zhǎng)在大范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，且準(zhǔn)直性好，研究的尺度范圍和分辨均優(yōu)于常規(guī)X光。

同步輻射PDF：以高能硬X射線測(cè)量樣品廣角全散射數(shù)據(jù)，因此也稱為全散射分析，可提供長(zhǎng)程原子有序性信息、中短程結(jié)構(gòu)信息，如短程有序/無序排布、鍵長(zhǎng)、局部缺陷等

同步輻射XRD和PDF的樣品要求：粉末樣品請(qǐng)準(zhǔn)備至少20mg，0.1g以上最好。需要粒度均勻（粒度在45um左右或過200目篩子），手摸無顆粒感，面粉質(zhì)感；塊狀樣品要求長(zhǎng)寬1-2cm（一般不小于1cm），厚度5mm以下。

同步輻射SAXS可探測(cè)樣品內(nèi)電子密度起伏，研究樣品內(nèi)缺陷和顆粒的尺寸、形狀及其分布密度。

樣品要求：可以測(cè)試粉末、薄膜、塊體、液體均可以，粉末20mg、薄膜長(zhǎng)寬1cm、塊體長(zhǎng)寬1cm越薄越好，液體2ml。

因光源測(cè)試偶會(huì)出現(xiàn)掉光、設(shè)備故障等無法避免問題，可能會(huì)延長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間，望理解！

樣品測(cè)試填寫要求注意事項(xiàng)

1.樣品數(shù)量：填寫需要測(cè)試樣品的數(shù)量

2.樣品編號(hào)(名稱)：請(qǐng)輸入該組樣品編號(hào)，以逗號(hào)分隔，例如1,2,3

3. 樣品詳細(xì)信息

請(qǐng)?jiān)敿?xì)寫出樣品材料真實(shí)信息。

4.測(cè)試項(xiàng)目：同步輻射XRD/同步輻射PDF/同步輻射SAXS/同步輻射SAXS+數(shù)據(jù)處理

請(qǐng)選擇您需要測(cè)試的項(xiàng)目，同步輻射XRD按照時(shí)間或者樣品收費(fèi)；同步輻射PDF按照樣品收費(fèi)；同步輻射SAXS按照樣品數(shù)量收費(fèi)，可在線站同時(shí)進(jìn)行計(jì)算處理，關(guān)于計(jì)算結(jié)果的預(yù)期請(qǐng)?zhí)崆皽贤ā?/span>

同步輻射XRD測(cè)試溫度: 常溫/變溫（-100- 1000℃）

同步輻射XRD所需能量、角度范圍:

請(qǐng)?zhí)顚懢唧w需要的掃描角度范圍，以及需要測(cè)試的時(shí)間。能量與波長(zhǎng)負(fù)相關(guān)，通常8KeV能量對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)為0.154nm，與常規(guī)Cu靶材產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)一致，高于8KeV后波長(zhǎng)會(huì)更加短，具體看您自己需求，以及可提供的機(jī)時(shí)安排，需要提前溝通聯(lián)系確認(rèn)。正常能量是8kev。

同步輻射PDF測(cè)試溫度:常溫

同步輻射PDF所需能量、角度范圍：

請(qǐng)?zhí)顚懢唧w需要的掃描角度范圍，以及需要測(cè)試的時(shí)間。能量與波長(zhǎng)負(fù)相關(guān)，通常8KeV能量對(duì)應(yīng)的波長(zhǎng)為0.154nm，與常規(guī)Cu靶材產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)一致，高于8KeV后波長(zhǎng)會(huì)更加短，具體看您自己需求，以及可提供的機(jī)時(shí)安排，需要提前溝通聯(lián)系確認(rèn)。正常能量是8kev。

同步輻射SAXS散射矢量范圍以及能量：

請(qǐng)?zhí)顚懢唧w的散射矢量范圍，參考范圍：0.08nm-1~3nm-1。具體計(jì)算結(jié)果預(yù)期請(qǐng)?zhí)崆皽贤ā?/span>

請(qǐng)上傳您需要的參考數(shù)據(jù)圖:

請(qǐng)上傳您自己需要的參考數(shù)據(jù)圖，以及必要的文字說明。

同步輻射XRD,PDF,SAXS

項(xiàng)目簡(jiǎn)介

同步輻射XRD常用于結(jié)構(gòu)分析，物相鑒定，與常規(guī)X光相比，同步輻射光波長(zhǎng)在大范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，且準(zhǔn)直性好，研究的尺度范圍和分辨均優(yōu)于常規(guī)X光。

同步輻射PDF：以高能硬X射線測(cè)量樣品廣角全散射數(shù)據(jù)，因此也稱為全散射分析，可提供長(zhǎng)程原子有序性信息、中短程結(jié)構(gòu)信息，如短程有序/無序排布、鍵長(zhǎng)、局部缺陷等。

同步輻射SAXS可探測(cè)樣品內(nèi)電子密度起伏，研究樣品內(nèi)缺陷和顆粒的尺寸、形狀及其分布密度。

樣品要求

XRD或PDF可以測(cè)粉末樣品請(qǐng)準(zhǔn)備至少20mg，0.1g以上最好。需要粒度均勻（粒度在45um左右或過200目篩子），手摸無顆粒感，面粉質(zhì)感；塊狀樣品要求長(zhǎng)寬1-2cm（一般不小于1cm），厚度5mm以下。

SAXS可以測(cè)試粉末、薄膜、塊體、液體均可以，粉末20mg、薄膜長(zhǎng)寬1cm、塊體長(zhǎng)寬1cm越薄越好，液體2ml。

結(jié)果展示

同步輻射XRD的結(jié)果為txt原始數(shù)據(jù)，需自行做圖：

SAXS的原理能用布拉格定律2dsin=n來解釋，具體的應(yīng)用場(chǎng)合則因?yàn)槿肷渖渚€的本質(zhì)和被檢測(cè)樣品的本質(zhì)不同而有所區(qū)別。結(jié)果為原始數(shù)據(jù)，可溝通做二維圖，以下圖二維圖為例：

Lv Q ,
Li Z . Et al. Philosophical Magazine Letters. 2021

常見問題

1. 小角X射線散射（Small Angle X-ray Scattering)和小角X射線衍射(Small angle x-ray diffraction)是一回事嗎？

X-射線照射到晶體上發(fā)生相干散射（存在位相關(guān)系）的物理現(xiàn)象叫衍射，即使發(fā)生在低角度也是衍射。例如，某相的d值為 31.5?，相應(yīng)衍射為2.80°（Cu-Kα），如果該相有很高的結(jié)晶度，31.5?峰還是十分尖銳的。薄膜也能產(chǎn)生取決于薄膜厚度與薄膜微觀結(jié)構(gòu)的、集中在小角范圍內(nèi)的 X 射線衍射。在這些情況下，樣品的小角X射線散射強(qiáng)度主要來自樣品的衍射，稱之為角X射線衍射。

X-射線照射到超細(xì)粉末顆粒（粒徑小于幾百埃，不管其是晶體還是非晶體）也會(huì)發(fā)生相干散射現(xiàn)象，也發(fā)生在低角度區(qū)。但是由微細(xì)顆粒產(chǎn)生的相干散射圖的特征與上述的由超大晶面間距或薄膜產(chǎn)生的小角 X 射線衍射圖的特征完全不同。

小角衍射，一般應(yīng)用于測(cè)定超大晶面間距或薄膜厚度以及薄膜的微觀周期結(jié)構(gòu)、周期排列的孔分布等問題；小角散射則是應(yīng)用于測(cè)定超細(xì)粉體或疏松多孔材料孔分布的有關(guān)性質(zhì)。

測(cè)試提示：

1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；

4.測(cè)試人員與顧客通過QQ，微信或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流。QQ：82187958。微信：15071040697

5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。