鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計原子熒光光度計(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費休水分測定儀自動電位滴定儀電化學(xué)儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計振動樣品磁強(qiáng)計(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實密度正極材料-振實密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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DOM(FT-ICP-MS)

 
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DOM(FT-ICP-MS)


設(shè)備型號


Bruker SolariX FT-ICR-MS


樣品準(zhǔn)備須知?。?!


如果您的樣品需要低溫寄送,4℃左右可用冰袋寄送(冰袋需自備),-20℃-80℃請干冰寄送;

1.所有色譜質(zhì)譜類測試由于測試影響因素太多,沒有辦法保證測試結(jié)果一定符合您的預(yù)期,請慎重考慮,謝謝!

2.本測試服務(wù)只提供測試結(jié)果,不包含數(shù)據(jù)分析?。?!

3.請您務(wù)必注意回收問題,謹(jǐn)慎選擇是否回收



樣品測試填寫要求注意事項


1.樣品數(shù)量填寫需要測試樣品的數(shù)量

2.樣品編號(名稱)請輸入該組樣品編號,以逗號分隔,例如1,2,3

3.樣品來源

(如:土壤,河水,污水處理廠,生物質(zhì)降解,購買的標(biāo)準(zhǔn)品經(jīng)后期處理,如光照、臭氧氧化等)。

4.實驗設(shè)計及目的

(請簡要說明,方便數(shù)據(jù)分子式匹配)。

5.是否在鑠思百做過DOM測試,如果做過的話請?zhí)峁┯唵尉幪?,沒有做過的話寫無。

6. 樣品是否已經(jīng)自己PPL固相萃取柱脫鹽濃縮富集,還是需要我們前處理:

已經(jīng)前處理好,能直接上機(jī) / 需要鑠思百進(jìn)行前處理

(我們的經(jīng)驗是嚴(yán)格按照鑠思百SPE固相萃取方法進(jìn)行樣品前處理,并盡量保證質(zhì)譜測試前樣品toc濃度在300 ppm以上,最終樣品完全溶解在1mL甲醇溶液中或50%甲醇水溶液即可送樣。)

7.前處理步驟

(如果您有自己的方法,無論是否已經(jīng)前處理,請備注您的步驟,實驗室會進(jìn)行評估。如果您沒有方法,需要委托鑠思百前處理,可備注鑠思百前處理方法,鑠思百前處理方在下列)

8.樣品的TOCDOC

(水樣直接填寫數(shù)值即可;土樣需要提供的是浸提液的TOCDOC值,填寫舉例:2g土用10ml純水浸提,TOCDOC值為2mg/L。您填寫后提交,對接老師會幫您計算具體的送樣量。)

9.需前處理樣品類型:水樣/土樣

(一般做氯化消毒才考慮的。關(guān)注ClBr、I元素,SPE固相萃取前處理時,要用甲酸代替鹽酸。

需要考慮哪項氯化消毒副產(chǎn)物Cl/Br/I/其它

10.以下分子式匹配及篩選條件是否合適(請仔細(xì)核對測試條件,一旦確認(rèn)無法更改)

(實驗室經(jīng)驗條件:S/N>4, C,H,O,不含P,需要P請?zhí)崆罢f明,元素個數(shù)不限,N3S1,得到可能分子式結(jié)果。保留100<m/z<800, 0.2<H/C<2.20.1<O/C<1.2的分子式,采用最小雜元素個數(shù)法篩選正確分子式,(一般在分子式匹配時,分子式元素組成設(shè)置為N3S1(分子式中最多含3個氮元素1個硫元素,如果設(shè)置過復(fù)雜,可能會導(dǎo)致錯誤分子式的幾率增大)。)如需調(diào)整篩選條件,二次導(dǎo)出數(shù)據(jù)需重新處理數(shù)據(jù),需要額外加收費用。詳詢對接工程師。

11.如果樣品較多,請上傳編號表:


DOMFT-ICP-MS

項目簡介


溶解性有機(jī)質(zhì)(DOM)是水體或者土壤溶液中的一種常見組分,對生物地球化學(xué)和碳循環(huán)過程起著重要作用。然而由于組成復(fù)雜且難以分離,多數(shù)研究只能提供不同官能團(tuán)信息以及一些分類數(shù)據(jù),對該類化合物的組成研究非常薄弱。FT- ICR-MS是一種具有快速、穩(wěn)定和超高分辨能力的質(zhì)譜儀,可檢測到混合物樣品中數(shù)千個單獨有機(jī)物組分,質(zhì)荷比的分辨率達(dá)到10-6級,配合分子數(shù)據(jù)庫可以精確地確定由 C、HO、NS、P 以及它們主要同位素所組成的各種元素組合,真正從分子元素組成層次上研究溶解性有機(jī)質(zhì)組成。

鑠思百平臺目前已經(jīng)數(shù)量掌握了FT- ICR- MS測試項目,該項目的測試參數(shù)等均經(jīng)過實驗室檢驗

另外,所有色譜質(zhì)譜類測試,涉及參數(shù)往往很多。我們會依據(jù)您的參考文獻(xiàn),結(jié)合實驗室現(xiàn)存條件與經(jīng)驗,盡量使用相同或者相似的參數(shù)或配件。由于測試影響因素太多,沒有辦法保證測試參數(shù)或結(jié)果完全符合您的預(yù)期,請慎重考慮,謝謝!

測試前請務(wù)必詳細(xì)填寫對接單,更多測試要求請咨詢工程師。

鑠思百常規(guī)前處理步驟:


樣品要求


1、樣品量:請先告知工程師您的水樣或者土樣的TOCDOC值,我們會給您推薦對應(yīng)的送樣量(詳見常見問題1

2、寄送要求:土壤提供鮮樣、凍干樣或土壤浸提液(浸提比例需要告知項目經(jīng)理),水樣提供液體,樣品均低溫避光寄送。


結(jié)果展示

1、數(shù)據(jù)形式見下(可聯(lián)系對接人員索要完整結(jié)果內(nèi)容):

2本測試不包含數(shù)據(jù)分析以及作圖服務(wù),僅提供測試數(shù)據(jù)?。。ㄒ娚厦娴谋砀瘢┤缧钄?shù)據(jù)分析及作圖服務(wù),需要另外收費,有作圖需要您可以和工程師確認(rèn)。

3、FT- ICR- MS測試,不同于icp等測試,測試條件、后續(xù)自行分析都較為復(fù)雜,請您適當(dāng)積累一定的測試知識,便于您后續(xù)數(shù)據(jù)處理。



常見問題


1. 送樣量如何確定?

∶DOMft-icr-ms),一般都會先做前處理,然后前處理得到的萃取液上機(jī)測試。如果您是水樣,可以測試TOC或者DOC值,項目經(jīng)理會根據(jù)您測得的值計算水樣送樣量,到時您寄送需要前處理的樣品量;如果您是土壤,您先按照土壤的標(biāo)準(zhǔn)浸提,并告訴我們浸提比例(水與土的比例),項目經(jīng)理會根據(jù)您測得的值及浸提比例計算土壤樣品量。您可以提供土壤鮮樣、凍干樣或土壤浸提液,樣品均低溫避光寄送。

2. 土壤的送樣要求是鮮樣或凍干樣,如果樣品已經(jīng)風(fēng)干了還能測嗎?

一般風(fēng)干樣品主要用于分析測定土壤理化性質(zhì)及無機(jī)元素含量(氮、磷、鉀、重金屬等不易揮發(fā)的無機(jī)元素);鮮樣或凍干樣主要用于分析有機(jī)類項目。DOM屬于有機(jī)物,所以鮮樣或凍干樣最佳。如果樣品已經(jīng)風(fēng)干,可能會影響測試效果,該風(fēng)險需要您衡量之后再決定是否用風(fēng)干樣來進(jìn)行測試。


?測試提示:


1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。

2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷,測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化;

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細(xì)測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;

4.測試人員與顧客通過QQ,微信或郵件溝通,出現(xiàn)測試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請加QQ和技術(shù)人員交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。



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