鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費(fèi)休水分測定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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活動(dòng)價(jià) ¥220.00
高效液相色譜儀(HPLC)
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儀器型號(hào)   agilent 1100 二元泵,DAD二極管陣列檢測器;

服務(wù)周期   收到樣品后平均3-5工作日完成


高效液相色譜儀(HPLC

?項(xiàng)目簡介


HPLC是以液體為流動(dòng)相,采用高壓輸液系統(tǒng),將具有不同極性的單一溶劑或不同比例的混合溶劑、緩沖液等流動(dòng)相泵入裝有固定相的色譜柱,在柱內(nèi)各成分被分離后,進(jìn)入檢測器進(jìn)行檢測,實(shí)現(xiàn)對(duì)試樣的分析。主要用于分析高沸點(diǎn)不易揮發(fā)的、受熱不穩(wěn)定的和分子量大的有機(jī)化合物的分析,具體分為定性與定量。

HPLC主要可解決如下幾方面的問題:不揮發(fā)性化合物分析測定;極性化合物的分析測定;熱不穩(wěn)定化合物的分析測定;大分子量化合物(包括蛋白、多肽、多聚物等)的分析測定。但是,區(qū)別于液質(zhì)聯(lián)用(LCMS),LCMS一般可以通過對(duì)物質(zhì)的碎片峰信息進(jìn)行定性或定量,HPLC是通過物質(zhì)出峰時(shí)間及峰面積來定性或定量。所以,目前高效液相色譜在環(huán)境領(lǐng)域,主要應(yīng)用于有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)參照情況下,且待測物質(zhì)純度較高,出峰時(shí)間及峰形不受其余物質(zhì)干擾的定性或定量分析。

另外,所有色譜質(zhì)譜類測試,涉及參數(shù)往往很多。我們會(huì)依據(jù)您的參考文獻(xiàn),結(jié)合實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)存條件與經(jīng)驗(yàn),盡量使用相同或者相似的參數(shù)或配件。由于測試影響因素太多,沒有辦法保證測試參數(shù)或結(jié)果完全符合您的預(yù)期,請(qǐng)慎重考慮,謝謝!

測試前請(qǐng)務(wù)必詳細(xì)填寫對(duì)接單,更多測試要求請(qǐng)咨詢工程師。


?樣品要求


HPLC樣品要求:粉體樣品需要提供20mg以上,液體樣品需要提供0.5ml以上,在常規(guī)溶劑中溶解性較好。


?結(jié)果展示


1、液相色譜圖:液相色譜圖顯示了化合物的分離,色譜圖是在某檢測波長處查看的。Y軸為強(qiáng)度,X軸為保留時(shí)間。

2、本測試不包含數(shù)據(jù)分析以及作圖服務(wù),僅提供測試數(shù)據(jù)!!如需數(shù)據(jù)分析,本公司數(shù)據(jù)分析部門收費(fèi)提供。如需提供源文件,請(qǐng)務(wù)必提前說明。注意:源文件往往需要儀器配套的軟件打開,由于該軟件被各儀器廠商用序列號(hào)控制(儀器和軟件之間一對(duì)一綁定,在別的計(jì)算機(jī)上裝不了),因此對(duì)應(yīng)軟件我們不提供!

3、HPLC測試,不同于icp等測試,測試條件、后續(xù)自行分析都較為復(fù)雜,請(qǐng)您適當(dāng)積累一定的測試知識(shí),便于您后續(xù)數(shù)據(jù)處理。


?常見問題


1. HPLC如何定量?

∶HPLC定量時(shí),最常使用外標(biāo)法(定量原理:峰面積或者峰高隨濃度的變化而相應(yīng)變化)。若使用其他定量方式,請(qǐng)?zhí)崆皽贤?/span>。若使用外標(biāo)法,除填寫對(duì)接單外,您需要在對(duì)接單中額外補(bǔ)充:

A、目標(biāo)物質(zhì)的標(biāo)品-做外標(biāo);

B、目標(biāo)物質(zhì)的濃度范圍-決定外標(biāo)定量范圍。

2. HPLC如何定性?

∶HPLC定性時(shí),是以保留時(shí)間定性。此步驟也需要您提供標(biāo)準(zhǔn)品,通過比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)品與待測物質(zhì)的保留時(shí)間來定性。如果您樣品成分復(fù)雜,存在待測物質(zhì)的出峰情況受樣品中其他物質(zhì)的干擾的可能性,就算保留時(shí)間能與標(biāo)準(zhǔn)品對(duì)應(yīng)上,但不能確認(rèn)樣品中含有該標(biāo)準(zhǔn)品物質(zhì)。所以HPLC用于定性時(shí)目標(biāo)物質(zhì)純度應(yīng)該較高。

3. 目標(biāo)物質(zhì)含量較低,可能測不出怎么辦?

可以進(jìn)行濃縮的預(yù)處理,因?yàn)橐话闾烊粯油枯^低,低于檢出限,但是富集之后可以在檢出限內(nèi)進(jìn)行定量)。缺點(diǎn)是需要確認(rèn)合適的預(yù)處理步驟。

具體的濃縮的預(yù)處理過程務(wù)必由客戶提供,因?yàn)椴煌繕?biāo)物質(zhì)濃縮步驟往往有所區(qū)別,根據(jù)目標(biāo)物選擇合適的濃縮步驟,對(duì)檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性有著至關(guān)重要的作用。

4. 儀器的檢出限是多少?

正如毒理學(xué)中拋開劑量談毒性的含義,HPLC檢出限也并不是一個(gè)準(zhǔn)確值。

檢出限的定義為:某特定分析方法在給定的置信度內(nèi)可從樣品中檢出待測物質(zhì)的最小濃度或最小量。即,拋去其他細(xì)節(jié)因素,主要影響HPLC檢出限的是測試方法以及對(duì)應(yīng)測試物質(zhì)。

舉例:假如客戶A的樣品是液體樣,需要檢測其中四環(huán)素的含量。那么我們需要先按照測試方法設(shè)置好儀器,然后進(jìn)標(biāo)樣,直到可以判定標(biāo)品中存有濃度明顯高于空白(大多是3倍噪聲)的四環(huán)素出峰,這一標(biāo)樣濃度可以稱為檢出限。

如果在自身樣品各種信息都沒有提供的前提下,直接問儀器檢出限是多少?就說明欠缺對(duì)檢出限定義、HPLC基礎(chǔ)原理的理解。

5. HPLCLCMS最顯著的區(qū)別?

液相色譜可以后搭多種檢測器,如紫外檢測器,熒光檢測器、蒸發(fā)光檢測器、質(zhì)譜檢測器等。搭配質(zhì)譜檢測器的這類成為LCMS。兩者本身的重點(diǎn)就有所偏重。前面幾種檢測器,在判定物質(zhì)時(shí),更依賴于標(biāo)品定性,一般是默認(rèn)一個(gè)峰為一個(gè)物質(zhì),因此對(duì)分峰要求較為嚴(yán)格;而LCMS由于其質(zhì)譜檢測器的靈敏性,重點(diǎn)在于碎片的區(qū)分。即使LCMS上顯示是一個(gè)峰,也可以根據(jù)質(zhì)譜數(shù)據(jù)判定前半個(gè)峰、后半個(gè)峰、甚至峰頂是否是同一個(gè)物質(zhì)。所以屬于兩種檢測手段,兩者數(shù)據(jù)不具有對(duì)比性。


?測試提示:


1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。

2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷,測試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化;

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細(xì)測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;

4.測試人員與顧客通過QQ,微信或郵件溝通,出現(xiàn)測試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。



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