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u項目簡介 可做項目:質(zhì)譜、面掃、深度剖析。 TOF-SIMS的數(shù)據(jù)的縱坐標是計數(shù),是強度,不同離子的產(chǎn)額不同,產(chǎn)額高的譜峰強,并不代表含量高,簡單說就是強度和含量沒有什么直接關(guān)系; u樣品要求 深度剖析一般是塊體樣品;粉末一般做質(zhì)譜或者面掃,液體,生物細胞等樣品可以冷凍干燥后測試,設(shè)備無法直接測試液體樣品。 u結(jié)果展示 1、質(zhì)譜+分析 質(zhì)譜測試:只給出校正后的圖片和TXT數(shù)據(jù)。 質(zhì)譜+數(shù)據(jù)處理:會給出校正后的圖片和所有的離子譜峰歸屬列表。 2、面掃+分析 導(dǎo)出客戶指定離子的 MAPPING, 所有離子統(tǒng)一用Thermal
3、深度剖析+數(shù)據(jù)分析 儀器型號1:TOF-SIMS 5 iontof--快遞交替模式--深度剖析 深度曲線-相對應(yīng)的3D圖
u結(jié)果展示 1. 質(zhì)譜測試正負離子模式是什么? TOF-SIMS是采用初級離子源(Bi源)入射樣品的表面激發(fā)出材料里的離子,通常給樣品加不同偏壓分別采集正離子或負離子,金屬離子主要在正離子模式產(chǎn)額比較高,而電負性元素如O\OH\F\Cl\S\N\Br等在負離子模式產(chǎn)額高,如果組分有金屬氧化物,比如NiO, 那一定會在正離子模式產(chǎn)生Ni原子離子,以及NixOy的分子離子,而負離子模式一定有O原子離子,同時也有NixOy的分子離子,當然在正離子模式下大多數(shù)情況 x>y, 負離子模式下x<y, 2. tof-sims可以看含量不??應(yīng)該怎么做?正常TOF-SIMS是看不了含量的,數(shù)據(jù)橫坐標是M/Z,縱坐標是強度/計數(shù)。理由如下:強度與含量是沒有直接關(guān)系的。首先,同種基材不同離子的產(chǎn)額不同,產(chǎn)額高的譜峰強度高,但并不代表含量高,也就是說譜峰強弱與含量沒有直接對應(yīng)關(guān)系,如果要定量必須選用與測試樣品基體效應(yīng)相同的標準樣品,得到靈敏度因子才可以定量!第二,同種離子在不同基體材料中的離子產(chǎn)額也不同,所以同一樣品不同離子譜峰強度與含量無關(guān),同種離子在不同材料中的譜峰強弱也與含量無關(guān),只有同種材料的不同樣品中的同種離子可以比較,譜峰強度高代表含量高。做深度濺射曲線可以看隨深度方向,分子片段的相對變化趨勢。 3. 測試的是同樣一個位置嗎?質(zhì)譜和mapping默認測試是同樣一個位置,深度剖析正負離子是不同位置。 u測試提示: 1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。 2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷,測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化; 3.客戶需提供詳細的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件; 4.測試人員與顧客通過QQ,微信或郵件溝通,出現(xiàn)測試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請加QQ和技術(shù)人員交流。QQ:82187958。微信:15071040697 5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責任。 |