同步輻射GISAXS，GIWAXS

設(shè)備型號(hào)

同步輻射光源

樣品準(zhǔn)備須知?。?！

此鏈接同步輻射GISAXSGIWAXS，機(jī)時(shí)有限，請(qǐng)聯(lián)系項(xiàng)目老師后再預(yù)約！謝謝

因光源測試偶會(huì)出現(xiàn)掉光、設(shè)備故障等無法避免問題，可能會(huì)延長測試時(shí)間，望理解！

同步輻射光測試不同于其他測試，請(qǐng)下單前確保已經(jīng)和您的導(dǎo)師或者老板已經(jīng)溝通好，一旦下單除特殊非人力情況概不退單的哦，望理解。

樣品測試填寫要求注意事項(xiàng)

1.樣品數(shù)量：填寫需要測試樣品的數(shù)量

2.樣品編號(hào)(名稱)：請(qǐng)輸入該組樣品編號(hào)，以逗號(hào)分隔，例如1,2,3

3. 樣品信息：

*請(qǐng)?jiān)敿?xì)寫出樣品材料真實(shí)信息。

測試項(xiàng)目：GISAXS/GIWAXS

只提供原始數(shù)據(jù).mars3450

所需散射矢量范圍

GIXS可以測試的散射矢量范圍為：7nm-1到40nm-1，能量采用12Kev。

請(qǐng)上傳您需要的參考數(shù)據(jù)圖：

同步輻射GIWAXS/GISAXS

項(xiàng)目簡介

GISAXS/GIWAXS常用于分析薄膜、電池等材料的分子取向和晶體取向，是研究精細(xì)結(jié)構(gòu)和分子堆積的重要方法。

樣品要求

直徑1cm，基底最好為硬質(zhì)無機(jī)基片，薄膜分布均勻。

結(jié)果展示

原始dat數(shù)據(jù)及下圖：

常見問題

1. 為什么要測同步輻射GIXS（GISAXS/GIWAXS）

首先，材料生長在薄膜上，在薄膜上是有取向的，只能用掠入來測量；其次，材料不足，也不夠厚；最后，利用同步輻射光可以明顯提高灰度/強(qiáng)度，相比普通X射線，能更清晰地觀察到取向性。

?測試提示：

1.可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；

4.測試人員與顧客通過QQ，微信或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流。QQ：82187958。微信：15071040697

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。