儀器名稱： | 原子力顯微鏡（AFM） | 型號： | 日本精工SPA400 布魯克Dimension Edge |
檢測項目： | 高度圖 相圖 表面粗糙度 三維立體圖 其他 |
設備性能： | AFM分辨率：橫向分辨率：0.2 nm（XY方向） 掃描范圍：XYZ 標準掃描器：30 μm×30 μm×5 μm 深域掃描器：55 μm×55 μm×13 μm 狹域掃描器：2.5 μm×2.5 μm×0.3 μm 掃描器控制精度：XY軸控制：16位精度；Z軸控制：26位精度 Z軸趨近方式：自動趨近 Z軸最大可趨近范圍：10 mm 最大樣品尺寸：φ24 mm×8 mm 溫度控制范圍：室溫至300 ℃ |
應用范圍： | 廣泛地應用于表面分析的各個領域,通過對表面形貌的分析、歸納、總結(jié),以獲得更深層次的信息。它可以用于研究金屬、半導體和非金屬類材料的表面形貌、表面重構(gòu)、摩擦力，獲得相界、分形結(jié)構(gòu)和橫向力等信息的空間三維圖像。 |
制樣要求： | 粉末樣10mg，塊狀、薄膜樣品最大1×1cm，厚度最厚0.5cm，液體樣品5ml 樣品上下表面整潔，沒有油漬灰塵等污染物 儀器最大掃描范圍15×15×3um 若是納米顆粒樣品，先用一定的分散劑超聲分散后，取一滴在云母等很平整的基底上，干燥后測試。若沒有云母片，請在測試前到本實驗室來取。 如果樣品表面有無機鹽，先用水等清除鹽分后來測試，因為鹽分結(jié)晶影響形貌的掃描。 如果是要測試薄膜厚度，預先把薄膜和基底作出一個邊界清楚的臺階。 |
PS：送樣請附帶“委托測試單”。AFM測試單模板（附件）
測試提示：
1.可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷，測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化；
3.客戶需提供詳細的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；
4.測試人員與顧客通過QQ或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請加QQ和技術人員交流：82187958。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責任。
