掃描電鏡主要用于觀察哪些方面？

掃描電子顯微鏡（SEM）是利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)。掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。

　　從原理上講，掃描電鏡是利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。掃描電鏡通過對(duì)這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測(cè)試試樣表面形貌的觀察。

                                                                   (磁性樣品掃描電鏡SEM樣片)

　　掃描電鏡可以直接觀察觀察納米材料，進(jìn)行材料斷口的分析，直接觀察原始表面等。