哪里可以測試AFM（原子力顯微鏡）

哪里可以測試AFM（原子力顯微鏡）

儀器名稱：

原子力顯微鏡?　

簡稱：AFM測試

儀器型號：

布魯克Dimension Edge

檢測項目：

a. 粉末，溶液，塊狀樣品的表面形貌，厚度，粗糙度測試

b. 生物/纖維樣品的表面形貌

c. 相圖

d.   PFM（壓電力顯微鏡）, EFM（電場力顯微鏡）, KPFM（表面電勢，Kelvin探針）, MFM（磁力顯微鏡）, CAFM（導電原子力顯微鏡），QNM（彈性模量），力曲線等特殊模式。

應用范圍：

廣泛地應用于表面分析的各個領域,通過對表面形貌的分析、歸納、總結,以獲得更深層次的信息。它可以用于研究金屬、半導體和非金屬類材料的表面形貌、表面重構、摩擦力，獲得相界、分形結構和橫向力等信息的空間三維圖像。

制樣要求：

1. 樣品狀態(tài)：可為粉末、塊體、薄膜樣品；

2. 粉末樣品：顆粒一般不超過1微米，提供20mg，若尺寸過大請?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理；

3. 粉末/液體樣品請備注好制樣條件，包括分散液，超聲時間及配制濃度；

4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過1um，一定要標明測試面！若尺寸過大請?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理

5. 測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上，基底大小最小不小于1*1cm。其他問題請咨詢客戶經(jīng)理。

備注：

PS：送樣請附帶“委托測試單”。

測試提示：

1.可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷，測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶需提供詳細的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；

4.測試人員與顧客通過QQ或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請加QQ和技術人員交流：82187958。

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責任。

常見問題及回答：

為什么AFM測試樣品顆?；蛘弑砻娲植诙炔荒苓^大？

因為尺寸過大，會碰到儀器探針針尖，針尖易磨鈍以及受污染，且磨損無法修復，污染則清洗困難 。

AFM拍攝不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度與自己預期不符合？

AFM拍攝也需要不斷尋找合適的位置拍攝，同一樣品不同拍攝部位表面形貌和粗糙度極有可能不一致，因為原子力顯微鏡成像范圍較小，與拍攝樣品表面是否均勻息息相關；

原子力顯微鏡：

測試原始文件格式FLT格式或MDT格式可分別用Nanoscope analysis 和Nova 1138軟件打開。

以上是關于A?FM測試的相關介紹，其他問題和特殊測試要求可咨詢溝通。