掃描電鏡SEM在焊接領(lǐng)域中的應(yīng)用 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-09-07 08:18作者:鑠思百檢測(cè)來(lái)源:鑠思百檢測(cè) 在焊接領(lǐng)域中,為了實(shí)現(xiàn)焊接工藝優(yōu)化、焊件質(zhì)量把控等工作,通常會(huì)使用掃描電鏡(SEM)介入研發(fā)。焊接工藝參數(shù)如功率、起弧時(shí)間、工作距離、送絲速度、保護(hù)氣流速等參數(shù)的變化會(huì)直接對(duì)焊件質(zhì)量產(chǎn)生影響,因此,使用掃描電鏡(SEM)對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察,對(duì)焊接工藝參數(shù)的及時(shí)調(diào)整和工藝改進(jìn)過(guò)程將大有幫助。通常,鑠思百檢測(cè)掃描電鏡(SEM)可以幫助焊接領(lǐng)域研究人員實(shí)現(xiàn)以下功能。 一、焊接接頭觀測(cè)1.1 接頭微觀形貌觀察 通過(guò)觀察焊接接頭的微觀形貌可以提取出很多有用的信息,比如熱輸入量是否合適,若焊接過(guò)程中熱輸入量過(guò)大,則容易造成母材晶粒的異常長(zhǎng)大甚至過(guò)燒,從而導(dǎo)致焊件力學(xué)性能大幅度下降;若熱輸入量較小,會(huì)帶來(lái)焊不透等其他焊接缺陷。圖 1 為 304 不銹鋼焊縫熔化區(qū)(WZ)-母材(304 Zone)的邊界形貌在掃描電鏡(SEM)下的圖像,HAZ 為焊接熱影響區(qū)。 圖1:焊接接頭在掃描電鏡(SEM)下的微觀形貌 對(duì)微觀形貌的觀察還可以進(jìn)一步拓展,例如工藝摸索實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,可以通過(guò)沿焊接方向每隔固定距離取樣的方式,觀察沿焊接方向的微觀形貌變化,以確定在焊接全過(guò)程中的焊縫質(zhì)量穩(wěn)定性和可靠性,從而進(jìn)一步對(duì)長(zhǎng)程焊接過(guò)程的焊縫質(zhì)量進(jìn)行考量和評(píng)判。 1.2 焊縫區(qū)域的元素分析檢測(cè) 對(duì)于焊縫區(qū)域,除了觀測(cè)微觀形貌以外,掃描電鏡SEM能譜一體機(jī) Phenom ProX 還可以實(shí)現(xiàn)焊縫內(nèi)的元素識(shí)別和含量的確定。圖2為 7XXX 系鋁合金焊縫熔化區(qū)中共晶相的元素分析。 圖2:7xxx系鋁合金焊接熔化區(qū)中元素分布EDS分析 除此之外,EDS 分析還可以應(yīng)用在焊接領(lǐng)域的以下方面: (1)通過(guò)對(duì)焊縫區(qū)域中 O 元素含量的檢測(cè),可以判斷保護(hù)氣體的通入量是否合適,若保護(hù)氣通入不足,則高溫下會(huì)增加空氣中的氧氣與熔化金屬的接觸時(shí)間,在元素分析上的反映就是氧含量異常高。 (2)使用 EDS 對(duì)熱影響區(qū)中的成分熱偏析進(jìn)行分析,也可以作為評(píng)定熱輸入量的一種輔助手段。 二、焊接缺陷的觀測(cè)焊接過(guò)程中的焊接缺陷直接影響最終產(chǎn)品的性能和使用壽命。通過(guò)掃描電鏡(SEM)可以非常輕松地觀察到一些微小的焊接缺陷,如氣孔、夾雜、焊接熱應(yīng)力下產(chǎn)生的冷熱裂紋等,從而實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量的把控,下面就列舉一些常見焊接缺陷的顯微圖像。 2.1 氣孔 焊接氣孔指焊接時(shí),熔池中的氣體未在金屬凝固前逸出,殘存于焊縫之中所形成的空穴。其氣體可能是熔池從外界吸收的,也可能是焊接冶金過(guò)程中反應(yīng)生成的。這些氣孔的存在可能會(huì)在焊件受力時(shí)作為應(yīng)力集中點(diǎn),引發(fā)焊件開裂或失效。圖 3 為使用掃描電鏡(SEM)對(duì)一些焊件剖面(未侵蝕)存在的氣孔觀測(cè)結(jié)果。 圖3:焊件點(diǎn)缺陷——?dú)饪?SEM 觀察結(jié)果 2.2 焊接裂紋 焊接裂紋也是焊接過(guò)程中的一種常見缺陷,這種缺陷多發(fā)生在熔池凝固末期,一般是由于低溫共晶液相在焊接熱應(yīng)力的作用下產(chǎn)生了微小撕裂。焊接裂紋的大小一般比氣孔小,普通的光學(xué)顯微鏡甚至很難發(fā)現(xiàn)焊接裂紋。因此,使用掃描電鏡對(duì)焊接裂紋進(jìn)行觀測(cè)是觀察這種缺陷的唯一方法。圖 4 為使用掃描電鏡(SEM)對(duì)焊件表面(未打磨)裂紋的觀測(cè)結(jié)果。 圖4:掃描電鏡(SEM)對(duì)焊接裂紋的觀測(cè)結(jié)果(焊件未經(jīng)打磨的表面裂紋) 圖5為使用掃描電鏡對(duì)焊件內(nèi)部的焊接裂紋進(jìn)行觀測(cè)的圖像,從該圖中,裂紋沿著低溫共晶相(白色條帶)開裂的路徑清晰可見。 圖5:掃描電鏡(SEM)對(duì)焊接裂紋開裂路徑的觀測(cè)結(jié)果(焊件剖面) 鑠思百檢測(cè)動(dòng)態(tài) 電鏡檢測(cè),電鏡制樣,光譜檢測(cè),熱譜檢測(cè),核磁順磁波普測(cè)試,質(zhì)譜檢測(cè),色譜檢測(cè),表介面物性分析,其他測(cè)試等等 更多測(cè)試請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服
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