樣品制備研磨和拋光簡介

機(jī)械制備:

機(jī)械預(yù)備是制備用于顯微鏡檢查的材相學(xué)樣品最常用的方法。制備表面的具體要求視特定的分析或檢查類型而定。制備的樣品可達(dá)到完美光潔度、真實(shí)結(jié)構(gòu)，或當(dāng)表面達(dá)到特定檢查的要求之后，可停止制備。

制備的目標(biāo)：機(jī)械樣品制備的基本過程是使用精細(xì)研磨顆粒精整地加工材料，去除表面上的材料，以達(dá)到所需的結(jié)果。

去除材料的方法有三種：研磨、拋光和精研。這三種方法在引入樣品表面變形度方面有所差異。

必須保留所有結(jié)構(gòu)元素

表面不得出現(xiàn)劃痕、變形現(xiàn)象

不可在樣品表面引入雜質(zhì)

樣品必須為平面，且具備高反射性

應(yīng)獲得最優(yōu)樣品單價(jià)

所有制備必須可 100% 再現(xiàn)