X射線光電子能譜(XPS) 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-09-16 09:08作者:鑠思百檢測來源:鑠思百檢測 什么是X射線光電子能譜(XPS)?隨著對高性能材料需求的不斷增長,表面工程也顯得越來越重要。材料的表面是材料與外部環(huán)境以及與其它材料相互作用的位置,因此只有了解材料層表面處或界面處的物理和化學(xué)相互作用,才能解決許多與現(xiàn)代材料相關(guān)的問題。表面將影響材料的諸多方面,如腐蝕速率、催化活性、粘合性、表面潤濕性、接觸勢壘和失效機(jī)理。 表面改性可改變或改進(jìn)材料性能和特性,因此需要使用表面分析來了解材料的表面化學(xué)和研究表面工程的效果。從不粘鍋涂層到薄膜電子學(xué)和生物活性表面,X射線光電子能譜(XPS)成為表面材料表征的標(biāo)準(zhǔn)工具之一。
X射線光電子能譜(XPS),也被稱為化學(xué)分析電子能譜 (ESCA),是分析材料表面化學(xué)性質(zhì)的一項(xiàng)技術(shù)。X射線光電子能譜(XPS)可測量材料中元素組成、經(jīng)驗(yàn)公式、元素化學(xué)價(jià)態(tài)和電子態(tài)。用一束X射線激發(fā)固體表面,同時(shí)測量被分析材料表面1-10nm內(nèi)發(fā)射出電子的動(dòng)能,而得到XPS譜。通過對激發(fā)出的超過一定動(dòng)能的電子進(jìn)行計(jì)數(shù),可以得到光電子譜。光電子譜中出現(xiàn)的譜峰為原子中發(fā)射的一定特征能量電子。光電子譜峰的能量和強(qiáng)度可用于定性和定量分析所有表面元素(氫元素除外)。 表面表征
表面層指不大于3個(gè)原子層厚度 (~1 nm)的薄層,根據(jù)不同材料,表面層厚度不同。不超過約10nm的薄層被稱為超薄膜,而不超過1μm的薄層為薄膜。剩下的固體則被稱為體相材料。但是名詞術(shù)語并沒有明確定義,隨不同材料和應(yīng)用,表面層、超薄膜和薄膜之間的差異有所變化。 表面表示一種相與另一種相之間的不連續(xù)性,所以表面的物理化學(xué)性質(zhì)與體相物質(zhì)不同。這種差異在很大程度上影響材料最頂部原子層。在材料內(nèi)部,一個(gè)原子在各方向上均被組成該材料的原子按一定規(guī)則包圍。由于表面原子并不能在所有方向上被原子包圍,表面原子比體內(nèi)原子活潑,有可能成鍵。 表面特性材料的性能和改性處理隨深度或厚度而變化,這一點(diǎn)對于特定性能和改性處理十分重要。表面分析能幫助理解下列這些領(lǐng)域:
在一些技術(shù)領(lǐng)域中,表面和表面分析較為重要,包括: 光電發(fā)射過程原子或分子在吸收X射線光子時(shí),會(huì)激發(fā)出電子。電子的動(dòng)能(KE)依賴于光子能量(hν)和電子的結(jié)合能(BE)(即電子離開表面所需能量)。
通過測量發(fā)射電子的動(dòng)能,可以確定材料近表面處的元素種類、元素化學(xué)態(tài)以及電子的結(jié)合能。結(jié)合能與許多因素有關(guān),包括:
由于光電子發(fā)射截面不依賴于原子化學(xué)環(huán)境,因此X射線光電子能譜(XPS)為一種定量分析技術(shù)。 光電子能譜技術(shù)
為了說明X射線光電子能譜(XPS)譜,在寬能量范圍內(nèi)掃描了一張氧化鋇的全譜。在這張譜上有多個(gè)鋇和氧的峰以及一個(gè)表面雜質(zhì)的碳峰。使用現(xiàn)代X射線光電子能譜(XPS)能譜儀,需要約 10 秒鐘來采集這張氧化鋇的譜。由于氧化鋇為絕緣體,在分析期間,在樣品上導(dǎo)入一束低能電子控制樣品荷電。在譜圖中,譜峰下方出現(xiàn)了明顯的背景,這是由于電子在逃逸樣品前發(fā)生非彈性散射所致。這種非彈性散射降低了電子的動(dòng)能和譜峰的強(qiáng)度。定量分析譜之前必須扣除背景。
從X射線光電子能譜(XPS)譜中也可以確定化學(xué)態(tài)。此處給出兩種方法處理聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)的C1s XPS譜。這兩個(gè)樣品的處理方法不同,一個(gè)是旋涂,另一個(gè)是切片PET。PET中的碳原子有3種化學(xué)態(tài),這通過X射線光電子能譜(XPS)譜中的3個(gè)峰顯示了出來。兩種處理方法導(dǎo)致了不同的聚合物構(gòu)形,也影響了XPS譜,使得(-O-C-)峰發(fā)生了微小移動(dòng)。 以上是關(guān)于X射線光電子能譜(XPS)的相關(guān)介紹,更多測試需求請聯(lián)系鑠思百檢測工程師。 |