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DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

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X射線光電子能譜(XPS)

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發(fā)表時(shí)間:2020-09-16 09:08作者:鑠思百檢測來源:鑠思百檢測

什么是X射線光電子能譜(XPS)?

隨著對高性能材料需求的不斷增長,表面工程也顯得越來越重要。材料的表面是材料與外部環(huán)境以及與其它材料相互作用的位置,因此只有了解材料層表面處或界面處的物理和化學(xué)相互作用,才能解決許多與現(xiàn)代材料相關(guān)的問題。表面將影響材料的諸多方面,如腐蝕速率、催化活性、粘合性、表面潤濕性、接觸勢壘和失效機(jī)理。

表面改性可改變或改進(jìn)材料性能和特性,因此需要使用表面分析來了解材料的表面化學(xué)和研究表面工程的效果。從不粘鍋涂層到薄膜電子學(xué)和生物活性表面,X射線光電子能譜(XPS)成為表面材料表征的標(biāo)準(zhǔn)工具之一。

X射線光電子能譜(XPS)

X射線光電子能譜(XPS),也被稱為化學(xué)分析電子能譜 (ESCA),是分析材料表面化學(xué)性質(zhì)的一項(xiàng)技術(shù)。X射線光電子能譜(XPS)可測量材料中元素組成、經(jīng)驗(yàn)公式、元素化學(xué)價(jià)態(tài)和電子態(tài)。用一束X射線激發(fā)固體表面,同時(shí)測量被分析材料表面1-10nm內(nèi)發(fā)射出電子的動(dòng)能,而得到XPS譜。通過對激發(fā)出的超過一定動(dòng)能的電子進(jìn)行計(jì)數(shù),可以得到光電子譜。光電子譜中出現(xiàn)的譜峰為原子中發(fā)射的一定特征能量電子。光電子譜峰的能量和強(qiáng)度可用于定性和定量分析所有表面元素(氫元素除外)。

表面表征

X射線光電子能譜(XPS)

表面層指不大于3個(gè)原子層厚度 (~1 nm)的薄層,根據(jù)不同材料,表面層厚度不同。不超過約10nm的薄層被稱為超薄膜,而不超過1μm的薄層為薄膜。剩下的固體則被稱為體相材料。但是名詞術(shù)語并沒有明確定義,隨不同材料和應(yīng)用,表面層、超薄膜和薄膜之間的差異有所變化。

表面表示一種相與另一種相之間的不連續(xù)性,所以表面的物理化學(xué)性質(zhì)與體相物質(zhì)不同。這種差異在很大程度上影響材料最頂部原子層。在材料內(nèi)部,一個(gè)原子在各方向上均被組成該材料的原子按一定規(guī)則包圍。由于表面原子并不能在所有方向上被原子包圍,表面原子比體內(nèi)原子活潑,有可能成鍵。

表面特性

材料的性能和改性處理隨深度或厚度而變化,這一點(diǎn)對于特定性能和改性處理十分重要。表面分析能幫助理解下列這些領(lǐng)域:

  • 半導(dǎo)體、微電子學(xué)

  • 微電路

  • 超薄膜

  • 線路板軟焊

  • 清潔處理

  • 薄膜穩(wěn)定

  • 鈍化層

  • 潤滑

  • 化工

  • 塑料、涂層

  • 催化劑

  • 纖維

  • 金屬、鋼鐵工業(yè)

  • 氮化、碳化

  • 腐蝕

  • 焊接

  • 材料老化

  • 晶界分凝

  • 玻璃

  • 涂層

  • 發(fā)動(dòng)機(jī)、航空電子設(shè)備

  • 潤滑

  • 腐蝕

  • 氧化

  • 材料老化、失效

  • 合成纖維

  • 粘合劑

X射線光電子能譜(XPS)

在一些技術(shù)領(lǐng)域中,表面和表面分析較為重要,包括:

光電發(fā)射過程

原子或分子在吸收X射線光子時(shí),會(huì)激發(fā)出電子。電子的動(dòng)能(KE)依賴于光子能量(hν)和電子的結(jié)合能(BE)(即電子離開表面所需能量)。

X射線光電子能譜(XPS)
XPS 表面分析中的光電發(fā)射過程。 圓點(diǎn)代表電子,實(shí)線代表被分析材料中的能級。 該過程的表達(dá)式為: KE = hν - BE

通過測量發(fā)射電子的動(dòng)能,可以確定材料近表面處的元素種類、元素化學(xué)態(tài)以及電子的結(jié)合能。結(jié)合能與許多因素有關(guān),包括:

  • 發(fā)射電子的元素。

  • 發(fā)射電子的軌道。

  • 發(fā)射電子原子的化學(xué)環(huán)境。

由于光電子發(fā)射截面不依賴于原子化學(xué)環(huán)境,因此X射線光電子能譜(XPS)為一種定量分析技術(shù)。

光電子能譜技術(shù)

X射線光電子能譜(XPS)
氧化鋇全譜,圖中出現(xiàn)了鋇和氧的多個(gè)峰以及一個(gè)碳峰

為了說明X射線光電子能譜(XPS)譜,在寬能量范圍內(nèi)掃描了一張氧化鋇的全譜。在這張譜上有多個(gè)鋇和氧的峰以及一個(gè)表面雜質(zhì)的碳峰。使用現(xiàn)代X射線光電子能譜(XPS)能譜儀,需要約 10 秒鐘來采集這張氧化鋇的譜。由于氧化鋇為絕緣體,在分析期間,在樣品上導(dǎo)入一束低能電子控制樣品荷電。在譜圖中,譜峰下方出現(xiàn)了明顯的背景,這是由于電子在逃逸樣品前發(fā)生非彈性散射所致。這種非彈性散射降低了電子的動(dòng)能和譜峰的強(qiáng)度。定量分析譜之前必須扣除背景。

X射線光電子能譜(XPS)
聚對苯二甲酸乙二醇酯 (PET) 旋涂和切片的 C 1s XPS 譜。 碳有 3 個(gè)不同的化學(xué)態(tài)。 內(nèi)插圖中給出了 PET 結(jié)構(gòu)。 (譜圖由英國 Daresbury RUSTI 的 G Beamson 博士提供)。

X射線光電子能譜(XPS)譜中也可以確定化學(xué)態(tài)。此處給出兩種方法處理聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)的C1s XPS譜。這兩個(gè)樣品的處理方法不同,一個(gè)是旋涂,另一個(gè)是切片PET。PET中的碳原子有3種化學(xué)態(tài),這通過X射線光電子能譜(XPS)譜中的3個(gè)峰顯示了出來。兩種處理方法導(dǎo)致了不同的聚合物構(gòu)形,也影響了XPS譜,使得(-O-C-)峰發(fā)生了微小移動(dòng)。





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