鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹(shù)脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見(jiàn)反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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透射電子顯微鏡操作

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-09-17 10:52作者:鑠思百檢測(cè)來(lái)源:鑠思百檢測(cè)

透射電子顯微鏡操作


  透射電子顯微鏡,是一種綜合性大型分析儀器,在現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的研究開(kāi)發(fā)工作中被廣泛地使用。透射電子顯微鏡工作原理是以電子束透過(guò)樣品經(jīng)過(guò)聚焦與放大后所產(chǎn)生的物像,投射到熒光屏上或照相底片上進(jìn)行觀察。

20200917

  一、登陸計(jì)算機(jī)

  計(jì)算機(jī)平時(shí)一直處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)。以用戶名和密碼登陸電鏡計(jì)算機(jī)。

  二、打開(kāi)操作軟件

  需要打開(kāi)下列軟件:①主程序,通常已經(jīng)啟動(dòng)。②拍攝軟件,進(jìn)行形貌觀測(cè)時(shí)必須打開(kāi)此軟件。

  三、檢查透射電子顯微鏡狀態(tài)

  若發(fā)現(xiàn)透射電子顯微鏡真空或高壓等狀態(tài)異常,應(yīng)停止使用,在正常工作時(shí)間內(nèi)應(yīng)立即聯(lián)系技術(shù)員處理。

  四、裝液氮

 ?、賹⑼队笆乙暣坝脫醢鍝踝?。

 ?、诖魃鲜痔?,將液氮小心地倒入杜瓦瓶中(不要裝滿),慢慢將銅辮伸入杜瓦瓶中,并將杜瓦瓶安置在支架上。

 ?、蹖⑵恐械囊旱b滿,并蓋上蓋子。

 ?、芡茏V罐中加滿液氮。


  注意事項(xiàng):

 ?、俨僮髑皯?yīng)將投影室視窗用擋板擋住,以確保液氮不會(huì)濺落到上面。如果液氮濺落到視窗上,可能引起玻璃破裂,將會(huì)對(duì)實(shí)驗(yàn)者造成巨大的危害。

  ②操作中,杜瓦瓶中的液氮遇熱沸騰,所以剛開(kāi)始液氮不要裝得太滿,以免液氮濺出傷人。

 ?、蹜?yīng)確保杜瓦瓶中有足夠的液氮,因此每隔3-4個(gè)小時(shí)應(yīng)該加滿液氮一次。


  五、裝載樣品

 ?、龠x擇樣品桿,取下前端套筒。

 ?、跈z查樣品桿以及夾具是清潔干燥的。保持一只手頂在樣品桿的末端,確保它不會(huì)移出套管。

 ?、蹖?套管支持架上其中一個(gè)孔中的)工具插入到夾子前面的孔中,然后提起夾子到最大可能的角度。

 ?、軐⒋郎y(cè)樣品轉(zhuǎn)入樣品桿,樣品正面需朝下。

  ⑤用工具把夾子小心地降到樣品之上,并確保樣品保持在正確位置。樣品安全夾子必須小心地放低,否則,樣品和夾子會(huì)被損傷。

  ⑥將透射電子顯微鏡樣品桿旋轉(zhuǎn)180°,輕敲套管,確保樣品不會(huì)掉落。


  六、插入樣品桿

 ?、偎侥贸謽悠窏U末端,使樣品桿上的定位銷對(duì)準(zhǔn)樣品臺(tái)上的狹縫(大約5點(diǎn)鐘位置),慢慢插入樣品桿直到不能繼續(xù)插入為止(此過(guò)程中注意保持樣品桿與樣品臺(tái)盡量同軸)。

  ②這時(shí)透射電子顯微鏡樣品臺(tái)上的紅燈亮,機(jī)械泵開(kāi)始預(yù)抽樣品室氣鎖處的真空。若是雙傾桿,則在軟件中需要選擇合適的樣品桿類型并確認(rèn),然后連接B方向傾轉(zhuǎn)控制電纜并確認(rèn)。

 ?、鄞蠹s3分鐘以后,透射電子顯微鏡樣品臺(tái)上的紅燈熄滅,逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)樣品桿直到不能繼續(xù)旋轉(zhuǎn)為止,然后必須握緊樣品桿末端(此時(shí)真空對(duì)樣品有較強(qiáng)的吸力作用),使樣品桿在真空吸力作用下慢慢滑入透射電子顯微鏡。插入樣品桿以后,要等鏡筒部分的真空(Column)數(shù)值降到20以下才能開(kāi)始操作。


  七、加燈絲電流

  待鏡筒部分真空(Column)數(shù)值降到20以下,點(diǎn)擊Filament指示條,此時(shí)燈絲會(huì)自動(dòng)加到預(yù)設(shè)的狀態(tài),F(xiàn)ilament指示條變?yōu)辄S色。注意記錄加燈絲前后Emission等數(shù)值。


  八、透射電子顯微鏡操作方法

  1、合軸操作

  照明系統(tǒng)合軸:

  ①找亮:當(dāng)打開(kāi)燈絲,并且燈絲電流發(fā)射之后,應(yīng)該在熒光屏上找到電子束,若打開(kāi)燈絲后沒(méi)有發(fā)現(xiàn)電子束,進(jìn)行以下操作:將放大倍數(shù)降低到10K左右,移動(dòng)軌跡球,撤除所有光闌。

 ?、跓艚z像調(diào)節(jié):放大倍數(shù)為×40K,將光斑用beam shift移動(dòng)到屏幕中心,慢慢降低燈絲電流,并且用BRIGHTNESS旋鈕將光斑聚到最小,隨著燈絲電流下降,可以觀察到燈絲像出現(xiàn)。

  ③1、5合軸:將束斑調(diào)到SPOTSIZE 5,用beam shift將束斑移動(dòng)至屏幕中間,切換至SPOTSIZE 1,用gun shift將偏移的束斑移動(dòng)至屏幕中間,重復(fù)此過(guò)程直到當(dāng)切換SPOTSIZE1到5時(shí)束斑基本上不發(fā)生偏移即可。

 ?、芫酃忡R消象散:透射電子顯微鏡觀察各個(gè)束斑形狀,如果發(fā)現(xiàn)束斑形狀橢圓,則用CONDSTIG鍵將束斑調(diào)圓即可。

 ?、菁泳酃忡R光闌:聚光鏡光闌紅點(diǎn)位置表示退出,其余的點(diǎn)的大小表示當(dāng)前所加入的光闌孔大小,順時(shí)針加入光闌至合適的孔徑,一般用1號(hào)或2號(hào)光闌孔,加完后用beamshift將光斑移動(dòng)至屏幕中心,這時(shí)順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)BRIGHTNESS將光斑放大到與屏幕同大,若光闌沒(méi)有加正,則光斑不是均勻覆蓋屏幕,即光斑補(bǔ)隨BRIGHTNESS同心放大,此時(shí)調(diào)節(jié)光闌前端和右側(cè)的兩個(gè)旋鈕使光斑圓心與屏幕同心即可。

 ?、迾悠犯叨日{(diào)節(jié):找一處樣品,按下IMAGE WOBBLE X或Y,觀察透射電子顯微鏡圖像震動(dòng),調(diào)節(jié)Z鍵直至將圖像震動(dòng)幅度最小即可。

  成像系統(tǒng)合軸:

  ①電壓中心調(diào)節(jié):找一樣品處,將移動(dòng)到屏幕中間黑點(diǎn)處。按下HTWOBBLE讓樣品振顫,用BRIGHT TILT調(diào)節(jié)樣品在振顫時(shí)不偏離屏幕中間黑點(diǎn),即樣品同心收縮即可。

 ?、诩?xì)聚焦:調(diào)節(jié)OBJ FOCUS按鈕,使透射電子顯微鏡要觀察的樣品調(diào)至正交處,可通過(guò)欠交,正交,過(guò)交現(xiàn)象來(lái)確認(rèn)正交。找一處孔的邊界,在欠交下,孔邊緣會(huì)出現(xiàn)亮邊,而在過(guò)交下,孔的邊緣會(huì)出現(xiàn)黑邊,介于欠、過(guò)交之間,無(wú)黑、亮邊時(shí)就是正交處。

  ③物鏡消象散:物鏡象散的消法是在X300K以上找一處微柵,邊緣有非晶顆粒,不斷變化欠交和過(guò)交位置,觀察非晶顆粒形狀有無(wú)方向性拉伸,若有拉伸則說(shuō)明有物鏡象散,用OLSTIG調(diào)節(jié)至無(wú)方向拉伸即可。

  2、插拔樣品桿

  插入樣品桿時(shí),先將桿插入樣品室,手微微向里頂住,將開(kāi)關(guān)撥至PUMP狀態(tài),然后等待樣品室皮拉尼軌抽到30以下(綠燈亮了就可以了),然后順時(shí)針轉(zhuǎn)動(dòng)樣品桿一個(gè)小角度,此時(shí)樣品桿會(huì)到diyi個(gè)轉(zhuǎn)換點(diǎn),并被負(fù)壓吸入樣品室一小截,然后再次轉(zhuǎn)動(dòng)樣品桿至轉(zhuǎn)不動(dòng)為止,再慢慢將樣品桿完全送入透射電子顯微鏡樣品室。

  拔樣品桿前注意先將樣品室位置歸零,勻速拔除樣品桿至拔不動(dòng)為止,逆時(shí)針轉(zhuǎn)至轉(zhuǎn)不動(dòng),再拔一小段距離,再轉(zhuǎn)回起始位置,將開(kāi)關(guān)撥至AIR220以上,即可將桿拔出。


  九、取出樣品桿

 ?、偈紫葘悠放_(tái)回零,等樣品臺(tái)上的紅燈熄滅;

 ?、谑治諛悠窏U的末端,把樣品桿盡可能的拔出;

 ?、垌槙r(shí)針旋轉(zhuǎn)樣品桿直到不能繼續(xù)旋轉(zhuǎn)為止;

 ?、鼙3炙降匕褬悠窏U拔出,如是雙傾桿,則需先拔掉電纜插頭。


  十、卸載樣品

 ?、賹悠窂臉悠窏U上取下來(lái),所有工具在使用后需及時(shí)放回原位。

②如果是當(dāng)天Z后一名操作者,需要把沒(méi)有裝載樣品的樣品桿(單雙傾都可)重新裝入透射電子顯微鏡。



目錄:

透射電子顯微鏡的發(fā)展

透射電子顯微鏡的種類

透射電子顯微鏡的用途

透射電子顯微鏡的原理

透射電子顯微鏡樣品制備

透射電子顯微鏡的操作

透射電子顯微鏡的應(yīng)用

透射電子顯微鏡的技術(shù)

透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)



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