鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹(shù)脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見(jiàn)反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類(lèi)原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類(lèi)Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類(lèi)型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
設(shè)為首頁(yè) | 收藏本站

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-12-02 09:44作者:鑠思百檢測(cè)來(lái)源:鑠思百檢測(cè)

01 什么是VSM?

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(Vibrating Sample Magnetometer, 簡(jiǎn)稱:VSM)測(cè)量材料磁性的重要手段之一,廣泛應(yīng)用于各種鐵磁、亞鐵磁、反鐵磁、順磁和抗磁材料的磁特性研究中,它包括對(duì)稀土永磁材料、鐵氧體材料、非晶和準(zhǔn)晶材料、超導(dǎo)材料、合金、化合物及生物蛋白質(zhì)的磁性研究等等。

VSM可用來(lái)檢測(cè)各類(lèi)物質(zhì)(材料)的內(nèi)稟磁特性,如化強(qiáng)度Ms(σs)、居里溫度Tf、矯頑力mHc、剩磁Mr等。而在預(yù)知樣品在測(cè)量方向的退磁因子N后,尚可間接得出其他的有關(guān)技術(shù)磁參量,如:Bs、BHc、(BH) max等;另可根據(jù)回線的特點(diǎn)而判斷被測(cè)樣品的磁屬性。

02 儀器結(jié)構(gòu)

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)主要由電磁鐵系統(tǒng)、樣品強(qiáng)迫振動(dòng)系統(tǒng)信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)組成。

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析


振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

VSM實(shí)體照片

03 檢測(cè)原理

當(dāng)振蕩器的功率輸出饋給振動(dòng)頭驅(qū)動(dòng)線圈時(shí),該振動(dòng)頭即可使固定在其驅(qū)動(dòng)線圈上的振動(dòng)桿以ω的頻率驅(qū)動(dòng)作等幅振動(dòng),從而帶動(dòng)處于磁化場(chǎng)H中的被測(cè)樣品作同樣的振動(dòng);這樣,被磁化了的樣品在空間所產(chǎn)生的偶極場(chǎng)將相對(duì)于不動(dòng)的檢測(cè)線圈作同樣振動(dòng),從而導(dǎo)致檢測(cè)線圈內(nèi)產(chǎn)生頻率為ω的感應(yīng)電壓;而振蕩器的電壓輸出則反饋給鎖相放大器作為參考信號(hào);將上述頻率為ω 的感應(yīng)電壓饋送到處于正常工作狀態(tài)的鎖相放大器后(所謂正常工作,即鎖相放大器的被測(cè)信號(hào)與其參考信號(hào)同頻率、同相位),經(jīng)放大及相位檢測(cè)而輸出一個(gè)正比于被測(cè)樣品總磁矩的直流電壓V J out,與此相對(duì)應(yīng)的有一個(gè)正比于磁化場(chǎng)H 的直流電壓V H out(即取樣電阻上的電壓或高斯計(jì)的輸出電壓),將此兩相互對(duì)應(yīng)的電壓圖示化,即可得到被測(cè)樣品的磁滯回線(或磁化曲線)。

如預(yù)知被測(cè)樣品的體積或質(zhì)量、密度等物理量即可得出被測(cè)樣品的諸多內(nèi)稟磁特性。如能知道樣品的退磁因子N ,則非但可由上述實(shí)測(cè)曲線求出物質(zhì)(材料)的磁感B和內(nèi)磁化場(chǎng)H i 的技術(shù)磁滯(磁化)曲線,而且可由此求出諸多技術(shù)磁參數(shù)如B r 、H c 、(BH) max 等。

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

為簡(jiǎn)單起見(jiàn),我們?nèi)∫粋€(gè)直角坐標(biāo)系,如圖上所示。并假定樣品S位于原點(diǎn)且沿z 向作簡(jiǎn)諧振動(dòng), a=a 0 cosωt, a 0 為振幅、 ω 為振動(dòng)頻率。磁化場(chǎng) H 沿向施加,并假設(shè)在距 s 為 r 遠(yuǎn)處放置一個(gè)圈數(shù)為 N 其軸為 z 向的檢測(cè)線圈,其第 n 圈的截面積為 S n (注意: S n ≠S m 、即任意兩圈的截面積是不等的)。如果樣品 S 的幾何尺度較 r 而言非常之小,即從檢測(cè)線圈所在的空間看樣品 S ,可將其視為磁偶極子,此時(shí),據(jù)偶極場(chǎng)公式:

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

并注意到矢量 J 僅有 x 分量,可得到穿過(guò)面積元 ds n 的磁通量為

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

其中:為真空導(dǎo)磁率, J=Mv 是樣品總磁矩( M 和 v 分別為樣品的磁化強(qiáng)度和體積)。因此,第 n 匝內(nèi)總的磁通量 φ n 為

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

整個(gè)線圈的總磁通量即為

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

其中 x n 和 z n 為線圈第 n 圈的坐標(biāo)?,F(xiàn)作一個(gè)變換,令樣品不動(dòng)而線圈以 Z(t)=Z(0)+acost 振動(dòng)。亦即 Z n (t)=Z n (0)+a 0 cost 為第 n 圈坐標(biāo)與時(shí)間關(guān)系。

據(jù)電磁感應(yīng)定律,考慮到 x、y 均不為時(shí)間 t 的函數(shù),故 r 中僅考慮 z 向的時(shí)間變化關(guān)系,因此可得在 整個(gè)檢測(cè)線圈內(nèi)的感應(yīng)電壓 e 為:

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

設(shè):樣品的振幅和振動(dòng)頻率均固定不變。由上式可發(fā)現(xiàn):①線圈中的電壓,不可能計(jì)算得到;②其電壓大小與被測(cè)樣品的總磁矩 J ,振動(dòng)幅度 a 及振動(dòng)頻率 ω 成正比。

在實(shí)驗(yàn)上,我們不需要去計(jì)算 K 值,而是采取“替換法 ,從實(shí)驗(yàn)上求出 K 值,之后 利用求得的 K 值反過(guò)來(lái)計(jì)算出被測(cè)樣品的磁矩,這就叫“定標(biāo)”。

實(shí)際上用一個(gè)已知磁矩為 J 0 的標(biāo)準(zhǔn)樣品取代被測(cè)樣品,在與被測(cè)樣品相同測(cè)試條件下測(cè)得此時(shí)電壓幅值為 V 0 =KJ 0 ,則 1/K=J 0 /V 0 即可得到,如被測(cè)樣品的相應(yīng)電壓幅值為 V ,則被測(cè)樣品的總磁矩即為 J=1/K?V= V J 0 /V 0 。如:已知Ni標(biāo)樣的質(zhì)量磁矩為σ0,質(zhì)量為m0,其 J 0 =σ0 m0。用Ni標(biāo)樣取代被測(cè)樣品,在完全相同的條件下加磁場(chǎng)使Ni飽和磁化后測(cè)得Y軸偏轉(zhuǎn)為V 0 ,則單位偏轉(zhuǎn)所對(duì)應(yīng)的磁矩?cái)?shù)應(yīng)為K= σ0 m0/V 0 ,再由樣品的 J-H 回線上測(cè)得樣品某磁場(chǎng)下的Y軸高度V H ,則 被測(cè)樣品在該磁場(chǎng)下的磁化強(qiáng)度

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

被測(cè)樣品的質(zhì)量磁化強(qiáng)度

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

這樣,我們既可根據(jù)實(shí)測(cè)的 J-H 回線推算出被測(cè)樣品材料的 M-H 回線。

04 樣品制備

VSM開(kāi)路測(cè)量的優(yōu)勢(shì)之一即是 對(duì)樣品的形狀不做嚴(yán)格要求,只需在測(cè)量前將樣品切成直徑大概在 2-3mm的小顆粒就可。

塊材:對(duì)強(qiáng)磁性材料,用適當(dāng)方式從大塊材料上取出約數(shù)毫克的小塊(但忌用鐵質(zhì)工具獲取,以免樣品受到強(qiáng)磁性污染),其大小以能放入樣品夾持器內(nèi)為準(zhǔn)。

粉料:對(duì)強(qiáng)磁性材料如鐵氧體的各燒結(jié)過(guò)程前的粉料,用精密天平稱出約數(shù)毫克(磁矩小的可適當(dāng)多稱出一些)。用軟紙緊密包裹成小球狀(如:用1/4張擦鏡紙折疊后放入天平中稱出其質(zhì)量,再用勺取粉料小心置于上述紙的折角處-該種紙因有較大較多孔,故需折成雙層,讀出總的質(zhì)量數(shù),則樣品的單一質(zhì)量即為前后稱量之差)。

注意:包裹時(shí),務(wù)必使粉料盡量集中在一小區(qū)間。

薄膜材料:由于薄膜均附著在襯底如玻璃,硅片等上面,故對(duì)鐵磁性薄膜必須用玻璃刀裁下(2×5)mm 2 大小的樣品,用干凈紙包一下以資保護(hù)(為計(jì)算其磁矩,必須預(yù)知其厚度,面積之測(cè)量應(yīng)采用投影放大的辦法以減少誤差,從厚度和面積即可求得樣品的體積)

液體材料:將鐵磁性液樣注入柱形孔內(nèi)并密封。注意:密封后,液體不能在其所在空間活動(dòng)。液樣注入前后的質(zhì)量差,即為被測(cè)材料的質(zhì)量。

非強(qiáng)磁性材料:必須用較大體積(質(zhì)量)的樣品及強(qiáng)磁場(chǎng),以獲得較大的電信號(hào)。( J=M×V=χHV , J 大時(shí)信號(hào)才大,故在 χ 很小時(shí),即可盡量用大體積 v 的樣品及強(qiáng)磁場(chǎng) H )。

05 消磁場(chǎng)修正

所謂“退磁場(chǎng)”,即當(dāng)樣品被磁化后,其M將在樣品兩端產(chǎn)生“磁荷”,此“磁荷對(duì)”將產(chǎn)生于磁化場(chǎng)方向相反的磁場(chǎng),從而減弱了外加磁化場(chǎng)H的磁化作用,故稱為退磁場(chǎng)。

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)基本原理全解析

可將退磁場(chǎng)表示為Hd=-NM,N稱為“退磁因子”,取決于樣品的形狀,一般來(lái)說(shuō)非常復(fù)雜,甚至其為張量形式,只有旋轉(zhuǎn)橢球體,方能計(jì)算出三個(gè)方向的具體數(shù)值。 磁性測(cè)量中,通常樣品均制成旋轉(zhuǎn)橢球體的幾種退化型:圓球形,細(xì)線形,薄膜形,此時(shí),這些樣品的特定方向的N是定值,如球形時(shí)1/3,沿細(xì)線的軸線N=0,沿膜面N=0等。

當(dāng)知道樣品的體積V或其質(zhì)量m時(shí),則可求得該樣品的磁化強(qiáng)度M=J/v或質(zhì)量磁化強(qiáng)度σ=J/m。如能預(yù)知樣品在磁化場(chǎng)H方向的退磁因子N,從而可求出樣品的內(nèi)磁化場(chǎng)Hi=H-NM時(shí),將M(σ)~Hi一一對(duì)應(yīng)關(guān)系做成曲線。就可得到 修正后的被測(cè)樣品的磁化曲線或磁滯回線M~H或σ~H。

在線客服
 
 
 工作時(shí)間
周一至周六 :8:00-18:00
 聯(lián)系方式
客服-黃工:150 7104 0697
客服-劉工:18120219335
陆丰市| 靖远县| 哈密市| 廉江市| 汨罗市| 台湾省| 浏阳市| 麦盖提县| 华容县| 汾阳市| 衡阳市| 阿合奇县| 仁化县| 宜兴市| 延安市| 屯留县| 湘乡市| 水富县| 巩留县| 鹤岗市| 云霄县| 比如县| 丹凤县| 社会| 宝丰县| 万盛区| 武功县| 阿合奇县| 东光县| 兴和县| 扶余县| 义乌市| 南安市| 清流县| 宝应县| 句容市| 德惠市| 宜黄县| 武义县| 乌拉特中旗| 成武县|