透射電子顯微鏡樣品前處理方法

透射電子顯微鏡由于受電鏡高壓限制，透射電子束一般只能穿透厚度為幾十納米以下的薄層樣品。除微細(xì)粒狀樣品可以通過介質(zhì)分散法并直接滴樣外，其它樣品的制備方法主要有物理減?。x子和雙噴減薄等）和超薄切片法。

一般情況下，需要采用物理減薄法的樣品制備過程，須由用戶自己完成（不具備此制樣條件的院系，可租用本室的相關(guān)設(shè)備）。超薄切片樣品的制備，需經(jīng)樣品前處理、包埋、切片等復(fù)雜工序，周期較長(zhǎng)（約一周左右）。

由于該儀器是高分辨型電鏡，為確保儀器性能和發(fā)揮其高分辨象觀察特點(diǎn)，目前主要接受材料領(lǐng)域的樣品。