鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹(shù)脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見(jiàn)反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類(lèi)原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類(lèi)Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類(lèi)型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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絕對(duì)量子產(chǎn)率測(cè)試儀

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2021-01-20 10:51作者:鑠思百檢測(cè)來(lái)源:鑠思百檢測(cè)

量子效率測(cè)試儀Quantaurus-QY plus 可測(cè)試液體、薄膜和粉末類(lèi)樣品的激發(fā)光譜,發(fā)射光譜以及量子效率等測(cè)試參數(shù),并對(duì)樣品的色度,色溫,色坐標(biāo)等顏色指標(biāo)進(jìn)行測(cè)量。鑠思百檢測(cè)可提供量子效率測(cè)試儀檢測(cè)服務(wù),詳情聯(lián)系客服!

1.設(shè)備型號(hào)

品牌:HAMAMATSU

型號(hào):Quantaurus-QY plus

2.原理

樣品(固體、液體、粉末及薄膜)被放置在積分球(相當(dāng)于樣品腔)內(nèi),氙燈發(fā)射出的連續(xù)光譜經(jīng)過(guò)單色儀分光后再通過(guò)光纖引入到積分球內(nèi)的樣品上,熒光樣品受激發(fā)后會(huì)發(fā)出熒光,熒光光譜通過(guò)光纖被后端的光譜探測(cè)系統(tǒng)接收,探測(cè)器是一個(gè)背照式的制冷CCD,可實(shí)現(xiàn)高靈敏度的多波長(zhǎng)實(shí)時(shí)測(cè)量。熒光量子效率=樣品發(fā)射出的光子數(shù)/樣品吸收的光子數(shù)。

3.主要功能及應(yīng)用范圍

主要功能:

1.實(shí)現(xiàn)IVL以及光分布的測(cè)試。

2.具有連續(xù)測(cè)試模式,監(jiān)控模式以及單點(diǎn)測(cè)試模式。

3.能實(shí)時(shí)顯示發(fā)光光譜。

4.測(cè)試多種曲線(電流-量子效率曲線,電流-光照度曲線,電流-功率曲線,電流-電壓曲線,時(shí)間-電流曲線)

應(yīng)用范圍:包括提高各類(lèi)發(fā)光材料(如有機(jī)電致發(fā)光材料,白色LED及FPD的熒光體)的品質(zhì);有機(jī)金屬絡(luò)合物的研究;染料敏化太陽(yáng)能電池的基本特性評(píng)估以及生物領(lǐng)域內(nèi)對(duì)熒光探針效率的測(cè)試。

4.主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo)

絕對(duì)量子效率測(cè)試儀主機(jī)Quantaurus-QY plus(紫外可見(jiàn)近紅外型)、液體樣品容器、固體樣品容器。

4.1、主機(jī):

1)PL測(cè)試范圍:300nm-1650nm

2)光譜測(cè)試范圍:200nm-1650,可以一次性得到全譜

3)測(cè)試樣品種類(lèi):固體(粉末,薄膜及其他性狀),液體

4)100V-240V,50Hz/60Hz自適應(yīng)電源

5)滿(mǎn)足EU61010-1:2001安全標(biāo)準(zhǔn)以及EU61326-1:2006電磁屏蔽標(biāo)準(zhǔn)。

6)量子效率最小測(cè)試誤差≤1%(極限范圍誤差值為≤3%)

7)可實(shí)現(xiàn)上轉(zhuǎn)換光譜和量子效率測(cè)試(980nm、808nm或者其他波長(zhǎng)激發(fā)),且上轉(zhuǎn)換量子效率有效測(cè)試精度10-4(需配置上轉(zhuǎn)換組件和激光光源)。

8)可實(shí)現(xiàn)77K低溫測(cè)試,以及可實(shí)現(xiàn) 25℃到 300℃的連續(xù) 加溫 PL 測(cè)試 ,溫控精度±0.1℃(需配置低溫或者高溫測(cè)試組件)

4.2、激發(fā)光源(標(biāo)準(zhǔn)配置):

1)光源: 150W長(zhǎng)壽命氙燈(在正常使用情況下,壽命大于3500個(gè)小時(shí))且為高能量密度光源,2000小時(shí)內(nèi),能量衰減<1%;2500小時(shí)內(nèi),能量衰減<3%;3000小時(shí)內(nèi)能量衰減<5%。

2)光源波長(zhǎng):240nm-2000nm

3)制冷方式:風(fēng)冷

4)穩(wěn)定性:漂移率0.5%/h,最大波動(dòng)值:1%

5)電源:一體化供電模塊,可在實(shí)現(xiàn)100V-240V寬幅電壓?jiǎn)?dòng)。

6)單色儀分光范圍:250nm-850nm。

7)分光裝置:Czerny-Turner型

8) 輸出帶寬:<10nm

4.3、激發(fā)光源(高能氙燈)

1)光源:150W長(zhǎng)壽命高能氙燈,150W長(zhǎng)壽命氙燈(在正常使用情況下,壽命大于3500個(gè)小時(shí))且為高能量密度光源,50-100微瓦/平方厘米/納米,2000小時(shí)內(nèi),能量衰減<1%;2500小時(shí)內(nèi),能量衰減<3%;3000小時(shí)內(nèi)能量衰減<5%。

2)光源波長(zhǎng):300nm-800nm

3)激發(fā)波長(zhǎng):375nm,400nm,475nm,525nm或者其他定制化波長(zhǎng)

4)制冷方式:風(fēng)冷

5)穩(wěn)定性:漂移率0.5%/h,最大波動(dòng)值:1%

6)電源:一體化供電模塊,可在實(shí)現(xiàn)100V-240V寬幅電壓?jiǎn)?dòng)。

7)激發(fā)光帶寬:50nm

4.4、980nm/808nm激光器

1)激光波長(zhǎng):980nm/808nm

2)輸出能量:≤1W,能量可調(diào),最小調(diào)節(jié)范圍0.001W

3)接觸方式:內(nèi)置或者光纖輸入

4)其他:可接入FC口的其他光源。

4.5、紫外可見(jiàn)探測(cè)器

1)多通道制冷型背照式CCD(BT-CCD)

2)測(cè)量波長(zhǎng)范圍:200nm—1100nm

3)感光單元尺寸:24um*2.928mm

4)曝光時(shí)間范圍:19ms-64s(外觸發(fā)時(shí)最短可達(dá)1ms)

5)波長(zhǎng)分辨率: <2nm

6)波長(zhǎng)重復(fù)精度:<2nm

7)光敏通道數(shù):1024個(gè)(每個(gè)通道對(duì)應(yīng)0.7-0.8nm)

8)制冷溫度:≤-15℃

9)A/D分辨率:16 bit

10)分光裝置:Czerny-Turner型

11)光圈數(shù):4

12)讀出噪聲:≤16個(gè)電子

13)暗電流:≤75個(gè)電子(15℃,20ms)

14)動(dòng)態(tài)范圍:125000:1

4.6、近紅外探測(cè)器

1)多通道制冷型InGaAS探測(cè)器

2)測(cè)量波長(zhǎng)范圍:900nm-1650nm

3)光譜分辨率:<9nm

4)光敏通道數(shù):256ch

5)制冷溫度: ≤-10℃

6)分光裝置:Czerny-Turner型

7)曝光時(shí)間:5ms-64s,軟件可調(diào)

4.7、積分球

1)材料:Spectralon

2)綜合反射率:≥98%

3)直徑:3.3英寸

4)具有氮?dú)饣蛘叨栊詺怏w保護(hù)裝置,且保護(hù)氣體壓力≥0.01Mpa

5)可以放置固體和液體測(cè)試容器

4.8、樣品池

1)高精度石英材質(zhì),光學(xué)透過(guò)率大于98%,全波段無(wú)熒光反應(yīng),用于固體、粉末及薄膜樣品測(cè)試

2)高精度石英材質(zhì),光學(xué)透過(guò)率大于98%,全波段無(wú)熒光反應(yīng),用于液體樣品測(cè)試。

4.9、采集與分析軟件

1)主要測(cè)試項(xiàng)目:PL量子產(chǎn)率,PL光譜(峰值波長(zhǎng) FWHM),色彩測(cè)試(色度、色溫、顯色性指數(shù)等)

2)具有自吸收校正和透射校正等多種校正功能

3)一次測(cè)試可得到量子效率,吸收率,激發(fā)光子數(shù),發(fā)射光子數(shù)等多種數(shù)據(jù)結(jié)果。

4)軟件操作簡(jiǎn)便,綜合測(cè)試時(shí)間短。

4.10、高溫配件

1)溫度范圍:25℃(室溫)——300℃

2)溫度控制精度:0.1℃

3)控制方式:軟件設(shè)置,自動(dòng)控制。

4)負(fù)載電流:0.5A

5)溫度輸入:K型熱電偶

4.11、電致發(fā)光量子效率測(cè)試組件

1)電致發(fā)光量子效率測(cè)試范圍:380nm-780nm

2)可測(cè)試項(xiàng)目:電致發(fā)光量子效率,外部量子效率,電壓/電流光譜曲線以及色度、色坐標(biāo)等

3)光通量測(cè)試:0.0001lm-200lm或者1cd/m2 - 2000 00 cd/m2

4)亮度可重復(fù)性 <1%

5)色度精度 ±0.0015

6)色度可重復(fù)性 ±0.0005

7)旋轉(zhuǎn)平臺(tái):最小轉(zhuǎn)動(dòng)角度1°

8)角度設(shè)置范圍:-80°到80°

9)角度分辨率:≤0.5°

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