粒度測(cè)試不同方法的對(duì)比

粒度測(cè)試不同方法的對(duì)比

（1）激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量和干法測(cè)量。缺點(diǎn):分辨力較低。

（2）動(dòng)態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可測(cè)量最大顆粒，可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn):不能分析細(xì)顆粒（如<2um)，儀器成本較高。

（3）靜態(tài)圖像法:優(yōu)點(diǎn):成本較低、圖像清晰、可進(jìn)行圓形度、長(zhǎng)徑比等形貌分析。缺點(diǎn):操作復(fù)雜，分析速度慢，無法分析細(xì)顆粒(如<2um)。

（4）電鏡法:優(yōu)點(diǎn):能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒的粒度和形貌，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米顆粒粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。缺點(diǎn):代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

（5）光阻法:優(yōu)點(diǎn):測(cè)試速度快，可測(cè)液體或氣體中低濃度顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。缺點(diǎn):進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用納米的樣品。

（6）電阻法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便，可測(cè)顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。缺點(diǎn):不適合測(cè)量超細(xì)樣品和寬分布樣品。

（7）沉降法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格較低。缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作復(fù)雜。

（8）篩分法:優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于38μm(400目)的品。缺點(diǎn):不能用于超細(xì)樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

（9）動(dòng)態(tài)光散射法:優(yōu)點(diǎn):測(cè)試速度快，重復(fù)性好，操作簡(jiǎn)便。缺點(diǎn):測(cè)試寬分布的納米材料誤差較大。

（10）超聲波法:優(yōu)點(diǎn):可對(duì)高濃度漿料直接現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，無需稀釋樣品。缺點(diǎn):分辨率較低，結(jié)果受環(huán)境因素影響較大。

以上是不同的粒度測(cè)試方法對(duì)比，需要粒度分析檢測(cè)可在線聯(lián)系客服！