掃描電鏡SEM測試-對外掃描電鏡-現場掃描電鏡-分析檢測中心

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掃描電鏡的原理
SEM掃描電鏡的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉變?yōu)楣庑盘枺俳浌怆姳对龉芎头糯笃鬓D變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸?，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。

掃描電鏡應用范圍：
1．金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農作物等材料的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析。
2．各種材料微區(qū)化學成分的定性和定量檢測；金屬材料牌號的確定。
3．機械零部件、電子元器件失效分析。
4．粉末、微粒納米樣品形態(tài)和粒度的測定。
5．復合材料界面特性的研究。
6．表面微量污染物、異物及其來源分析。
7．表面鍍層成分、鍍層厚度與結構分析。

送樣需知

• 不導電樣品需做噴金/碳處理

• 樣品高度不大于25mm，直徑不大于50mm。

掃描電鏡應用領域及分析案例

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