鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
設(shè)為首頁 | 收藏本站

Zeta電位儀-電位測(cè)定儀

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2021-03-10 10:29作者:鑠思百檢測(cè)來源:鑠思百檢測(cè)

鑠思百檢測(cè)可提供Zeta電位儀檢測(cè)服務(wù),Zeta電位測(cè)量在多種行業(yè)中均發(fā)揮著重要的作用,包括:高校、企業(yè)、陶瓷、制藥、醫(yī)學(xué)、礦物加工、電子工業(yè)及水處理。


簡介

Zeta電位儀是華東師范大學(xué)與上海中晨數(shù)字技術(shù)設(shè)備有限公司合作在94年推出的新一代測(cè)試儀器的改進(jìn)型,新產(chǎn)品由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成,實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對(duì)采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設(shè)計(jì),與其它同類產(chǎn)品相比,它具有更多的優(yōu)異性能。


Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測(cè)定粉體的Zeta電位,從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點(diǎn),是認(rèn)識(shí)粉體表面電性的重要方法,在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比,它具有顯著的優(yōu)越性。可廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè),也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。


原理

測(cè)量方法:電泳法

對(duì)許多熟悉利用此法進(jìn)行高分子分離的人來說,顆粒電泳也是一個(gè)類似現(xiàn)象。懸浮于介質(zhì)中的顆粒被置于一電場(chǎng)中;如果帶電他們會(huì)在電場(chǎng)產(chǎn)生流動(dòng),陽性顆粒朝負(fù)極流動(dòng),陰性顆粒朝正極流動(dòng)。然而,顆粒并不是獨(dú)自流動(dòng),他們周圍會(huì)攜帶一薄層離子和溶劑。這一分離固定媒介與移動(dòng)顆粒及其攜帶的離子和溶劑的界面叫做流體剪切面,而Zeta電位正是這一界面的電位。因此Zeta電位可以通過測(cè)量顆粒在已知電場(chǎng)中的流速來測(cè)定。早期的測(cè)量儀器(Rank微電泳儀)通過充滿誤差,慢速度的手動(dòng)方法觀察顆粒,并自動(dòng)計(jì)算樣品中zeta電位的分布。大多數(shù)系統(tǒng)在水介質(zhì)中的這一值在±100mV范圍內(nèi)。


從幾個(gè)方面解析Zeta電位儀:


1、納米粒子的分散性;  

2、區(qū)別納米表面的不同修飾  

據(jù)文獻(xiàn)上講,由于血漿中的大分子,尤其是血漿蛋白,大多帶負(fù)電,因此帶正電的微粒很容易和白蛋白發(fā)生吸附作用,而帶負(fù)電的微粒有被血小板表面附著的傾向,而且電勢(shì)值越大,越容易吸附。這勢(shì)必成為一個(gè)矛盾,難道電中性的粒子?當(dāng)然不是,中性粒子在體外容易因彼此靜電排斥力缺乏而聚集沉降。因此無論是否帶電,正負(fù)與否,都各有弊端。文獻(xiàn)上有評(píng)價(jià),zui后的結(jié)論是為了兼顧粒子間的穩(wěn)定性,又盡量保證其在血液循環(huán)中的穩(wěn)定性,粒子適宜帶一定的電荷,即有一定的Zeta電位儀,值在3~22mv之間,如果僅從穩(wěn)定性考慮,粒子帶負(fù)電,畢竟血漿蛋白遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于血小板的量。而從基因工程角度講,帶正電更有利,這是因?yàn)榇蟛糠仲|(zhì)粒帶負(fù)電,這樣可以通過靜電作用將質(zhì)粒吸附其中,而質(zhì)粒的負(fù)電又可以抵消一部分表面電勢(shì),避免被血漿蛋白攻擊,得到zui佳的gene轉(zhuǎn)運(yùn)效果。  


3、正電位可以讓載體進(jìn)入細(xì)胞  

Zeta電位儀的重要意義在于它的數(shù)值與膠態(tài)分散的穩(wěn)定性相關(guān)。Zeta電位儀是對(duì)顆粒之間相互排斥或吸引力的強(qiáng)度的度量。分子或分散粒子越小,zeta電位儀(正或負(fù))越高,體系越穩(wěn)定,即溶解或分散可以抵抗聚集。反之,zeta電位儀(正或負(fù))越低,越傾向于凝結(jié)或凝聚,即吸引力超過了排斥力,分散被破壞而發(fā)生凝結(jié)或凝聚。   Zeta電位儀與體系穩(wěn)定性之間的大致關(guān)系如下表所示。  


Zeta電位儀[mV]膠體穩(wěn)定性0到±5,快速凝結(jié)或凝聚±10到±30開始變得不穩(wěn)定±30到±40穩(wěn)定性一般±40到±60較好的穩(wěn)定性超過±61穩(wěn)定性極好。  


Zeta電位可以通過電泳儀或電位儀測(cè)出。顆粒間都帶同號(hào)的動(dòng)電位,即帶同號(hào)的凈電荷,互相排斥,防止顆粒間的團(tuán)聚。當(dāng)顆粒的Zeta電位儀zui大時(shí),顆粒間的雙電層表現(xiàn)為zui大排斥力,使顆粒分散,當(dāng)電位等于零時(shí)(即等電點(diǎn)),顆粒間的吸引力大于雙電層之間的排斥力,顆粒團(tuán)聚而沉降《超細(xì)粉體技術(shù)》。  


材料表面Zeta電位儀首先受材料本身性質(zhì)的影響,比如pKa較小的材料,往往帶有負(fù)電性,反之則帶正電,兩性物質(zhì)要看外界條件。


產(chǎn)品應(yīng)用

廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè),也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。


1.半導(dǎo)體

研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。


2.醫(yī)藥和食品行業(yè)

乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質(zhì)功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。


3.陶瓷和顏料工業(yè)

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機(jī)溶膠的研究,顏料的分散和凝聚的控制研究,浮礦收集器的吸附研究。


4.聚合物和化工領(lǐng)域

乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究,乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究,控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究,紙漿添加劑研究。


主要特點(diǎn)

1、儀器采用新設(shè)計(jì)的新型簡便的電泳池,采用0.5cm厚的玻璃杯,電極內(nèi)置在池內(nèi)。電泳杯與內(nèi)置電極經(jīng)精密的微流場(chǎng)計(jì)算、表面處理,組成一套與傳統(tǒng)的電泳池完全不一樣電泳裝置。測(cè)試時(shí)樣品用量極少,每次僅0.5ml,易于清洗,使用方便,經(jīng)濟(jì)實(shí)用。


2、采用經(jīng)過精心設(shè)計(jì)的電極支架,與電泳杯緊密配合,形成一個(gè)杯形開放式電泳裝置,電極采用銀、鉑和鈦金屬絲制成,經(jīng)表面處理后工作狀態(tài)穩(wěn)定。


3、制作精良的十字標(biāo),置入電泳杯后放在三維平臺(tái)上,調(diào)整三維平臺(tái),在計(jì)算機(jī)屏幕看到清晰的十字圖像,便找到測(cè)定位置,沒有靜止層問題。


4、采用半導(dǎo)體發(fā)光近場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng),功率僅幾十微瓦,不會(huì)因發(fā)熱而影響測(cè)量環(huán)境和測(cè)量精度,并調(diào)整了光學(xué)系統(tǒng),加大了放大倍率,采用波長較短的藍(lán)光和綠光,因此可以看清更小的顆粒。


5、采用恒壓低頻轉(zhuǎn)換電源,可以防止極化,同時(shí)又可大大提高測(cè)量速度。正負(fù)換向時(shí)間為0.30秒至1.20秒連續(xù)可調(diào),采樣時(shí)間僅需3-10秒。電極間電壓可根據(jù)需要調(diào)節(jié)。


6、采用溫度采樣探頭,自動(dòng)連續(xù)對(duì)環(huán)境溫度進(jìn)行采樣,返回計(jì)算機(jī),自動(dòng)調(diào)整參數(shù),用于計(jì)算Zeta電位。采用計(jì)算機(jī)多媒體技術(shù),在給定的節(jié)拍下,自動(dòng)對(duì)經(jīng)放大1200倍的超細(xì)顆粒連續(xù)“拍照”,提供雙向共四幅灰度圖像進(jìn)行分析計(jì)算。


主要參數(shù)

1、功耗:<150W


2、電源電壓:220V50Hz


3、適用環(huán)境:防震平臺(tái)


4、適用溫度范圍:室溫到35℃,讀取精度0.1℃


5、測(cè)數(shù)準(zhǔn)確度:系統(tǒng)誤差在5%以內(nèi)


6、適用于:0.5-20um的分散體系


7、pH范圍:一般應(yīng)用在下2.0-12.0,亦可在1.6-13.0范圍內(nèi)使用,步長0.1


8、分辨率:4pixel/μm,國產(chǎn)長焦距顯微光學(xué)系統(tǒng),工作距離7mm


9、杯型開放式電泳裝置,配套特制電極支架


安裝方式

1.打開電腦主機(jī)箱,安裝視頻采集卡,將視頻采集卡安裝在電腦主板上的PCI插槽中。


2.安裝連接所有接線。注意:串口線必須連接到計(jì)算機(jī)的COM1的串口上,其他串口不行的。視頻線連接到計(jì)算機(jī)上的視頻采集卡上。


3.連通所有電源,打開儀器主機(jī)電源和計(jì)算機(jī)電源。查看計(jì)算機(jī)中的設(shè)備管理器,找到未安裝的驅(qū)動(dòng)程序的新硬件。


可按照下面的步驟重新安裝:


點(diǎn)擊“屬性”按鈕;


然后點(diǎn)擊“更新驅(qū)動(dòng)程序”按鈕,選擇指定驅(qū)動(dòng)程序的位置單選框;


然后點(diǎn)擊“下一步”按鈕;


點(diǎn)擊“瀏覽”按鈕,選擇驅(qū)動(dòng)程序所在的目錄,然后點(diǎn)擊“下一步”按鈕;


點(diǎn)擊“下一步”按鈕,出現(xiàn)復(fù)制文件對(duì)話框;


復(fù)制完成以后;


點(diǎn)擊“完成”按鈕,即可完成驅(qū)動(dòng)程序的安裝,此時(shí)系統(tǒng)需要重新啟動(dòng);


選擇“是”按鈕,系統(tǒng)將會(huì)重新啟動(dòng),系統(tǒng)啟動(dòng)好以后,圖像卡的驅(qū)動(dòng)程序的安裝已經(jīng)完成,此時(shí)控制面板的設(shè)備管理器中,聲音、視頻和游戲控制器下的黃色的驚嘆號(hào)已經(jīng)消失,安裝成功。


操作規(guī)范

zeta電位儀起到了對(duì)被保護(hù)體的保護(hù)電位進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)、精確控制及傳送等功能。它由采樣、比較、放大、控制、輸出、傳送、報(bào)警等一些電路組成,zeta電位儀在使用中怎么使用更合理呢?

1、zeta電位儀接地,將要確保電源的3芯插頭中的中間插頭應(yīng)接地良好,如果室內(nèi)布線不規(guī)范(如以零代地),則必須將接線板中的地線插腳(三孔插座中的中間插腳)連接到近的鋼制水管上。

2、開機(jī)時(shí)先開計(jì)算機(jī)再開啟電化學(xué)儀主機(jī)電源,不可反復(fù)開關(guān)

3、zeta電位儀準(zhǔn)確連接工作/輔助/參比電極,然后再雙擊打開電化學(xué)工作軟件

4、zeta電位儀的專用電纜中的工作電極夾與其余兩個(gè)(輔助電極夾,參比電極夾)不能短接,也不要把電極連接線弄濕。平時(shí)儀器不用時(shí),可以用模擬電解池來連接。

5、關(guān)機(jī)時(shí)按照關(guān)軟件,關(guān)電腦,關(guān)電化學(xué)儀主機(jī)順序進(jìn)行。


注意事項(xiàng)

(1)使用本儀器前,請(qǐng)仔細(xì)閱讀使用說明書請(qǐng)仔細(xì)檢查電源電壓,是否符合本儀器的工作電壓。


(2)顯示的是參比電極相對(duì)于研究電極的電位,其符號(hào)與電化學(xué)中習(xí)用的“研究電極相對(duì)于參比電極”的電位符號(hào)相反。


(3)電流量程(2)的選擇,在數(shù)字電流表


(4)顯示不溢出的前提下,盡可能用較小量程滿度顯示,以提高測(cè)量精度。測(cè)量極化電流時(shí),電流量程應(yīng)從大量程向小量程改變。實(shí)施恒電流極化試驗(yàn)的給定電流時(shí),電流量程應(yīng)從小量程改變,避免大電流輸入電解池和干擾研究電極工作。


(5)如在恒電位工作時(shí)需轉(zhuǎn)抽換為恒電流工作,或恒電流工作轉(zhuǎn)換為恒電位工作,均應(yīng)先將“通-斷”開關(guān)(13)置于“斷”位置后方可轉(zhuǎn)抽換。


以上是關(guān)于Zeta電位儀檢測(cè)的相關(guān)介紹,需要測(cè)試服務(wù)請(qǐng)聯(lián)系鑠思百檢測(cè)工程師!


在線客服
 
 
 工作時(shí)間
周一至周六 :8:00-18:00
 聯(lián)系方式
客服-黃工:150 7104 0697
客服-劉工:18120219335
太原市| 科技| 大理市| 石景山区| 崇信县| 靖安县| 文安县| 阿坝县| 大安市| 海阳市| 景洪市| 奉贤区| 洛扎县| 左权县| 宁阳县| 湖北省| 岳阳市| 灌阳县| 柞水县| 读书| 牡丹江市| 郁南县| 嘉定区| 鹤壁市| 临洮县| 扎囊县| 堆龙德庆县| 台江县| 汉沽区| 同仁县| 佛坪县| 丰原市| 南皮县| 化德县| 新郑市| 临高县| 永寿县| 九江市| 定陶县| 衢州市| 承德县|