微加工如何使掃描電鏡表征納米結(jié)構(gòu)-掃描電鏡SEM 二維碼
發(fā)表時間:2021-09-09 08:56作者:鑠思百檢測來源:鑠思百檢測 目前微加工發(fā)展狀況目前,大多數(shù)微加工以傳統(tǒng)機械加工和光刻為主,這就是平板印刷技術(shù)。Tommaso Baldacchini 透露,光刻技術(shù)的確能生產(chǎn)十分精密的高通量結(jié)構(gòu),但是這種方法僅限于二維空間。Baldacchini 說:這就意味著加工錯失了一整個維度。其他的局限性還包括:
Baldacchini 提到:十分有必要去打破這些限制性的障礙,來發(fā)明一些新的微納加工裝置。 打破納米微加工的障礙在加工納米微結(jié)構(gòu)的過程中存在著許多挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)主要來自制造微結(jié)構(gòu)的技術(shù)和結(jié)構(gòu)自 身特性(如大小,形狀和表面積)。 激光輔助納米微加工技術(shù)(Journal of Laser Applications 24, 042007 (2012))為建立納米和微米尺寸結(jié)構(gòu)提供了一整套獨特方案。激光照射到樣品表面會產(chǎn)生很多影響,包括局部發(fā)熱、熔化、燒蝕、分解和光化學反應(yīng),進而可以獲得一些例如石墨烯、碳納米管、甚至聚合物和陶瓷材料形成的多種復雜納米結(jié)構(gòu)。 表征當表征微結(jié)構(gòu)時,擁有一個能在納米精度下準確測量加工微結(jié)構(gòu)尺寸的工具是十分關(guān)鍵的。有必要觀察加工結(jié)構(gòu)的拓撲形貌和均勻性,進而確?!皹?gòu)建”質(zhì)量達到設(shè)計要求。能夠表征新材料表面成分甚至是內(nèi)部成分同樣重要。
掃描電鏡在放大 2150 倍(左)和 8300 倍(右)數(shù)下觀察燒蝕樣品 掃描電鏡(SEM)是這類工作的理想工具,能夠聚焦到納米級、觀察小尺寸和納米樣品特征。Baldacchini 說:一臺掃描電鏡是表征樣品寶貴的工具。當樣品燒蝕時,我們能觀察其表面的變化,或者我們可以觀察含添加劑樣品的拓撲結(jié)構(gòu)。 技術(shù)創(chuàng)新掃描電鏡SEM 在表征結(jié)構(gòu)特征方面經(jīng)常使用,可作為檢驗已生產(chǎn)納米結(jié)構(gòu)的一種方法。除此之外, Baldacchini 的研究還應(yīng)用了非線性光學顯微鏡,例如用相干反斯托克斯-拉曼散射顯微鏡研究雙光子聚合生成微米結(jié)構(gòu)的化學和機械特征。 |