xrf熒光光譜分析儀原理

XRF測試作為常用測試之一，但仍有許多同學不太了解其工作原理，今天鑠思百檢測小編給大家介紹X射線熒光光譜儀工作原理。

X射線熒光光譜儀(XRF)工作原理

×熒光光譜儀是根據×射線熒光光譜的分析方法配置的多通道X射線熒光光譜儀，它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。×射線熒光(XRF ）能夠測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。凡是能和×射線發(fā)生激烈作用的樣品都不能分析，而且要分析的樣品必須是在真空( 4~5pa )環(huán)境下才能測定。

×熒光光譜儀（XRF ）由激發(fā)源（×射線管）和探測系統構成。X射線管通過產生入射X射線(一次X射線），來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次×射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光×射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。

×熒光光譜儀具有以下優(yōu)點∶

a ）分析速度高。測定用的時間與測定精密度有關，但一般都很短，2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

b )X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。(氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟×射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。

c )非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

d )X射線熒光分析是一種物理分析方法﹐所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。e ）分析精密度高。

f）制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

當然，也有一些不足之處，具體如下:

a）難于作分析，故定量分析需要標樣。

b)對輕元素的靈敏度要低一些。

c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

×熒光光譜儀測試常見問題 ：
1、樣品能不能回收？
答：粉末樣無法回收，會采用硼酸壓片法，污染樣品。
2、能不能測O元素？
答：可以根據氧化物模式推算出來，不能單獨測定。
3、塊體樣品能否測試？
答：塊狀樣品直徑需在30-40mm之間，輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其它合金厚度不小于1mm，其它材料厚度需滿足3-5mm。
4、結果是否為精確定量？
答：需要參考樣品本身是否均勻，一般認為，XRF結果是半定量結果。
5、為什么要求XRF測試粉末樣品用量最好達到3 g以上？
因為需要和淀粉一起壓片做，如果樣品量太少的，需要加很多淀粉容易導致結果不準確。
6、為什么XRF測試要求薄膜（塊體）樣品尺寸直接要大于2.5 cm？
因為放置薄膜（塊體）樣品需要放進測試槽，測試槽的直徑是2.5 cm，如果樣品太小會固定不了。
7、 XRF測試可以精確到多少？
XRF測試原則上可以精確到ppm級別的，但這個精度是基于標準物質的，常規(guī)的XRF測試只是半定量測試，誤差不好判斷，僅作為元素含量百分比的參考。

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