sem掃描電鏡是測(cè)什么的

SEM掃描電鏡是測(cè)什么的？今天鑠思百檢測(cè)小編帶大家來詳細(xì)了解一下吧！

SEM掃描電鏡是什么？

SEM全稱Scanning Electron Microscope，即掃描電鏡。

SEM描電子顯微鏡是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。

SEM就是掃描電鏡是一種用途廣泛的科學(xué)儀器，SEM檢測(cè)就是用掃描電鏡進(jìn)行檢測(cè)的一種測(cè)試方法。這里呢我們還要提到一個(gè)FESEM，

FESEM是場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡;SEM是掃描電子顯微鏡。FESEM和SEM的簡(jiǎn)單區(qū)別就是發(fā)射電子的裝置不一樣，一個(gè)使用燈絲，一個(gè)使用的場(chǎng)發(fā)射。場(chǎng)發(fā)射能量高，電子束可以更細(xì)。

SEM描電鏡是測(cè)什么的？

SEM描電鏡主要應(yīng)用于微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、元素價(jià)態(tài)和化學(xué)鍵、晶體結(jié)構(gòu)、相組成、結(jié)構(gòu)缺陷、晶界結(jié)構(gòu)和組成等。SEM一般通過搭配能譜儀EDS使用，可利用EDS進(jìn)行元素成分定性、定量分析。用來觀測(cè)芯片內(nèi)部層次和測(cè)量各層厚度、觀測(cè)并拍攝局部異常照片和測(cè)量異常尺寸、測(cè)量芯片關(guān)鍵尺寸線寬和孔徑、定性和定量分析異常污 染物的化學(xué)元素組成。

鑠思百檢測(cè)可提供SEM掃描電鏡測(cè)試項(xiàng)目有：

常規(guī)形貌、高分辨形貌、BSE背散射、能譜EDS、點(diǎn)掃、線掃、面掃、mapping、EBSD均可

制樣：噴金噴碳，低溫脆氮，截面制樣，生物制樣

（磁性樣，非磁性樣，生物樣，金屬樣，陶瓷樣均可）

SEM掃描電鏡的主要性能與特點(diǎn)

放大倍率高、分辨率高、景深大、保真度好、樣品制備簡(jiǎn)單。

好啦，今天關(guān)于“SEM掃描電鏡是測(cè)什么的”已經(jīng)做了詳細(xì)的介紹，希望能幫到大家！