做xrd需要多長(zhǎng)時(shí)間

xrd測(cè)試時(shí)間怎么算？我們先來(lái)對(duì)XRD測(cè)試種類了解一下

XRD測(cè)試有哪些種類？

　　1、廣角XRD

　　廣角、小角XRD因測(cè)試角度范圍而得名，廣角即測(cè)試范圍為10-120 °，常規(guī)廣角測(cè)到90 °即可，有機(jī)材料或者有機(jī)金屬配位材料一般測(cè)到四五十度也是可以的。廣角XRD是*常用到的測(cè)試條件，有機(jī)、無(wú)機(jī)材料判斷晶型、物相類型、PDF卡片等基本都是通過(guò)廣角XRD測(cè)試得到的譜圖分析得到的。一般大家口中的XRD，沒(méi)有特別說(shuō)明測(cè)試條件的都是指的廣角XRD，有時(shí)為了區(qū)別于塊體薄膜這些樣品形態(tài)的，也叫PXRD，即粉末XRD。

　　2、小角XRD

　　小角XRD和廣角XRD對(duì)應(yīng)，即測(cè)試低角度區(qū)域，稱為小角XRD，測(cè)試范圍一般為0.5-10 °。小角XRD一般可以探測(cè)到更多的微觀信息，比如介孔樣品除了做物理吸脫附的表征，也可以通過(guò)測(cè)試小角XRD驗(yàn)證介孔是否規(guī)整。

　　3、變溫XRD

　　變溫XRD，顧名思義，就是改變溫度測(cè)試XRD，可測(cè)溫度范圍是95 K-1200℃，測(cè)試氣氛可以是空氣、氮?dú)?、氬氣、真空或者二氧化碳。一般情況下需要設(shè)置測(cè)試的溫度點(diǎn)，如室溫、100 ℃、300 ℃、500 ℃等，升溫速率以及XRD的角度測(cè)試范圍。此外，還要求樣品在測(cè)試溫度范圍內(nèi)不熔化。

　　4、微區(qū)XRD

　　微區(qū)XRD可以測(cè)試指定某個(gè)區(qū)域的XRD譜圖，但是測(cè)試區(qū)域需要大于等于0.5 mm，不能太小。另外測(cè)試角度范圍默認(rèn)是5-90 °，其他角度需要先和老師溝通后再做決定。比如需要測(cè)試塊體樣品（尺寸要求是長(zhǎng)寬一般1-2 cm，厚度不超過(guò)5 mm）上面某一個(gè)或一些小區(qū)域的XRD，就可以用微區(qū)XRD來(lái)測(cè)試。

　　5、掠入射XRD

　　掠入射XRD（GIXRD）是專門用來(lái)測(cè)試薄膜樣品的手段。測(cè)試光是平行光，相對(duì)于常規(guī)的衍射光來(lái)說(shuō)能量較小，因此掠入射測(cè)試XRD的譜圖絕對(duì)峰強(qiáng)相對(duì)較弱。但是平行光可以更好的關(guān)注薄膜表面的信息，也不容易測(cè)到基底，因此掠入射XRD專門用于測(cè)試薄膜樣品。薄膜尺寸沒(méi)有特別要求，但是需要測(cè)試面平整光潔，不要有遮擋物，這樣測(cè)試結(jié)果才真實(shí)可信。

xrd測(cè)試時(shí)間怎么算？

XRD測(cè)試時(shí)間一般由掃描的角度范圍和掃描速率決定，測(cè)試時(shí)間=掃描角度范圍/掃描速率，假如您的樣品掃描角度范圍是10-90°,掃描速率是10°/min,那么測(cè)試時(shí)間=80/10=8min。