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DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

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SEM斷面制樣

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2023-08-10 16:02作者:鑠思百檢測(cè)

經(jīng)常有小伙伴來(lái)了解SEM斷面制樣,今天鑠思百檢測(cè)小編整理了關(guān)于SEM斷面制樣的相關(guān)資料,希望能幫到大家。

掃描電鏡是精密儀器 ,在做SEM測(cè)試時(shí),樣品的制備很關(guān)鍵,如果如果樣品存在問(wèn)題或制樣不當(dāng),不僅無(wú)法得到理想的效果,還會(huì)對(duì)電鏡造成損傷,甚至造成設(shè)備故障。我們來(lái)看看掃描電鏡樣品制備的要求:

1 .對(duì)試樣的要求

試樣可以是塊狀或粉末顆粒,在真空中能保持穩(wěn)定,含有水分的試樣應(yīng)先烘干除去水分,或使用臨界點(diǎn)干燥設(shè)備進(jìn)行處理。表面受到污染的試樣,要在不破壞試樣表面結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行適當(dāng)清洗,然后烘干。

2、SEM斷面制樣

新斷開(kāi)的斷口或斷面,一般不需要進(jìn)行處理,以免破壞斷口或表面的結(jié)構(gòu)狀態(tài)。有些試樣的表面、斷口需要進(jìn)行適當(dāng)?shù)那治g,才能暴露某些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),則在侵蝕后應(yīng)將表面或斷口清洗干凈,然后烘干。對(duì)磁性試樣要預(yù)先去磁,以免觀察時(shí)電子束受到磁場(chǎng)的影響。試樣大小要適合儀器專用樣品座的尺寸,不能過(guò)大,樣品座尺寸各儀器不均相同,一般小的樣品座為Φ3~5mm,大的樣品座為Φ30~50mm,以分別用來(lái)放置不同大小的試樣,樣品的高度也有一定的限制,一般在5~10mm左右。

2 .掃描電鏡的塊狀試樣制備是比較簡(jiǎn)便的。對(duì)于塊狀導(dǎo)電材料,除了大小要適合儀器樣品座尺寸外,基本上不需進(jìn)行什么制備,用導(dǎo)電膠把試樣粘結(jié)在樣品座上,即可放在掃描電鏡中觀察。對(duì)于塊狀的非導(dǎo)電或?qū)щ娦暂^差的材料,要先進(jìn)行鍍膜處理,在材料表面形成一層導(dǎo)電膜。以避免電荷積累,影響圖象質(zhì)量。并可防止試樣的熱損傷。

3 、粉末試樣的制備:先將導(dǎo)電膠或雙面膠紙粘結(jié)在樣品座上,再均勻地把粉末樣撒在上面,用洗耳球吹去未粘住的粉末,再鍍上一層導(dǎo)電膜,即可上電鏡觀察。

4 、鍍膜:鍍膜的方法有兩種,一是真空鍍膜,另一種是離子濺射鍍膜。離子濺射鍍膜的原理是:在低氣壓系統(tǒng)中,氣體分子在相隔一定距離的陽(yáng)極和陰極之間的強(qiáng)電場(chǎng)作用下電離成正離子和電子,正離子飛向陰極,電子飛向陽(yáng)極,二電極間形成輝光放電,在輝光放電過(guò)程中,具有一定動(dòng)量的正離子撞擊陰極,使陰極表面的原子被逐出,稱為濺射,如果陰極表面為用來(lái)鍍膜的材料(靶材),需要鍍膜的樣品放在作為陽(yáng)極的樣品臺(tái)上,則被正離子轟擊而濺射出來(lái)的靶材原子沉積在試樣上,形成一定厚度的鍍膜層。 離子濺射時(shí)常用的氣體為惰性氣體氬,要求不高時(shí),也可以用空氣,氣壓約為 5 X 10 -2 Torr 。離子濺射鍍膜與真空鍍膜相比,其主要優(yōu)點(diǎn)是:( 1 )裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用方便,濺射一次只需幾分鐘,而真空鍍膜則要半個(gè)小時(shí)以上。

( 2 )消耗貴金屬少,每次僅約幾毫克。

( 3 )對(duì)同一種鍍膜材料,離子濺射鍍膜質(zhì)量好,能形成顆粒更細(xì)、更致密、更均勻、附著力更強(qiáng)的膜。


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