鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹(shù)脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線(xiàn)光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線(xiàn)衍射儀(XRD)X射線(xiàn)散射儀SAXS/WAXSX射線(xiàn)殘余應(yīng)力分析儀X射線(xiàn)熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見(jiàn)反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線(xiàn)同步輻射吸收譜之硬X射線(xiàn)同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類(lèi)原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類(lèi)Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類(lèi)型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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AFM和PFM的區(qū)別

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發(fā)表時(shí)間:2024-01-13 15:05作者:鑠思百檢測(cè)

AFM和PFM的區(qū)別是什么?PFM和AFM是不同的儀器,但是AFM可以通過(guò)不同的工作模式來(lái)實(shí)現(xiàn)PFM的功能。PFM是一種用于研究材料壓電性質(zhì)的儀器,它利用微小的電壓刺激樣品,并測(cè)量產(chǎn)生的應(yīng)變響應(yīng)。PFM通常需要使用掃描探針顯微鏡(SPM)來(lái)定位和操縱樣品。AFM是另一種掃描探針顯微鏡,它通過(guò)測(cè)量原子力來(lái)生成樣品的圖像。AFM可以通過(guò)一種稱(chēng)為輕敲模式(tapping mode)的工作模式來(lái)實(shí)現(xiàn)PFM的功能。在這種模式下,AFM的探針會(huì)以高頻振蕩的方式輕輕敲擊樣品表面,從而產(chǎn)生壓電響應(yīng)。然后,儀器可以測(cè)量這個(gè)響應(yīng),從而得到樣品的壓電性質(zhì)。因此,PFM和AFM是不同的儀器,但是AFM可以通過(guò)輕敲模式來(lái)實(shí)現(xiàn)PFM的功能。

(Piezoresponse force mode)PFM是(Scanning probe microscopy)SPM中的一種模式.是檢測(cè)振幅相位信號(hào)的.可以同時(shí)觀測(cè)電疇和表面形貌.



AFM全稱(chēng)Atomic Force Microscope,此前STM由于原理的限制只能測(cè)導(dǎo)體和部分半導(dǎo),AFM原子力顯微鏡出來(lái)后彌補(bǔ)了STM的不足。AFM是在STM的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的。


STM

STM利用量子理論中的隧道效應(yīng),當(dāng)樣品與針尖的距離非常接近時(shí)在外加電場(chǎng)的作用下,電子會(huì)穿過(guò)兩個(gè)電極之間的勢(shì)壘流向另一電極。隧道電流強(qiáng)度對(duì)針尖與樣品表面之間距非常敏感,距離越小隧道電流將增加,所以利用電子反饋線(xiàn)路控制隧道電流的恒定,并控制針尖在樣品表面的掃描,則探針高低的變化就反映出了樣品表面的起伏。

AFM

利用原子間的范德華力作用,來(lái)呈現(xiàn)樣品的表面特性。當(dāng)原子間距離減小到一定程度以后,原子間的作用力將迅速上升。將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定,另一端有一微小的針尖,由于針尖尖端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力。因此,由顯微探針受力在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)的大小就可以直接換算出樣品表面的高度,獲得樣品表面形貌的信息,過(guò)程中我們可以恒定力量也可以恒定高度。

AFM的常用三種模式如何選擇?

接觸模式

接觸模式探針尖端和樣品做“柔性接觸”,接觸力引起懸臂彎曲進(jìn)而得到表面圖像,但是可能使樣品表面彎曲,長(zhǎng)時(shí)間后針尖有鈍化現(xiàn)象影響圖像質(zhì)量出現(xiàn)誤判,接觸模式可以產(chǎn)生穩(wěn)定的、分辨率高的圖像。但是由于接觸所以容易變形、移動(dòng)的樣品不適合。

非接觸模式

針尖在樣品上方振動(dòng),不與樣品接觸,探測(cè)器檢測(cè)的是范德華作用力和靜電力等作用力,該模式要求顯微鏡的靈敏度更高,當(dāng)針尖和樣品距離太長(zhǎng)時(shí),分辨率比其他模式都要低。適用于柔軟、有彈性的樣品。

輕敲(間歇性接觸)模式

微懸臂做受迫振動(dòng),振蕩的針尖輕輕敲擊樣品表面,間斷的和樣品接觸,反饋系統(tǒng)控制微懸臂的振幅恒定,針尖就跟隨表面起伏上下移動(dòng)進(jìn)而獲得形貌信息。輕敲模式比非接觸模式靠近樣品,比接觸模式對(duì)樣品傷害更少,也能得到和接觸模式一樣的分辨率。適用于一些不牢固的樣品,像生物大分子這樣的軟樣品也比較適合。樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸的更有效。



后來(lái)在AFM基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)很多滿(mǎn)足其他測(cè)試功能的顯微鏡。


AFM特殊模塊功能附件

壓電力顯微鏡(PFM)即是在AFM基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)利用原子力顯微鏡導(dǎo)電探針檢測(cè)樣品的在外加激勵(lì)電壓下的電致形變量的顯微鏡。

光誘導(dǎo)力顯微鏡 (Photo-induced Force Microscope, PiFM) 通過(guò)脈沖激光激發(fā)至樣品和針尖,樣品吸收特定波長(zhǎng)的激發(fā)光后與針尖尖端形成偶極與偶極(電子云與電子云)的交互即樣品吸收特定紅外波長(zhǎng)后所產(chǎn)生的偶極矩變化??梢酝瑫r(shí)獲得AFM形貌圖和PiFM光誘導(dǎo)力圖(極化分布/特定波長(zhǎng)吸收)??梢詼y(cè)得10 nm空間分辨的可見(jiàn)~紅外吸收,也可以測(cè)得10 nm空間分辨的電磁場(chǎng)強(qiáng)。


鑠思百檢測(cè)這些都可以測(cè):KPFM(可搭載特殊模式KPFM,如明暗場(chǎng)、截面KPFM) 、PFM(壓電力顯微鏡)、EFM(靜電力顯微鏡)、MFM(磁力顯微鏡)、CAFM(導(dǎo)電力顯微鏡)、力曲線(xiàn)、SCM、QNM、高壓PFM。

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