AFM原子力顯微鏡測試 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2024-09-11 10:49作者:鑠思百檢測 AFM全稱Atomic Force Microscope,即原子力顯微鏡,它是在掃描隧道顯微鏡之后發(fā)明的一種高分辨的新型顯微儀器,具有原子級別的識別能力,可以在多種環(huán)境下(空氣或者具有溶液的環(huán)境下)對各種材料和樣品進(jìn)行納米級別的觀察與探測,包括對表面形貌進(jìn)行探測以及測量表面納米級的粗糙度。 目前,AFM(原子力顯微鏡)已廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域,包括半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、醫(yī)藥等研究領(lǐng)域中,成為科學(xué)研究中重要的工具之一。 AFM原子力顯微鏡應(yīng)用范圍: 1. 生物學(xué)和生物技術(shù),蛋白質(zhì)、 DNA、病毒、細(xì)菌、組織等; 2. 材料科學(xué),表面形貌形態(tài)、壓電性質(zhì)、粘滯力分析、摩擦特性分析等; 3. 磁材料,磁疇結(jié)構(gòu)成像、觀察因外部磁場引起的磁性的反轉(zhuǎn)、不同溫度下的磁結(jié)構(gòu)變化等; 4. 半導(dǎo)體和電學(xué)性質(zhì)測量,硅片等材料的表面形貌、表面電勢和電容測量、表面電荷分布圖、摻雜濃度分析、失效分析(局域?qū)щ娦院徒^緣層漏電流); 5. 聚合物和有機(jī)薄膜,球狀或柱狀晶體、聚合物單晶材料、聚合物納米顆粒、LB 膜、有機(jī)薄膜等; 6. 納米材料,納米粉體、納米復(fù)合材料、納米多孔材料; 7. 納米結(jié)構(gòu)材料, 富勒烯、碳納米管、納米絲、納米膠囊; 8. 納米電子學(xué),量子點(diǎn)、納米線、量子結(jié)構(gòu)。 AFM原子力顯微鏡可以測什么: 1. 力學(xué)性質(zhì):力曲線,楊氏模量,黏附力,摩擦力等; 2. 電磁學(xué)性質(zhì):表面電勢,導(dǎo)電原子力,壓電力響應(yīng),靜電力,掃描電容顯微鏡,磁場力顯微鏡等; 3. 光學(xué)性質(zhì):AFM-拉曼聯(lián)用; 4. 納米加工:納米壓痕/劃痕等。 AFM原子力顯微鏡測試案例:
AFM原子力顯微鏡樣品要求: 薄膜1.5cm*1.5cm 液體15ml 塊體測試面平整,大小1cm*1cm*0.5cm |