BET的介孔和全孔的區(qū)別

BET測試中介孔和全孔模式的主要區(qū)別如下：

• ?介孔模式?：僅分析孔徑范圍在 ?2-50 nm? 的介孔數(shù)據(jù)?。

• ?全孔模式?：同時覆蓋 ?微孔（0.5-2 nm）? 和 ?介孔（2-50 nm）? 的孔徑范圍?。
  （注：部分定義中微孔為0-2 nm?15，超微孔0-0.5 nm需特殊氣體如CO?測試?25）

• ?介孔模式?：提供介孔范圍內(nèi)的等溫吸脫附曲線、比表面積、孔容及孔徑分布數(shù)據(jù)?。

• ?全孔模式?：除介孔數(shù)據(jù)外，還包含微孔的等溫曲線、比表面積、孔容及孔徑分布，綜合反映材料的孔隙特性?。

• 全孔模式需更多樣品量（一般≥100 mg），因需覆蓋更寬孔徑范圍；介孔模式樣品量要求相對較低（通?！?50 mg）?。

• ?全孔模式?：適用于同時存在微孔和介孔的材料（如分子篩、MOFs等），需全面分析孔隙結(jié)構(gòu)?。

• ?介孔模式?：適用于僅關(guān)注介孔分布或微孔不顯著的材料（如部分催化劑、介孔硅等）?。

• 僅比表面積模式（p/p?=0.05-0.35）不提供孔結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)?。

• 大孔（>50 nm）需結(jié)合壓汞法等其他方法分析?