GB_T 23413-2009 納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定  X射線衍射線寬化法

【國家標準】標準號：GB / T 23413—2009

　中文名：納米材料晶粒尺寸及微觀應變的測定 X 射線衍射線寬化法

　范圍：

本標準規(guī)定了利用X射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應變的方法。 本標準采用的計算方法是近似函數(shù)法。

本標準適用于測定晶粒尺寸一般不大于100nm，微觀應變一般不大于 0.1%的納米材料。

原理

當材料的晶粒尺寸減小時，參與同一布拉格（Bragg）方向衍射的晶面層數(shù)將變少。由衍射的基本原理可以知道，在這種條件下，由各原子面所衍射的X射線合成后，在略微偏離該Bragg角的方向上還會存在一定的強度，從而引起衍射線形的寬化。

　發(fā)布時間：2009-04-01

　實施時間：2009-12-01

　頒發(fā)部門：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

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