掃描電子顯微鏡 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-06-18 16:36作者:鑠思百檢測(cè)來(lái)源:鑠思百檢測(cè) 觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是,①有較高的放大倍數(shù),2-20萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào);②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu);③試樣制備簡(jiǎn)單。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。
電鏡標(biāo)準(zhǔn) · 掃描電鏡SEM標(biāo)準(zhǔn) · GB/T 30543-2014 納米技術(shù)單壁碳納米管的透射電子顯微術(shù)表征方法 · GB/T 30703-2014 微束分析電子背散射衍射取向分析方法導(dǎo)則 · GB/T20726-2015 微束分析電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數(shù)及核查方法 · GB/T 19501-2013 微束分析電子背散射衍射分析方法通則 · GB/T 29762-2013 碳纖維纖維直徑和橫截面積的測(cè)定 · GB/T 16594-2008 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則 · GB/T 20307-2006 納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則 · GB/T 30110-2013 空間紅外探測(cè)器碲鎘汞外延材料參數(shù)測(cè)試方法 · GB/T 21638-2008 鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則 · GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測(cè)到的樣品面積的測(cè)定 · GB/T 28873-2012 納米顆粒生物形貌效應(yīng)的環(huán)境掃描電子顯微鏡檢測(cè)方法通則 · GB4824-2004 工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療(ISM)射頻設(shè)備電磁騷擾特性限值和測(cè)量方法 · GB/T 25189-2010 微束分析.掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測(cè)定方法 · GB/T 14593-2008 山羊絨、綿羊毛及其混合纖維定量分析方法.掃描電鏡法 · GB/T 17618-2015 信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值和測(cè)量方法 · GB/T 15074-2008 電子探針定量分析方法通則 · GB/T 10988-2009 光學(xué)系統(tǒng)雜(散)光測(cè)量方法 · GB/T 17618-1998 信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值和測(cè)量方法 · GB/T 22453-2008 硼酸鹽非線性光學(xué)單晶元件質(zhì)量測(cè)試方法 · GB/T 17722-1999 金屬蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法 |