鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網鉬網銅網超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計原子熒光光度計(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質聯用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質譜(SIMS)基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質聯用儀(PY-GC-MS)氣質聯用儀(GC-MS)同位素質譜儀液質聯用儀(LC-MS)質譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動態(tài)熱機械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯用儀(TG-IR)熱重紅外質譜聯用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質譜聯用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網絡矢量分析儀/矢量網絡分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導率儀電化學工作站腐蝕測試儀介電常數測定儀卡爾費休水分測定儀自動電位滴定儀電化學儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計有機鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機元素分析儀(EA)粘度計振動樣品磁強計(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機時同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數據分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術-XPS測試分析常規(guī)XRD數據分析成分指紋分析技術-紅外測試分析二維紅外光譜技術紅外(IR)數據分析拉曼數據分析三維熒光數據分析圓二色譜(CD)數據分析成分含量分析EPR/ESR數據分析VSM數據分析電化學數據分析矢量網絡數據分析電磁分析CT數據分析X射線吸收精細結構普(XAFS)數據分析穆斯堡爾譜數據分析小角散射(SAXS/WAXS)數據分析高端測試分析固體核磁數據分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數據分析化學結構分析EBSD數據分析TEM數據分析單晶XRD數據分析晶體結構確證技術-XRD精修XRD定性定量分析晶體結構分析BET數據分析其它數據分析需求熱分析數據處理數據分析作圖其他數據分析半導體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(HER)費米面(fermi surface)電子局域化函數(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項目纖維素、半纖維素、木質素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標理化-其它非標理化項目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學-常規(guī)指標糖化學液質聯用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質聯用GCMS全二維氣質GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質譜數據分析液相色譜-電感耦合等離子體質譜(LC-ICPMS)色譜質譜DOM(FT- ICR- MS)水質NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數據分析環(huán)境高端電池產品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質含量測定正極極片氧空位測定負極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負極顆粒粒徑分析負極極片孔洞分析負極顆粒包覆層觀察負極顆粒羥基含量測定負極極片包覆層觀察負極表面SEI膜分析XPS法負極極片SEI膜成分分析與厚度測定負極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質子交換膜雜質元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結強度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產品-隔膜電池產品-優(yōu)勢項目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學成分正極材料-晶體結構正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結構正極材料-壓實密度正極材料-振實密度電池產品-正極材料負極材料-PH值負極材料-比表面積負極材料-層間距 石墨化度負極材料成分分析負極材料-磁性異物負極材料-粉末壓實密度負極材料-固定碳含量負極材料-化學成分負極材料-粒徑分布負極材料-石墨鑒定負極材料-水分負極材料-限用物質含量負極材料-形貌與結構負極材料-陰離子的測定負極材料-有機物含量負極材料-真密度負極材料-振實密度負極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產品-負極材料電解液-電導率電解液-化學元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產品-電解液電池產品-隔膜電池產品-隔膜
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單晶X衍射分析儀(可高溫)

 
價格
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PS請附帶委托測試單



單晶衍射


?設備型號


XtaLAB Synergy


?樣品準備須知?。?!


注意事項:

1、對于大環(huán)化合物、大孔道MOF、簇合物和主客體分子等單晶,不按常規(guī)收費,價格另議。預約前和工程師溝通好費用。

2、單晶尺寸要大于100微米,寄樣的時候,有母液的隨母液一起寄出。單晶比較脆弱,最好用一些軟東西包裹一下,再寄送。

3、測試收費情況:晶體上機測試后,如果沒有衍射點,不收費。如果有衍射點,但是晶體質量不好的,達不到收集數據的標準,收個晶胞費100。

另外,測試出來,不是自己的預期結構,正常收測試+解析費用。

4、孿晶拆分處理,另加100-200元/樣。

具體有其他疑問請聯系工程師。


?樣品測試填寫要求注意事項


1.樣品數量填寫需要測試樣品的數量

2.樣品編號(名稱)請輸入該組樣品編號,以逗號分隔,例如1,2,3

3.樣品成份

4. 樣品是否是純有機單晶,且分子量低于300

5. 其他單晶具體類型:純有機單晶(分子量大于300)/純無機單晶/有機無機雜化/MOF類單晶

6.是否需要封管:是/否

對于易風化的單晶,需要采用封管制樣,成功是收200/樣的前處理費用,不成功是收100/樣的前處理費用

7.是否屬于大環(huán)/超分子結構:是/否

8. 是否需要測手性結構:是/否

9. 是否有母液:是/否

母液主要成分

10. 具體測試內容:只掃晶胞/只測試/測試加解析

只掃晶胞都是在常溫鉬靶條件下進行。

測試條件:常溫鉬靶/低溫鉬靶/常溫銅靶/低溫銅靶/常溫Ga靶/低溫Ga靶

如果單晶為純有機化合物,測絕對構型一般需要銅靶!帶重原子的化合物可以用鉬靶進行嘗試。

11.樣品衍射弱或晶體尺寸小,需要更換靶材測試,是否同意老師直接更換

同意根據實際情況更換靶材調整收費/不同意

試溫度或靶材可能會根據晶體情況進行修改, 最終費用以測試實際情況為準。

12.當結構有多重孿晶、無序出現時,是否同意老師直接解析結構

同意根據實際情況更換靶材調整收費/不同意

由于解析難度變大,需要增加費用,具體金額以最終實驗報價為準。



?測試提示:


1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。

2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產生損傷,測試后會對樣品產生哪些變化;

3.客戶需提供詳細的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細測試參數及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;

4.測試人員與顧客通過QQ,微信或郵件溝通,出現測試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據;請加QQ和技術人員交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規(guī)的樣品,一經發(fā)現將追究其法律責任。


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