微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

PS：送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單”。

微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀

?設(shè)備型號(hào)

Ceyear 3672B VNA;安捷倫 PNA-N5244A

?樣品準(zhǔn)備須知?。?！

1，粉末樣品至少200mg（不需要提供石蠟）；

2，塊體樣品測(cè)試同軸法，樣品尺寸精度要求很高，內(nèi)徑3.04，外徑7mm；厚度：不限，一般統(tǒng)一選擇（ 2±0.040 mm）；

3，塊體樣品測(cè)試波導(dǎo)法，不同范圍對(duì)應(yīng)不同尺寸，要求樣品表面盡量平整光滑、無彎曲。樣品尺寸：標(biāo)準(zhǔn)尺寸或者長(zhǎng)寬尺寸偏大2-3mm，樣品厚度：不限，微米級(jí)別-20mm都可以，對(duì)于厚度小于0.5mm的薄膜，由于較脆弱，制樣不易，盡量大小要提供比標(biāo)準(zhǔn)尺寸大一些，以免出現(xiàn)漏磁，造成數(shù)據(jù)偏差。

標(biāo)準(zhǔn)尺寸具體如下（寬*長(zhǎng)，厚度不限）：

1.13-1.73GHz：82.4*164.8 mm

1.72-2.61 GHz：54.46*108.92 mm

2.60-3.95 GHz：33.89*71.84 mm

3.94-5.99 GHz：22.0*47.25 mm

5.38-8.17 GHz：15.75*34.70 mm

8.2-12.4GHz：22.9*10.2mm

12.4-18.0GHz：15.9*8.03mm

18.0-26.5GHz：10.95*4.5mm

26.0-40.0GHz：7.15*3.60mm；

4，塊體樣品測(cè)試弓形法，要求 180*180mm，300*300mm，兩個(gè)尺寸中的一種（直接測(cè)吸波效率的，測(cè)不了電磁參數(shù)）。

5，SPDR 接受塊體樣品，測(cè)試需要厚薄均勻，介電常數(shù)＞20，

尺寸具體如下（長(zhǎng)寬/直徑范圍，厚度）：

1G：110-190mm，3mm

2.5G：60-120mm，3mm

3G：50-120mm，3mm

5G：50-100mm，1.6mm

10G：30-100mm，1mm

15G：20-100mm，0.5mm

20G：20-40mm，0.5mm

28G：20-40mm，0.5mm

39G：20-40mm，0.5mm

6，準(zhǔn)光腔：測(cè)試需要厚薄均勻，介電常數(shù)＞20，長(zhǎng)＞40mm,寬＞40mm，厚度＜1mm

7，導(dǎo)電性太好的樣品建議測(cè)試屏蔽效能，測(cè)試電磁參數(shù)可能會(huì)有異常，請(qǐng)慎重選擇！

?樣品測(cè)試填寫要求注意事項(xiàng)

1.樣品數(shù)量：填寫需要測(cè)試樣品的數(shù)量

2.樣品編號(hào)(名稱)：請(qǐng)輸入該組樣品編號(hào)，以逗號(hào)分隔，例如1,2,3

3. 樣品成分：

4.測(cè)試方法：同軸法/波導(dǎo)法/弓形法（測(cè)試結(jié)果直接是TM波數(shù)據(jù)）/SPDR/準(zhǔn)光腔

波導(dǎo)法一般是測(cè)屏蔽效能，測(cè)試吸波性能效果可能不好。弓形法只能測(cè)試吸波性能，測(cè)不了電磁屏蔽，測(cè)試結(jié)果是TM波數(shù)據(jù)。

5.測(cè)試內(nèi)容【可多選】：吸波性能（介電常數(shù)+磁導(dǎo)率）/電磁屏蔽（S參數(shù)）

6.樣品形態(tài)：粉末/塊體

塊體樣品測(cè)試同軸法，要求：內(nèi)徑3.04mm，外徑7mm，厚度：不限，一般統(tǒng)一選擇（ 2±0.040 mm）

?測(cè)試提示：

1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；

4.測(cè)試人員與顧客通過QQ或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流：82187958。微信：

15071040697

5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。