掃描電子顯微鏡SEM

?請(qǐng)下載：送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單”。SEM測(cè)試要求模板（附件)

掃描電子顯微鏡SEM

u設(shè)備型號(hào)

熱場(chǎng)：SEM（蔡司Zeiss sigma300）Zeiss Geminisem 300

EDS（牛津 OxfordX-MAX）

冷場(chǎng)：日立SU8230

u樣品準(zhǔn)備須知?。?！

1、此鏈接預(yù)約下單拍攝不開(kāi)視頻，若需要安排SEM現(xiàn)場(chǎng)/云現(xiàn)場(chǎng)，請(qǐng)下單SEM現(xiàn)場(chǎng)/云現(xiàn)場(chǎng)

2、粉末、液體、薄膜、塊體均可。粉末10mg，塊體樣品直徑≤1cm，厚度＜1cm，樣品質(zhì)量不超過(guò)200g，味道很大，易揮發(fā)的樣品需提前跟工程師聯(lián)系確定是否能做，測(cè)試過(guò)程中會(huì)升華堵住光瀾，損壞儀器；

3、 混凝土，珊瑚沙，氣凝膠，水凝膠，木材等需要抽真空時(shí)間非常長(zhǎng)的樣品尺寸請(qǐng)盡可能直徑≤5mm，厚度≤5mm，送樣前請(qǐng)一定跟工程師確認(rèn)后再下單；

4、 需要脆斷的樣品，尺寸需要≥2*2cm，厚度＜0.5cm，較厚的樣品建議尺寸準(zhǔn)備大些；如果需要特殊制樣的樣品，比如打磨、腐蝕，下單前務(wù)必與工程師溝通確認(rèn)。

5、礦物，樹(shù)脂鑲嵌類樣品等需看不同相分布用背散射模式拍攝請(qǐng)?zhí)崆?/span>向工程師說(shuō)明，，須注意背散分辨率沒(méi)有常規(guī)二次電子探頭高；

6、導(dǎo)電性不好或強(qiáng)磁樣品建議選擇噴金，如果樣品由于您要求不噴金而導(dǎo)致效果不好，測(cè)試?yán)蠋熆赡懿缓冒才艔?fù)測(cè)；實(shí)驗(yàn)室常用靶材是純金（Au）、純鉑（Pt）、金鈀合金（Au/Pd），需要能譜時(shí)待測(cè)元素不能與靶材重合，對(duì)靶材有特殊需求請(qǐng)聯(lián)系工程師。

7、 請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)檢查您的樣品，若發(fā)現(xiàn)以弱磁強(qiáng)磁充當(dāng)非磁 或者 以強(qiáng)磁充當(dāng)弱磁非磁，我們將可能無(wú)法安排您的實(shí)驗(yàn)，不承擔(dān)以此造成的時(shí)間和樣品損失；而且因隱瞞樣品信息導(dǎo)致儀器損壞，可能需要您承擔(dān)全部賠償責(zé)任！

8.塊體測(cè)試如需同時(shí)拍攝表面和截面，需要分組預(yù)約，按兩個(gè)樣品收費(fèi)，請(qǐng)務(wù)必標(biāo)記清楚測(cè)試面。

9.一般測(cè)試時(shí)會(huì)盡量選擇低電壓進(jìn)行拍攝，若對(duì)工作電壓有特殊要求，請(qǐng)?zhí)崆皞渥ⅰ?/span>

10. 默認(rèn)圖片分辨率為1024*768，分辨率影響掃描所用時(shí)間，若有其他分辨率要求，請(qǐng)具體說(shuō)明，實(shí)驗(yàn)室根據(jù)具體要求調(diào)整收費(fèi)。

11.不接受客戶自己制好的樣品，（比如銅網(wǎng)、硅片，玻璃，薄膜，或掉渣樣，熔點(diǎn)低于100度的樣品），一定是不能進(jìn)行拍攝，需要客戶提供樣品成分，證明樣品沒(méi)有磁性，樣品我們處理粘牢，熔點(diǎn)過(guò)低的樣品不能測(cè)。（含有易揮發(fā)的元素如鹵素，P，S，有機(jī)物等易揮發(fā)和熔點(diǎn)低的樣品，要判斷后再安排測(cè)試）

u樣品測(cè)試填寫要求注意事項(xiàng)

1.樣品數(shù)量：填寫需要測(cè)試樣品的數(shù)量

2.樣品編號(hào)(名稱)：請(qǐng)輸入該組樣品編號(hào)，以逗號(hào)分隔，例如1,2,3

3.樣品穩(wěn)定性：樣品如果不穩(wěn)定如：易掉渣、易分解、易氧化、易吸潮、易融化，或者其他情況，請(qǐng)?jiān)诖藗渥⒄f(shuō)明。不穩(wěn)定樣品請(qǐng)注意密封，并提前與工程師溝通！

4.樣品成分：請(qǐng)務(wù)必寫清楚樣品成分，對(duì)于液體樣品，注明溶劑，尤其是有毒、有害、有腐蝕性的溶劑

5.樣品形態(tài)：樣品的不同形態(tài)也需在此說(shuō)明，液體備注溶劑成分和濃度，塊體請(qǐng)備注測(cè)試面，測(cè)試面的反面請(qǐng)問(wèn)標(biāo)簽紙畫X并同時(shí)注意樣品的尺寸及厚度，薄膜注意標(biāo)記測(cè)試面，如果厚度和尺寸超過(guò)規(guī)定大小，請(qǐng)與工程師聯(lián)系。粉末樣品需要保持干燥，生物樣品需要提前處理。

6.樣品是否具有放射性：如果樣品有放射性元素請(qǐng)?jiān)诖藗渥ⅰ?/span>

7.是否含有S、F、Cl、I、Br、Hg、P等元素： 如果含有這些元素請(qǐng)?jiān)诖藗渥?/span>，并注明含量。

8.樣品是否有磁性：如果吸鐵石吸不起來(lái)，且不含磁性元素鐵鈷鎳，則為非磁樣品。如果吸鐵石吸不起來(lái)，含有磁性元素鐵鈷鎳，則為弱磁樣品。如果吸鐵石吸得起來(lái)，無(wú)論是否含有磁性元素，均為強(qiáng)磁樣品。

9.是否需要噴金：導(dǎo)電性不好或強(qiáng)磁樣品必須噴金，否則無(wú)法拍攝。

實(shí)驗(yàn)室常用靶材是純金（Au）、純鉑（Pt）、金鈀合金（Au/Pd），需要能譜時(shí)待測(cè)元素不能與靶材重合，對(duì)靶材有特殊需求請(qǐng)聯(lián)系工程師。

10.測(cè)試模式：有兩種：二次電子、背散射（BSE）。背散射模式和二次電子模式為二選一模式測(cè)試，只提供一種測(cè)試模式下的測(cè)試結(jié)果！常規(guī)看樣品形貌選二次電子，表面光滑的礦物、樹(shù)脂鑲嵌類塊體樣品需看不同相分布的可以選背散，其產(chǎn)額與樣品原子序數(shù)呈遞增關(guān)系，原子序數(shù)越大背散射電子越多，探頭接收到的信號(hào)越強(qiáng)，反映在圖像上就越亮，須注意分辨率沒(méi)有常規(guī)二次電子探測(cè)器高。

11.測(cè)試內(nèi)容(可多選)：形貌、能譜點(diǎn)掃、能譜線掃、Mapping

形貌必選（每樣提供8-10張圖片左右）！能譜點(diǎn)掃能得到元素半定量數(shù)據(jù)（一個(gè)樣正常打1個(gè)點(diǎn)，最多打2個(gè)點(diǎn)，超出需額外收費(fèi)），線掃和mapping如需元素半定量數(shù)據(jù)請(qǐng)備注清楚（默認(rèn)只測(cè)1個(gè)區(qū)域，超出需要額外收費(fèi)）。正常能譜只能分析C及后面的元素！

12. 形貌拍攝目的/重點(diǎn): 請(qǐng)說(shuō)明形貌拍攝的具體要求（例如：主要關(guān)注多孔結(jié)構(gòu)或?qū)訝罱Y(jié)構(gòu)）。

13. 形貌具體拍攝放大倍數(shù)/標(biāo)尺要求: 放大倍數(shù)理論可選范圍為150倍-10W倍，高倍下拍攝可能不清晰，具體效果和樣品實(shí)際情況相關(guān)。

如果需要與之前的訂單或樣品進(jìn)行對(duì)比，建議保持標(biāo)尺一致，具體可咨詢負(fù)責(zé)工程師。

14. 請(qǐng)描述打點(diǎn)能譜的位置、檢測(cè)元素及具體要求：說(shuō)明打點(diǎn)能譜的位置要求，放大倍數(shù)。下單前請(qǐng)務(wù)必確定樣品元素信息，非磁樣品默認(rèn)不含有磁性元素，即能譜不測(cè)鐵，鈷，鎳，錳等磁性元素

15. 請(qǐng)描述打線能譜的位置、檢測(cè)元素及具體要求：說(shuō)明打線能譜的位置要求，放大倍數(shù)

下單前請(qǐng)務(wù)必確定樣品元素信息，非磁樣品默認(rèn)不含有磁性元素，即能譜不測(cè)鐵，鈷，鎳，錳等磁性元素

16. 請(qǐng)描述mapping的位置、檢測(cè)元素及具體要求:下單前請(qǐng)務(wù)必確定樣品元素信息，非磁樣品默認(rèn)不含有磁性元素，即能譜不測(cè)鐵，鈷，鎳，錳等磁性元素請(qǐng)描述mapping需要測(cè)試的位置及具體要求
。說(shuō)明打mapping的位置要求，放大倍數(shù)，以及需要測(cè)定的元素，如果對(duì)元素顏色有指定請(qǐng)備注清楚。

17.mapping是否需要元素半定量結(jié)果：需要請(qǐng)備注，未備注默認(rèn)不提供。

18.請(qǐng)務(wù)必根據(jù)測(cè)試要求給出相應(yīng)的參考圖：參考圖的參數(shù)盡量展示出來(lái)，如：電壓，標(biāo)尺，放大倍數(shù)，模式等。請(qǐng)盡可能提供參考圖(SEM形貌參考圖、能譜點(diǎn)掃/線掃參考圖、
mapping參考圖)，類似材料文獻(xiàn)上的圖也行，工程師會(huì)盡量找尋所相似位置進(jìn)行拍攝，如果不提供，工程師只能根據(jù)經(jīng)驗(yàn)和實(shí)際情況來(lái)拍攝，后續(xù)可能不太好安排復(fù)測(cè)。

uSEM樣品制樣圖示