透射電子顯微鏡（TEM測(cè)試）

透射電子顯微鏡（TEM）

Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球差校正電鏡

形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可） 選區(qū)電子衍射（環(huán)衍射、點(diǎn)衍射） 高分辨像（磁性、非磁樣品、生物樣均可） EDS能譜（點(diǎn)掃、線掃、面掃） 明場(chǎng)、暗場(chǎng) Mapping 球差電鏡

可以對(duì)各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察，電子衍射分析及高分辨電子顯微術(shù)研究，材料粒徑統(tǒng)計(jì)，晶體結(jié)構(gòu)及晶體性能進(jìn)行研究，配合能譜儀可以對(duì)各種元素進(jìn)行定性、及半定量的微區(qū)分析，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、生物、化學(xué)、環(huán)境、光電子等領(lǐng)域。

塊體樣品，要求樣品大小為直徑3mm的圓，厚度為200nm以下;

粉末和液體樣品，要求樣品能夠均勻分散在支持膜上并且干燥，粉末樣>0.01g,液體樣>5ml;

生物樣可做超薄冷凍切片制；

金屬樣、陶瓷樣、塊狀樣可以FIB制樣；

離子減薄需要樣品機(jī)械磨樣到100um。