透射電子顯微鏡（TEM-EDS測試）

?點擊下載：送樣請附帶“委托測試單”。TEM測試單模板（附件）

透射電子顯微鏡（TEM-EDS）

設(shè)備型號

1.電鏡：美國FEI talos F200 EDS:FEI super-X EDS   

2.電鏡：美國FEI Tecnai G2 F30

EDS:EDAX公司的Genesis

u項目簡介：

1. 主要用于無機(jī)材料（粉體）微結(jié)構(gòu)與微區(qū)組成的分析和研究，不適用于有機(jī)和生物材料；

2. 表征范圍：微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、晶體結(jié)構(gòu)、相組成、結(jié)構(gòu)缺陷、晶界結(jié)構(gòu)和組成等；

3. 成像：衍襯像、高分辨像 (HRTEM)、掃描透射像；

4. 微區(qū)成分： EDS 能譜的點、線和面分析，電子選區(qū)衍射。

u樣品測試填寫要求注意事項

1.樣品數(shù)量：填寫需要測試樣品的數(shù)量

2.樣品編號：請輸入該組樣品編號，以逗號分隔，例如1,2,3

3.樣品類型：納米復(fù)合材料（均勻的線/棒/顆粒/片等結(jié)構(gòu)）;核殼/包覆/負(fù)載/摻雜材料(非均質(zhì)材料)；高分子/有機(jī)物(纖維素/納米晶/脂質(zhì)體/膠束等，有機(jī)物、不耐電子輻射類樣品,不推薦做高分辨，純有機(jī)推薦低電壓TEM);量子點/碳點;有機(jī)框架材料(MOF/COF/ZIF/POF等多孔材料);合金

(金屬塊/FIB、離子減薄等處理過的塊狀金屬樣品,推薦做TEM云視頻)

4.樣品名稱及主要成分：請?zhí)顚懢唧w物質(zhì)/化學(xué)式/主要成分，比如：負(fù)載Ag顆粒的mof材料

5.樣品狀態(tài)：塊體/薄膜樣品若需FIB、離子減薄或包埋切片制樣，請?zhí)崆奥?lián)工程師15071040697；塊體/薄膜樣品厚度要達(dá)到100nm以下才能進(jìn)行TEM拍攝，建議走云視頻方式預(yù)約：

液體樣品因濃度不詳，會影響制樣及拍攝，不建議寄送液體樣品；如寄送液體樣品，且有需要稀釋后再制樣的請?zhí)崆罢f明！若樣品需要磷鎢酸或者醋酸鈾負(fù)染，請下單負(fù)染電鏡

6.樣品是否有磁性：弱磁：含有磁性元素，不能被磁鐵吸起；強(qiáng)磁：可以被磁鐵吸起。磁性樣品請務(wù)必提供粉末驗磁，若只能提供液體則按強(qiáng)磁算。

若樣品中含有Gd,Tb,Dy,Ho,Er等稀土元素，也請用磁鐵驗證磁性的強(qiáng)弱。

請務(wù)必仔細(xì)檢查您的樣品，若發(fā)現(xiàn)以弱磁強(qiáng)磁充當(dāng)非磁 或者 以強(qiáng)磁充當(dāng)弱磁非磁，我們將可能無法安排您的實驗，不承擔(dān)以此造成的時間和樣品損失；若因隱瞞樣品真實情況造成儀器損傷，將按照實際情況進(jìn)行賠付。

7.是否需要制樣：普通銅網(wǎng)：適用拍攝低倍材料或生物樣品；超?。哼m用納米晶、量子點等尺寸較小材料；微柵：適用管狀、棒狀、納米團(tuán)聚物樣品；鉬網(wǎng)：適用于含Cu樣品能譜采集。

8.自己制樣寄送的是：請備注清楚是FIB或者減薄等其他方式處理過的樣品；或是已經(jīng)制備在銅網(wǎng)上經(jīng)過包埋切片后制備好的銅網(wǎng)

9.所需測試項目(可多選)：形貌(高分辨)、能譜點掃、能譜線掃、能普面掃(mapping)、衍射、stem (haadf)

形貌（高分辨）：會提供15張左右的圖片，不單獨測能譜點掃/線掃/面掃/衍射/stem（haadf）！正常能譜只能分析C及后面的元素！需要單獨拍stem（haadf）模式下形貌，請選stem（haadf）模式。

衍射默認(rèn)不轉(zhuǎn)帶軸。

能譜點掃：能得到元索半定是數(shù)據(jù)(默認(rèn)打1個點能譜，超出需要額外收費)

能譜線掃：默認(rèn)只做一個區(qū)域

能普面掃(mapping)：默認(rèn)只做一個區(qū)域，提供一張stem模式的圖片，需要多個區(qū)域另外收費

衍射：默認(rèn)只做一個區(qū)域，由于粉末樣品的局限性，在tem.stem、選區(qū)衍封時不能轉(zhuǎn)晶帶軸,塊體樣品如有需要，下單前請先聯(lián)系工程師確認(rèn)。

10.mapping是否需要元素半定量結(jié)果：需要請備注，未備注默認(rèn)不提供。

uTEM樣品制樣圖示