X射線衍射XRD

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發(fā)表時(shí)間：2020-06-29 17:23作者：鑠思百檢測來源：鑠思百檢測

X?射線衍射XRD：利用晶體形成的X射線衍射，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。將具有一定波長的X射線照射到結(jié)晶性物質(zhì)上時(shí)，X射線因在結(jié)晶內(nèi)遇到規(guī)則排列的原子或離子而發(fā)生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強(qiáng)，從而顯示與結(jié)晶結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)的特有的衍射現(xiàn)象。

應(yīng)用范圍：

物相分析，可以對(duì)物質(zhì)的組成及物相進(jìn)行表征分析；

定性、定量分析，通過精修可對(duì)物質(zhì)的各組分進(jìn)行精確的定量分析；

高溫原位分析，通過高溫原位可以研究溫度對(duì)物質(zhì)晶型轉(zhuǎn)變的影響。

檢測項(xiàng)目：

廣角衍射，小角衍射，薄膜衍射，從小角到廣角，掠入射，物相半定量，變溫XRD

制樣要求：

固體粉末：均勻干燥，粒度小于70um(過200目)，質(zhì)量不少于100 mg;

塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出平整的表面，長寬都為1.5-1.7厘米厚度小于5毫米。

高溫XRD樣品的測試溫度要低于熔點(diǎn)（參考熱重測試數(shù)據(jù)）。

立即預(yù)約?

X射線衍射XRD

原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生最大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線。

滿足衍射條件，可應(yīng)用布拉格公式：2dsinθ=λ

應(yīng)用已知波長的X射線來測量θ角，從而計(jì)算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析;另一個(gè)是應(yīng)用已知d的晶體來測量θ角，從而計(jì)算出特征X射線的波長，進(jìn)而可在已有資料查出試樣中所含的元素。

以下是使用XRD確定未知晶體結(jié)構(gòu)分析過程：

XRD確定未知晶體結(jié)構(gòu)分析過程

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