鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計原子熒光光度計(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質譜(SIMS)基質輔助激光解吸電離飛行時間質譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質譜儀液質聯(lián)用儀(LC-MS)質譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動態(tài)熱機械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導率儀電化學工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費休水分測定儀自動電位滴定儀電化學儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計有機鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機元素分析儀(EA)粘度計振動樣品磁強計(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機時同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時間二次離子質譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術-紅外測試分析二維紅外光譜技術紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細結構普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學結構分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結構確證技術-XRD精修XRD定性定量分析晶體結構分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(HER)費米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項目纖維素、半纖維素、木質素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標理化-其它非標理化項目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學-常規(guī)指標糖化學液質聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質聯(lián)用GCMS全二維氣質GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質譜(LC-ICPMS)色譜質譜DOM(FT- ICR- MS)水質NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質含量測定正極極片氧空位測定負極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負極顆粒粒徑分析負極極片孔洞分析負極顆粒包覆層觀察負極顆粒羥基含量測定負極極片包覆層觀察負極表面SEI膜分析XPS法負極極片SEI膜成分分析與厚度測定負極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質子交換膜雜質元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結強度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學成分正極材料-晶體結構正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結構正極材料-壓實密度正極材料-振實密度電池產(chǎn)品-正極材料負極材料-PH值負極材料-比表面積負極材料-層間距 石墨化度負極材料成分分析負極材料-磁性異物負極材料-粉末壓實密度負極材料-固定碳含量負極材料-化學成分負極材料-粒徑分布負極材料-石墨鑒定負極材料-水分負極材料-限用物質含量負極材料-形貌與結構負極材料-陰離子的測定負極材料-有機物含量負極材料-真密度負極材料-振實密度負極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負極材料電解液-電導率電解液-化學元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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X射線光電子能譜儀(XPS測試)(變溫)

 
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送樣請附帶委托測試單。

X射線光電子能譜儀(XPS

設備型號

Thermo ESCALAB 250XI



樣品準備須知!??!

1,樣品要求粉末樣品提供20-30mg,量少請用鋁箔紙包好再裝到管子里寄送;塊狀/薄膜:長寬厚不超5*5*3mm。如果樣品尺寸大于5*5*3mm,會按尺寸增加費用,超過尺寸樣品/液體(含離子液體)等樣品請預約特殊XPS

2,測試說明:原子百分含量小于5%的元素可能測不出明顯信號!元素窄譜測試默認測最強峰軌道,H、He元素不可以測試,放射性元素請?zhí)崆皽贤?,元素Li-Mg測試1s軌道,Al-Zn測試2p軌道,Ga-Dy測試3d軌道,Ho-Lu測試4d軌道,Hf-Cm測試4f軌道。如有特殊要求請備注。

3,我們默認給測試的原始數(shù)據(jù),全譜數(shù)據(jù)只有圖譜,精細譜數(shù)據(jù)不矯正,(因不同的材料矯正方法不同),數(shù)據(jù)不平滑。

4,測試位置數(shù)量:默認是一個樣品測試一個位置需要測試多個位置按照多個樣品計費。薄膜、塊體等樣品,若樣品表面組分不均勻,會造成測試結果的差異。

5, 使用Al Kα X-ray會出現(xiàn)的重疊譜峰,當有重疊譜峰的時候直接定量的結果不能參考,常見重疊譜峰有Li1s&Co3p;B1s&P2s;C1s&Ru3d5/2,Ru3d3/2;C1s&K2p;O1s&NaKLL等。

6,特殊需求:樣品含S、FI、Br、HgCl、P等元素單質不能測試或其他特殊需求請聯(lián)系工程師。

7,樣品包裝要求:樣品制備好以后,盡可能進行真空密封,減少樣品吸附空氣中的污染物,對于某些元素的測試,比如常見的C、O,會有影響。

8,XPS測試需要樣品用導電膠固定在樣品臺上,所以測過的粉末樣品沒法回收,塊體樣品回收可能也受到污染或者破壞,建議盡量不回收樣品。

9,如需特殊事項,請備注留言,如數(shù)據(jù)格式(默認賽默飛VGD格式-軟件Avantage,島津VMS格式-軟件Casa,PHI-SPE格式-軟件Multipak),靶材,默認測試使用Al靶。



樣品測試填寫要求注意事項

1.樣品數(shù)量填寫需要測試樣品的數(shù)量

2.樣品編號(名稱)請輸入該組樣品編號,以逗號分隔,例如1,2,3

3. 樣品是否容易氧化需手套箱制樣:是/否

容易氧化以及接觸大氣變質的樣品,可選擇手套箱制樣,防止樣品氧化/變質,即要求同學真空包裝樣品。無法回收手套箱制樣的樣品,必然暴露大氣。若手套箱制樣結束后需要進行手套箱保存,請?zhí)崆皞渥⑶宄?/span>

4.樣品是否含有S、F、Cl、I、Br、Hg、P等元素:請備注清楚

5.待測元素是否含有以下元素:不含有u/TI()/As/Ga(單質)/Rn/Eu/Tb/Os

6.是否有刺激性氣味:實驗室會根據(jù)經(jīng)驗判斷有腐蝕性,有揮發(fā)性的樣品,有問題項目經(jīng)理會及時與您溝通!!

7.是否有磁性/含有鐵鈷鎳錳的成分:一般含有鐵鈷鎳錳成分,默認按磁性樣品處理!請用磁鐵吸少量樣品,如果能吸起來就是強磁,反之弱磁。請務必仔細檢查您的樣品,若發(fā)現(xiàn)以弱磁強磁充當非磁 或者 以強磁充當弱磁非磁,我們將可能無法安排您的實驗,不承擔以此造成的時間和樣品損失;而且因隱瞞樣品信息導致儀器損壞,需要您承擔全部賠償責任?。?!

8.測試類型:常規(guī)((全譜加精細譜)/刻蝕/濺射Mapping/角分辨/只做價帶譜VB-XPS/

只做價帶譜VB-XPS,就是只有價帶譜和精細譜C的數(shù)據(jù),其他沒有。如果需要精細譜加價帶譜選擇常規(guī)(全譜加精細譜)測試項目并在下方勾選價帶譜選項。

9.測試結果的數(shù)據(jù)格式:任一(不限)/vGP/VGD(使用Avantage軟件,賽默飛設備)




u測試提示:

1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。

2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷,測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化;

3.客戶需提供詳細的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;

4.測試人員與顧客通過QQ,微信或郵件溝通,出現(xiàn)測試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請加QQ和技術人員交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責任。





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