鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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掃描電鏡樣品制備

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發(fā)表時(shí)間:2020-07-10 17:05作者:鑠思百檢測(cè)來(lái)源:鑠思百檢測(cè)

掃描電鏡樣品制備

掃描電鏡樣品怎么制備?鑠思百檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室屬于科學(xué)研究檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室,對(duì)外提供場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡測(cè)試服務(wù)3-7個(gè)工作日左右出具掃描電鏡檢測(cè)數(shù)據(jù)。鑠思百檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室設(shè)備先進(jìn),為高校及企業(yè)提供科學(xué)研究的試驗(yàn)方案和強(qiáng)大的服務(wù)支持,支持各地上門取樣/寄樣測(cè)試服務(wù)。

檢測(cè)項(xiàng)目:

形貌觀察(磁性、非磁樣品、生物樣均可)

選區(qū)電子衍射(環(huán)衍射、點(diǎn)衍射)

高分辨像(磁性、非磁樣品、生物樣均可)

EDS能譜(點(diǎn)掃、線掃、面掃)

明場(chǎng)、暗場(chǎng)

Mapping

球差電鏡

應(yīng)用范圍:

可以對(duì)各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察,電子衍射分析及高分辨電子顯微術(shù)研究,材料粒徑統(tǒng)計(jì),晶體結(jié)構(gòu)及晶體性能進(jìn)行研究,配合能譜儀可以對(duì)各種元素進(jìn)行定性、及半定量的微區(qū)分析,廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、生物、化學(xué)、環(huán)境、光電子等領(lǐng)域。

掃描電鏡樣品制樣要求:

塊體樣品,要求樣品大小為直徑3mm的圓,厚度為200nm以下;

粉末和液體樣品,要求樣品能夠均勻分散在支持膜上并且干燥,粉末樣>0.01g,液體樣>5ml;

生物樣可做超薄冷凍切片制;

金屬樣、陶瓷樣、塊狀樣可以FIB制樣;

離子減薄需要樣品機(jī)械磨樣到100um

掃描電鏡塊狀樣品制備:

1、導(dǎo)電性材料

導(dǎo)電材料主要指金屬,一些礦物和半導(dǎo)體材料也有一定的導(dǎo)電性這種材料的樣品制備是最簡(jiǎn)單的只要樣品尺寸不超過SEM的要求(例如,樣品的最大直徑為pH25mm,最大厚度為20mm等),然后用雙面膠帶粘貼在托盤上,然后用導(dǎo)電銀漿將樣品與托盤連接(以確保良好的導(dǎo)電性),并等待銀漿。晾干(一般用臺(tái)燈近距離照射10分鐘,如果銀膏沒有完全晾干,抽真空時(shí)會(huì)不斷揮發(fā)蒸金,之后可以在掃描電鏡中直接觀察到但在樣品制備過程中,也應(yīng)注意:

①為了減少掃描電鏡的污染,保持良好的真空度,樣品尺寸應(yīng)盡可能小

②在切割樣品時(shí),避免樣品在加熱過程中產(chǎn)生的塑性變形或觀察表面上氧化層的形成。防止機(jī)械損壞或水、油、灰塵和其他污染物進(jìn)入

③當(dāng)觀察表面,特別是各斷口間隙有污染物時(shí),可用無(wú)水乙醇、丙酮或超聲波清洗這些污染物都是隱藏圖像細(xì)節(jié),造成樣品收費(fèi)和圖像質(zhì)量惡化的原因

④故障部件或電接觸斷裂處的油污、氧化層和腐蝕產(chǎn)物不易清除。觀察這些物質(zhì)往往有助于分析故障的原因如果確認(rèn)這些異物是故障后引入的,一般可以用塑料膠膠帶或醋酸纖維素薄膜粘貼幾次,然后用有機(jī)溶劑清洗去除

SEM樣品表面的氧化層一般難以去除。必要時(shí),可采用化學(xué)法或陰極電解法使試樣表面基本恢復(fù)原狀

為了同時(shí)觀察多個(gè)樣品,通常是同一類型的樣品,并在掃描電子鏡中快速找到所需的樣品,通常在1號(hào)樣品的膠帶上剪一個(gè)角,然后按逆時(shí)針順序放置樣品(觀察時(shí)也按逆時(shí)針順序放置)

2、非導(dǎo)電性材料

用于掃描電鏡的非導(dǎo)電塊體材料樣品的制備也相對(duì)簡(jiǎn)單,基本上可以與導(dǎo)電塊體材料樣品的制備相同,但需要注意的是,在涂覆導(dǎo)電銀漿時(shí),必須從托盤連接到塊體材料樣品的上表面因?yàn)樵谟^察過程中電子束直接照射在樣品的上表面

掃描電鏡粉末狀樣品的制備:

首先在掃描電鏡的載盤上粘上貼雙面膠帶,然后在載盤中心附近的膠帶上取少量粉末樣品,然后用橡皮球向載盤徑向向外輕輕吹(注意不要用嘴吹,以免唾液粘在樣品上或用工具拉粉,以免損傷試樣表面形貌),使粉均勻地分布在膠帶上,也可將粘結(jié)不牢的粉吹走(以免污染鏡體)

然后在膠帶邊緣涂上導(dǎo)電銀膏,將樣品與托盤連接起來(lái)銀漿干燥后,可以進(jìn)行最終的金蒸發(fā)處理(注:導(dǎo)電和非導(dǎo)電粉末樣品都必須進(jìn)行金蒸發(fā)處理,因?yàn)榧词箻悠肥菍?dǎo)電的,在粉末狀態(tài)下,顆粒之間緊密接觸的概率也很小除非使用更昂貴的碳導(dǎo)電雙面膠)

掃描電鏡溶液樣品的制備:

掃描電鏡溶液樣品一般采用薄銅帶作為載體首先在掃描電鏡載物盤上粘上貼雙面膠,然后貼上干凈的薄銅帶,然后小心地將溶液滴在銅帶上,待其干燥(一般用燈近距離照射10分鐘),然后觀察樣品量是否足夠如果不夠,再滴一次,再涂導(dǎo)電銀膏,干燥后蒸金.

鑠思百檢測(cè)優(yōu)點(diǎn):

1、大型儀器預(yù)約,提供近百種設(shè)備和服務(wù)項(xiàng)目。

2、支持各地上門取樣/寄樣檢驗(yàn)。

3、檢驗(yàn)周期短,費(fèi)用低。

4、測(cè)試工程師一對(duì)一服務(wù)

5、科研課題,高等院校。(適用于科研課題或是論文使用)

6、研制應(yīng)用。(研制新的商品,減少研制周期時(shí)間,減低研制成本費(fèi)用)

掃描電鏡樣品制備檢測(cè)流程:

1、客戶填寫測(cè)試要求(具體咨詢工程師樣品用量及具體要求)

2、寄樣。(填寫測(cè)試委托單,樣品郵寄)

3、收到樣品(聯(lián)系客服付款)

4、開始科學(xué)檢測(cè)。

5、3-7個(gè)工作日左右完成樣品檢測(cè)。(可加急)

6、接收數(shù)據(jù)

7、中后期業(yè)務(wù)。

上述是有關(guān)于掃描電鏡樣品制備檢測(cè)的相應(yīng)講解,若有其它檢驗(yàn)要求還可以網(wǎng)絡(luò)咨詢檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)工程師。

溫馨提示

1、不定期推出各種優(yōu)惠活動(dòng),詳情咨詢客服。

2、測(cè)試前聯(lián)系在線客服確認(rèn)測(cè)試條件、檢測(cè)費(fèi)用、檢測(cè)周期等。

檢測(cè)咨詢熱線:15071040697   黃工QQ:82187958

公司網(wǎng)站:www.gzbj666.cn

武漢鑠思百檢測(cè)技術(shù)有限公司


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文章分類: 科研設(shè)備
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