哪里可以測試EBSD（電子背散射衍射儀）

哪里可以測試EBSD（電子背散射衍射儀）

儀器名稱：

電子背散射衍射儀（EBSD）

儀器型號(hào)：

NOVA NanoSEM 230

檢測項(xiàng)目：

樣品的相、晶粒、極圖、取向分布、織構(gòu)

設(shè)備性能：

技術(shù)參數(shù):1. 分辨率

高真空模式　1.0nm @ 15kV

　　　　　　1.8nm @ 1kV

　　　　　　0.8nm @ 30kV(STEM探測器)

低真空模式　1.5nm @ 10kV(Helix探測器)

　　　　　　1.8nm @ 3kV(Helix探測器)

2. 加速電壓 200V - 30kV,連續(xù)可調(diào)

3. 電子束流范圍 0.3pA - 100nA, 連續(xù)可調(diào)

4. 樣品臺(tái)移動(dòng)范圍

Nova NanoSEM 230: X=Y=50mm

Nova NanoSEM 430: X=Y=100mm

Nova NanoSEM 630: X=Y=150mm

應(yīng)用范圍：

應(yīng)用于各種極具挑戰(zhàn)性的材料的形貌觀察、元素組成和分布測試、結(jié)構(gòu)和取向分析。

如金屬、納米顆粒和粉體、納米管和納米線等各種納米材料、多孔物質(zhì)(如硅、羥基磷灰石)、 塑料電子器件、玻璃基體材料、有機(jī)材料、高分子物質(zhì)、金剛石薄膜、半導(dǎo)體截面、晶體材料、生物樣品、各類薄膜材料和截面等。

制樣要求：

樣品高度小于15mm，直徑小于30mm。

*其他問題和特殊測試要求可在線溝通。

備注：

PS：送樣請(qǐng)附帶“委托測試單”。

測試提示：

1.可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；

4.測試人員與顧客通過QQ或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流：82187958。

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。

常見問題及回答：

常見圖譜：

其他問題和特殊測試要求可咨詢溝通。