哪里可以做TEM透射電鏡和SEM掃描電鏡測試

哪里可以做TEM透射電鏡和SEM掃描電鏡測試

掃描電鏡和透射電鏡的工作原理

從相似點開始, 這兩種設(shè)備都使用電子來獲取樣品的圖像。 他們的主要組成部分是相同的;   

· 電子源;

· 電磁和靜電透鏡控制電子束的形狀和軌跡;

· 光闌。

所有這些組件都存在于高真空中。   

現(xiàn)在轉(zhuǎn)向這兩種設(shè)備的差異性。 掃描電鏡（SEM）使用一組特定的線圈以光柵樣式掃描樣品并收集散射的電子。

而透射電鏡（TEM）是使用透射電子，收集透過樣品的電子。 因此，透射電鏡（TEM）提供了樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，如晶體結(jié)構(gòu)，形態(tài)和應(yīng)力狀態(tài)信息，而掃描電鏡（SEM）則提供了樣品表面及其組成的信息。   

而且，這兩種設(shè)備最明顯的差別之一是它們可以達到的最佳空間分辨率; 掃描電鏡（SEM）的分辨率被限制在?0.5nm，而隨著最近在球差校正透射電鏡（TEM）中的發(fā)展，已經(jīng)報道了其空間分辨率甚至小于50pm。

在SEM和TEM之間做出選擇

從所提到的一切來看，顯然沒有“更好”的技術(shù); 這完全取決于需要的分析類型。 當用戶想要從樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)獲得信息時，透射電鏡（TEM）是最佳的選擇，而當需要樣品表面信息時，掃描電鏡（SEM）是首選。 當然，主要決定因素是兩個系統(tǒng)之間的巨大價格差異，以及易用性。 透射電鏡（TEM）可以為用戶提供更多的分辨能力和多功能性，但是它們比掃描電鏡（SEM）更價格更高，需要更多操作技巧和復(fù)雜的前期制樣準備才能獲得滿意的結(jié)果。

TEM透射電鏡

適用領(lǐng)域

廣泛應(yīng)用于材料、化學(xué)、物理、地質(zhì)、地理、環(huán)境、生物、醫(yī)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體、高分子、陶瓷等學(xué)科及領(lǐng)域

主要功能

TEM形貌觀察及HRTEM，SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping

SEM掃描電鏡

儀器型號：

SEM（Tescan mira3,Zeiss sigma500 Zeiss Merlin Compact）

EDS（OxfordX-MAX）

檢測項目：

表面形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可），

EDS能譜（點掃、線掃、面掃），elements Mapping，EBSD

測試提示：

1.可開正規(guī)測試發(fā)票，附帶測試清單。

2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員，測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷，測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化；

3.客戶需提供詳細的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論，商定最終測試條件；

4.測試人員與顧客通過QQ或郵件溝通，出現(xiàn)測試糾紛，郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請加QQ和技術(shù)人員交流：82187958。

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。

以上是關(guān)于TEM透射電鏡和SEM掃描電鏡的相關(guān)介紹，更多測試需求請聯(lián)系鑠思百檢測工程師。