TOF-SIMS的原理及特點(diǎn)

飛行時(shí)間-二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。它利用一次離子激發(fā)樣品表面微量的二次離子，根據(jù)二次離子飛行到探測(cè)器的時(shí)間不同來(lái)測(cè)定離子質(zhì)量。由于TOF-SIMS中離子飛行時(shí)間只依賴于它們的質(zhì)量，故其一次脈沖就可得到一個(gè)全譜，離子利用率很高，能實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品幾乎無(wú)損的靜態(tài)分析。

TOF-SIMS具有檢測(cè)極限極低、分辨率極高等優(yōu)點(diǎn)，能實(shí)現(xiàn)在2-3個(gè)原子層對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè)并給出二維和三維圖像信息。目前TOF-SIMS主要用于有機(jī)樣品的表面分析，如生物藥品的有機(jī)物分析、半導(dǎo)體材料的污染分析、儲(chǔ)能材料分析及有機(jī)分子碎片鑒定等。隨著技術(shù)的改善，分析區(qū)域越來(lái)越小，TOF-SIMS在材料成分、摻雜和雜質(zhì)污染等方面的分析中逐漸擁有不可替代的地位。

TOF-SIMS可為您解決的問(wèn)題

1 有機(jī)物的表面表征，可對(duì)元素進(jìn)行面分布分析，分辨率為5～10nm。

2 鑒別在金屬、玻璃、陶瓷、薄膜或粉末表面上的有機(jī)物層或無(wú)機(jī)物層，能對(duì)有機(jī)物進(jìn)行分析且直接輸出其分子式。

3 極小小面積分析，最小區(qū)域可達(dá)直徑80nm。

4 良好的深度分辨率（0.1-1nm），但濺射速率很慢（＜1μm/H）。

5 可給出樣品的三維圖像信息。

6 同位素豐度分析......

TOF-SIMS的應(yīng)用舉例

（1）血清蛋白和溶菌酶薄膜分別吸附在硅烷上的典型正離子質(zhì)譜

（2）連用TOF-SIMS和SPRi分析多糖改性的有序表面的性質(zhì)

（3）通過(guò)TOF-SIMS像確定試樣的主要成分

（4）兩種甘油二酯的TOF-SIMS質(zhì)譜像

（5）涂料在正負(fù)離子模式下的TOF-SIMS質(zhì)譜

（6）油漆畫截面TOF-SIMS的全部離子流圖像及典型元素的正離子像

以上是TOF-SIMS（飛行時(shí)間-二次離子質(zhì)譜儀）的相關(guān)介紹，更多測(cè)試需求請(qǐng)聯(lián)系鑠思百檢測(cè)。