鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費(fèi)休水分測定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
設(shè)為首頁 | 收藏本站

氬離子拋光掃描電鏡的原理及應(yīng)用

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-09-30 15:13作者:鑠思百檢測來源:鑠思百檢測

氬離子拋光掃描電鏡利用氬離子拋光技術(shù),通過離子束對樣品表面進(jìn)行削平拋光處理,以便利用掃描電鏡等顯微觀察工具觀察樣品表面的微觀特征。


氬離子拋光原理

  氬離子拋光技術(shù)是對樣品表面進(jìn)行拋光,去除損傷層,從而得到高質(zhì)量樣品,用于在掃描電鏡,光鏡或者掃描探針顯微鏡上進(jìn)行成像、EDS、EBSD、CL、EBIC或其它分析。針對不同的樣品的硬度,設(shè)置不同的電壓、電流、離子槍的角度、離子束窗口,控制氬離子作用的深度、強(qiáng)度、角度、這樣極ng準(zhǔn)的參數(shù),有利于制備成研究者理想的材料樣品,這樣的樣品不僅表面光滑無損傷,而且還原材料內(nèi)部的真實(shí)結(jié)構(gòu),正如頁巖內(nèi)部的細(xì)微孔隙在掃描電鏡下放大到10K時(shí)也能看得清清楚楚,以及材料內(nèi)部的不同物質(zhì)分層都能看的分界線明顯。

掃描電鏡儀器圖片.jpg

  另外,氬離子拋光設(shè)備中的離子槍部分是采用世界Z先進(jìn)的氬離子槍,聚焦離子束設(shè)計(jì),并且保證無耗材,不僅能夠大大節(jié)約了制樣時(shí)間,而且還能夠很好的節(jié)約后期的應(yīng)用成本。

有些氬離子拋光機(jī)具備樣品切割和拋光兩項(xiàng)功能:

 ?、倥錅乜匾旱鋮s臺,去除熱效應(yīng)對樣品的損傷,有助于避免拋光過程中產(chǎn)生的熱量而導(dǎo)致的樣品融化或者結(jié)構(gòu)變化;

 ?、谂涮?鉻鍍膜,對于同一個(gè)樣品,可在同一真空環(huán)境下完成拋光及鍍膜,防止樣品氧化,可以用于SEM/FIB導(dǎo)電鍍膜樣品制作。

氬離子拋光在材料制樣的特出優(yōu)點(diǎn):

 ?、賹τ捎膊牧虾蛙洸牧辖M成的復(fù)合材料樣品,能夠很精細(xì)地制作軟硬接合部的截面,而使用傳統(tǒng)方法制樣是很困難的。

 ?、诒菷IB方法的拋光面積更大(~1mm以上)。

  氬離子拋光掃描電鏡可以運(yùn)用于各種材料樣品(除了液態(tài))的制備,適應(yīng)大多數(shù)材料類型,對大面積、表面或輻照及能量敏感樣品尤佳:鋼鐵、地質(zhì)、油頁巖、鋰離子電池、光伏材料、薄膜、半導(dǎo)體、EBSD、生物材料等包括平面拋光與截面拋光。


氬離子拋光掃描電鏡的應(yīng)用

1、泥頁巖

  泥頁巖樣品選用氬離子拋光掃描電鏡的3大理由:

 ?、倌囗搸r結(jié)構(gòu)致密,孔隙微小,自然斷面樣品表面粗糙。

 ?、谑褂闷胀ǖ氖謩?dòng)機(jī)械拋光,由于樣品本身的酥松性,很難得到其真實(shí)的內(nèi)部孔隙分布,更談不上觀察納米級孔隙及孔隙的大小、形狀、分布特征等。

 ?、劾脷咫x子拋光技術(shù)對預(yù)磨好的樣品表面進(jìn)行處理后,能夠獲得平滑的截面,并且不會(huì)對樣品造成機(jī)械損害。

  使用現(xiàn)狀及實(shí)例:

  目前應(yīng)用Z廣泛的領(lǐng)域是石油地質(zhì)行業(yè)。頁巖氣勘探開發(fā)取得的突破性成果離不開氬離子拋光-掃描電鏡技術(shù)?,F(xiàn)階段國內(nèi)外很多石油相關(guān)用戶都會(huì)選擇氬離子拋光裝置來對樣品采用氬離子束拋光,從而到掃描電鏡中觀察其微小的孔隙以及定量分析。

2、煤

  煤層樣品選用氬離子拋光掃描電鏡的必要性:

  煤儲(chǔ)層有機(jī)質(zhì)的含量很高,拋光表面較泥頁巖更軟,儲(chǔ)集空間主要處于納米級別。運(yùn)用氬離子拋光-場發(fā)射掃描電鏡,對煤中納米孔進(jìn)行直接觀察和定量,為煤微觀儲(chǔ)滲結(jié)構(gòu)研究提供了新的手段,也為煤層氣吸附機(jī)理的進(jìn)一步深入研究提供較高壓壓汞、氣體吸附更為直觀可靠的資料。

  應(yīng)用實(shí)例:

  2014年山西省煤基重點(diǎn)科技攻關(guān)項(xiàng)目中,采用氬離子束截面成功拋光山西陽泉新景礦太原組15號煤樣,結(jié)合場發(fā)射掃描電鏡,首次實(shí)現(xiàn)煤儲(chǔ)層內(nèi)的孔隙形態(tài)、空間尺度、微裂隙的直接觀測,驗(yàn)證了氬離子拋光-場發(fā)射掃描電鏡在煤納米孔研究中的可行性。


3、土壤

  氬離子拋光掃描電鏡在土壤學(xué)等方面的應(yīng)用方向:

  ①對砒砂巖地聚物材料的抗壓強(qiáng)度、孔隙結(jié)構(gòu)的研究,可以掌握不同粉煤灰摻量和養(yǎng)護(hù)齡期的影響;

 ?、诮?jīng)黃原膠處理的沙、黏土、黃紅壤在掃描電鏡觀測下,可以顯示黃原膠和各大小粒徑土粒的結(jié)合狀態(tài);

 ?、蹝呙桦婄R和能譜儀結(jié)合,能在觀察微結(jié)構(gòu)的同時(shí),分析樣品微區(qū)元素組成;

  ④掃描電鏡-能量色散譜可以研究土壤樣品、植物樣品等受重金屬的污染情況;

  ⑤環(huán)境掃描電鏡可模擬外界環(huán)境,觀察含水分的土樣,可以實(shí)現(xiàn)在干濕交替條件下觀察微觀層面的土壤顆粒、孔隙的脹縮情況。


鑠思百檢測動(dòng)態(tài)


  • 武漢鑠思百檢測簡介

武漢鑠思百檢測,是華中地區(qū)專業(yè)的第三方檢測平臺,提供材料檢測服務(wù),常規(guī)測試3-5個(gè)工作日出檢測結(jié)果,鑠思百檢測專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室儀器,專業(yè)科研團(tuán)隊(duì)碩博測試工程師90%,鑠思百檢測,堅(jiān)持“恪守信譽(yù)、質(zhì)量第一、客戶第一”

XPS測試,ICP測試,SEM測試,EDS測試,TG測試,EBSD測試,TEM測試,BET測試,XRD測試,紅外測試,拉曼測試,固體核磁,元素分析,離子減薄制樣,F(xiàn)IB制樣,等等更多測試請咨詢在線客服


測試流程

1、客戶提出測試要求(在線預(yù)約

2、細(xì)節(jié)溝通(聯(lián)系電話或在線QQ)

3、下載填寫測試委托單(網(wǎng)站下載或聯(lián)系QQ客服)

4、測試委托單和樣品郵寄

5、聯(lián)系客服付款

6、安心等待

7、接受數(shù)據(jù)發(fā)票

8、后期服務(wù)

以上是對于測試的相關(guān)介紹,如有其它檢測需求可以咨詢實(shí)驗(yàn)室工程師,為您一對一服務(wù)。

溫習(xí)提示

1、不定期推出各種優(yōu)惠活動(dòng),詳情通過電話、在線客服確認(rèn)測試條件、檢測費(fèi)用、檢測周期等。

檢測咨詢熱線:15071040697      黃工QQ:82187958

公司網(wǎng)站:www.gzbj666.cn

武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司

在線客服
 
 
 工作時(shí)間
周一至周六 :8:00-18:00
 聯(lián)系方式
客服-黃工:150 7104 0697
客服-劉工:18120219335
岗巴县| 东明县| 九寨沟县| 大化| 资源县| 龙州县| 富锦市| 河池市| 清流县| 麦盖提县| 太和县| 陇川县| 望都县| 驻马店市| 玛沁县| 呼玛县| 随州市| 运城市| 景德镇市| 邵阳市| 思南县| 东乡族自治县| 静安区| 靖安县| 石阡县| 巴青县| 巴楚县| 白山市| 沈阳市| 漠河县| 山东省| 博兴县| 安阳县| 兴国县| 安溪县| 慈溪市| 仙游县| 洞头县| 正镶白旗| 西贡区| 长武县|