掃描電子顯微鏡及能譜儀的相關(guān)知識(shí) 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-11-26 09:19作者:鑠思百檢測(cè)來(lái)源:鑠思百檢測(cè) 掃描電鏡的相關(guān)知識(shí)
主要內(nèi)容: 掃描電鏡相關(guān)知識(shí) 能譜儀相關(guān)知識(shí) 電子背散射衍射相關(guān)知識(shí)
掃描電子顯微鏡簡(jiǎn)稱掃描電鏡(SEM)
材料與電子的相互作用
掃描電子顯微鏡的構(gòu)造
鎢燈絲掃描電鏡
掃描電子顯微鏡的特點(diǎn) 1分辨率高,2放大倍率范圍寬,3三維立體效果好
4樣品制備相對(duì)簡(jiǎn)單
5掃描電鏡可加裝多種附件,(EDS能譜儀,EBSD),綜合分析能力強(qiáng)
掃描電鏡樣品的基本要求 1導(dǎo)電性好,2熱穩(wěn)定性好,3二次電子和背散射電子產(chǎn)率高
掃描電鏡樣品的制備 1取樣
2清潔樣品
3樣品的安放:塊狀樣品的安放,粉末樣品的制備
掃描電鏡:截面樣品的制備
5鍍膜
掃描電子顯微鏡的應(yīng)用
掃描電鏡之能譜儀的相關(guān)知識(shí)
能譜儀的幾種工作模式 1點(diǎn)分析,2線分析,3元素分布
EDS分析方法的特點(diǎn)
EDS分析對(duì)樣品的要求
EDS分析中不導(dǎo)電的問(wèn)題
電子背散射衍射相關(guān)知識(shí)
EBSD對(duì)樣品基本要求
EBSD取向分析原理
EBSD的兩種測(cè)試方法
EBSD的常見應(yīng)用
晶粒尺寸及形狀的分析
晶界,亞晶及欒晶性質(zhì)的分析
小結(jié): 掃描電鏡及其相關(guān)部件在材料的分析測(cè)試中能發(fā)揮很重要的作用是幫助科研及材料工作者進(jìn)行表征分析的重要手段。 鑠思百檢測(cè)可提供掃描電鏡檢測(cè)服務(wù),有需要檢測(cè)服務(wù)可聯(lián)系在線客服。
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