GBT 28894-2012表面化學(xué)分析 分析前樣品的處理

GBT 28894-2012表面化學(xué)分析 分析前樣品的處理

本標(biāo)準(zhǔn)對于提交表面化學(xué)分析樣品的人們在樣品處理和把樣品遞送給分析人員方面提供指導(dǎo)。盡管主要是為俄歇電子能譜（AES）、X射線光電子能譜（XPS）和二次離子質(zhì)譜（SIMS）而寫，但這些方法也能用于其他表面敏感的分析測量。AES、XPS和SIMS通常對幾納米（nm）厚度的表面層敏感。這樣的薄層會(huì)由于不正確的樣品處理而受到嚴(yán)重影響[]。樣品的正確處理和制備對于分析是極為重要的，不正確的處理會(huì)導(dǎo)致表面組成改變和數(shù)據(jù)不可信。本標(biāo)準(zhǔn)是供給樣品提供者或表面分析設(shè)備的購買者以及表面分析人員使用的。最佳處理方法取決于特定的樣品和所需的信息，并且本標(biāo)準(zhǔn)為每一種樣品類型提供了說明性的例子，這些樣品類型是樣品所有者和表面分析人員通常遇到的。本標(biāo)準(zhǔn)建議樣品供應(yīng)者就有關(guān)樣品的來歷、需要解決的具體問題或所需要的信息，以及任何特殊的樣品制備、所需的處理或運(yùn)送方法，盡可能快地和表面分析人員商量。

表面化學(xué)分析分析前樣品的處理；范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了表面化學(xué)分析樣品的處理和存放容器的要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于表面化學(xué)分析設(shè)備的用戶了解表面化學(xué)分析技術(shù)的特殊樣品處理要求，特別是俄歇電子能譜（AES）、二次離子質(zhì)譜（SIMS）和X射線光電子能譜（XPS或ESCA）。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于對表面組成敏感的其他分析技術(shù)，如TXRF。對于特定的實(shí)例，特定的樣品，需要更加注意。

發(fā)布時(shí)間：2012-11-05     實(shí)施時(shí)間：2013-06-01

頒發(fā)部門：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

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