掃描電子顯微鏡的原理及應(yīng)用范圍

掃描電子顯微鏡的原理及應(yīng)用范圍

鑠思百檢測場發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。為高?？蒲泄ぷ髡?，提供掃描電鏡檢測服務(wù)。

掃描電子顯微鏡的應(yīng)用范圍

FESEM廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機(jī)材料、無機(jī)材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。

1、掃描電子顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)

(1)有較高的放大倍數(shù)，20-30萬倍之間連續(xù)可調(diào);

(2)有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu);

(3)試樣制備簡單，目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀(EDS)裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析。

2、FESEM可為客戶解決的產(chǎn)品質(zhì)量問題

(1)當(dāng)產(chǎn)品表面存在污染物或異物時(shí)，可選擇EDS分析污染物或異物含有哪些元素，對異物來源提供線索;

(2)SEM形貌觀察微觀結(jié)構(gòu)、顆粒物尺寸量測、截面法量測鍍層厚度、異物成分分析、錫須觀察、微米級長度、納米級尺寸量測。

3、X射線能譜儀(EDS)注意事項(xiàng)

(1)無磁性或弱磁性，不易潮解且無揮發(fā)性的固態(tài)樣品，樣品尺寸小于長80mm*寬60mm*高60mm，當(dāng)樣品尺寸過大需切割取樣，粉末樣品最好由客戶選擇對樣品無污染的包裝方式。

(2)取樣的時(shí)候避免手和取樣工具接觸到需要測試的位置，取下樣品后選擇是否鍍金處理，及時(shí)檢測樣成分品避免外來污染影響分析結(jié)果。

4、場發(fā)射掃描電子顯微鏡的案例分析

實(shí)例一：客戶要求對LED熒光填充物進(jìn)行成分分析