鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費(fèi)休水分測定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
設(shè)為首頁 | 收藏本站

XRD檢出限是多少?

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2021-02-03 11:34作者:鑠思百檢測來源:鑠思百檢測

XRD是表征物相的重要手段,嚴(yán)格的說,它能確定某物相存在,卻不能確定某物相不存在,即鑒真易鑒偽難。

那么,它的檢出限是多少呢?

首先,我們必須強(qiáng)調(diào)的是XRD做含量分析非常不準(zhǔn),如果非要說檢出限是多少主要是由什么決定的,那就是由儀器的功率管電流決定的,如果要表征元素的含量最好用化學(xué)方法測或者原子吸收來做。

另外,XRD的檢測限是不能簡單的用%來表示的,這和被檢測物質(zhì)的分散度有很大關(guān)系,也就是結(jié)晶度,與物質(zhì)種類也有很大關(guān)系,樣品的質(zhì)量吸收系數(shù)大,檢出限會(huì)高很多。

如果非要確定出一個(gè)檢出限,一般說是5%左右。

但是,不同的物相,對(duì)X射線的吸收不同,則檢出限會(huì)有較大出入。如單質(zhì)硅,一般在1%左右可以檢出,而另一些相,可能10%都難于檢出。

當(dāng)然。在樣品相同的情況下,使用較高的衍射功率,使用較長的掃描時(shí)間效果會(huì)更好。不過,如果要延長掃描時(shí)間,如果延長一兩倍是見不到效果的。

經(jīng)驗(yàn)表明,如果使用常規(guī)的掃描速度能看到某種存在的跡象,那么,再采用1度/min或更慢的速度來掃描。如果使用常規(guī)掃描速度根本都看不到痕跡,就沒有必要再費(fèi)力了。

進(jìn)行半定量分析確實(shí)是很不準(zhǔn)確,而且結(jié)果確實(shí)與晶粒大小相關(guān)。晶粒小的析出相,連檢出都困難,更別說做定量分析了。晶粒小的物相會(huì)使其RIR值增大,曾做過CeO2的RIR值,在不同的溫度下的產(chǎn)物,其RIR值相差10倍。

接下來,我們以黃繼武老師列舉的兩個(gè)實(shí)例來說明:

實(shí)例 1:一個(gè)金剛石樣品被銀污染了,用XRD測出的譜中出現(xiàn)了銀的峰,而且非常明顯,通過定量計(jì)算,發(fā)現(xiàn)樣品中存在0.04%wt的銀。為了進(jìn)一步證實(shí),用光譜分析,結(jié)果是0.038%wt的銀確實(shí)存在。

實(shí)例2:鋼材樣品中含有少量殘余奧氏體,經(jīng)拉伸斷裂后測量奧氏體向馬氏體轉(zhuǎn)變的情況,樣品中含有奧氏體和馬氏體兩相。拉伸前樣品中殘留的奧氏體約為2%(V),經(jīng)拉伸試驗(yàn)后,試樣中只留有0.2%~0.5%的奧氏體。常規(guī)掃描速度(8°/min),掃描出來的圖譜中不能發(fā)現(xiàn)奧氏體峰的存在。后改用步進(jìn)掃描:步長0.02°,計(jì)數(shù)時(shí)間1.5s。結(jié)果相當(dāng)好。


殘余奧氏體的計(jì)算結(jié)果:

使用理學(xué)D/max 2500 衍射儀完全可以測量出含量小于1%的物相,但是,應(yīng)當(dāng)適當(dāng)延長掃描時(shí)間,即應(yīng)使用較低的掃描速度,使用步進(jìn)掃描可以得到理想的結(jié)果。

總結(jié)

1、XRD到底有沒有檢出限?

通過上面的分析,我們不妨給檢出限加幾個(gè)定語一定的儀器(主要是功率大小和靶材種類)一定的實(shí)驗(yàn)條件,這主要是指掃描速度,另外,還有狹縫大小,一定的樣品。不同的物質(zhì)對(duì)X光的吸收能力存在很大的區(qū)別,微量相的分布狀態(tài),取向性和應(yīng)力等都會(huì)影響結(jié)果。

2、如何利用XRD檢測含量較低的物質(zhì)?

先用較快的速度進(jìn)行掃描,當(dāng)譜中出現(xiàn)一些似是而非的微量相峰的“影子”時(shí),改用慢速度掃描。

據(jù)經(jīng)驗(yàn),如果用8度/min能看到某相的“影子”,用4度/min的速度沒有多少改觀。非得改用1度/min或更慢的速度才會(huì)有效果。

還有一點(diǎn)經(jīng)常被忽略的,就是樣品的大小。特別是塊體樣品,應(yīng)當(dāng)使樣品盡可能填滿樣品框,以增加照射體積,其作用相當(dāng)于延長掃描時(shí)間。能做成粉體的樣品,盡可能做成粉體,并盡可能壓實(shí)。


1清華大學(xué) 2北京大學(xué) 3浙江大學(xué) 4海交通大學(xué) 5南京大學(xué) 6復(fù)旦大學(xué) 7華中科技大學(xué) 8 武漢大學(xué) 9吉林大學(xué) 10西安交通大學(xué) 11中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) 12 中山大學(xué) 13四川大學(xué) 14哈爾濱工業(yè)大學(xué) 15 山東大學(xué) 16 天津大學(xué) 17南開大學(xué) 18中南大學(xué) 19北京師范大學(xué) 20中國人民大學(xué) 21廈門大學(xué) 22北京航空航天大學(xué) 23東南大學(xué) 24同濟(jì)大學(xué) 25大連理工大學(xué) 26西北工業(yè)大學(xué) 27華南理工大學(xué) 28重慶大學(xué) 29中國農(nóng)業(yè)大學(xué) 30華東師范大學(xué) 31蘭州大學(xué) 32東北大學(xué) 33北京理工大學(xué) 34湖南大學(xué) 35蘇州大學(xué) 36鄭州大學(xué) 37中國石油大學(xué) 38華東理工大學(xué) 39南京航空航天大學(xué) 40武漢理工大學(xué) 41中國礦業(yè)大學(xué) 42南京農(nóng)業(yè)大學(xué) 43北京科技大學(xué) 44暨南大學(xué) 45西安電子科技大學(xué) 46西北大學(xué) 47電子科技大學(xué) 48南京理工大學(xué) 49西北農(nóng)林科技大學(xué) 50上海大學(xué) 51西南大學(xué) 52南京師范大學(xué) 53西南交通大學(xué) 54東北師范大學(xué) 55華中師范大學(xué) 56華中農(nóng)業(yè)大學(xué) 57揚(yáng)州大學(xué) 58中國海洋大學(xué) 59華南師范大學(xué) 60湖南師范大學(xué) 61北京化工大學(xué) 62北京交通大學(xué) 63山西大學(xué) 64河海大學(xué) 65 中國地質(zhì)大學(xué)(武漢) 66南昌大學(xué) 67陜西師范大學(xué) 68首都醫(yī)科大學(xué) 69華南農(nóng)業(yè)大學(xué) 70南京工業(yè)大學(xué) 71中國醫(yī)科大學(xué) 72福州大學(xué) 73山東農(nóng)業(yè)大學(xué) 74北京工業(yè)大學(xué) 75燕山大學(xué) 76 中南財(cái)經(jīng)政法大學(xué) 77河北大學(xué) 78云南大學(xué) 79哈爾濱工程大學(xué) 80南方醫(yī)科大學(xué) 81江蘇大學(xué) 82東華大學(xué) 83河南大學(xué) 84福建農(nóng)林大學(xué) 85 江南大學(xué) 86北京郵電大學(xué) 87合肥工業(yè)大學(xué) 88浙江工業(yè)大學(xué) 89湘潭大學(xué) 90上海財(cái)經(jīng)大學(xué) 91中國地質(zhì)大學(xué)(北京) 92成都理工大學(xué) 93昆明理工大學(xué) 94華北電力大學(xué) 95 山東師范大學(xué) 96青島大學(xué) 97北京林業(yè)大學(xué) 98河北工業(yè)大學(xué) 99太原理工大學(xué) 100貴州大學(xué)

在線客服
 
 
 工作時(shí)間
周一至周六 :8:00-18:00
 聯(lián)系方式
客服-黃工:150 7104 0697
客服-劉工:18120219335
自治县| 镇宁| 邵武市| 五原县| 敦化市| 宝清县| 岳西县| 萝北县| 吉隆县| 汕尾市| 巩义市| 化州市| 福鼎市| 彩票| 礼泉县| 永顺县| 上虞市| 康保县| 甘肃省| 祁东县| 安远县| 甘孜| 徐闻县| 华亭县| 开阳县| 嘉善县| 志丹县| 辉县市| 富川| 会理县| 西乌珠穆沁旗| 南和县| 保康县| 城市| 石台县| 勐海县| 卢湾区| 屯门区| 吴桥县| 桂平市| 汉中市|