鑠思百檢測可提供XPS測試-X射線光電子能譜儀檢測服務(wù)。

XPS測試可對固體樣品的元素成分進(jìn)行定性、定量或半定量及價(jià)態(tài)分析。 固體樣品表面的組成、化學(xué)狀態(tài)分析，廣泛應(yīng)用于元素分析、多相研究、化合物結(jié)構(gòu)鑒定、富集法微量元素分析、元素價(jià)態(tài)鑒定。此外在對氧化、腐蝕、摩擦、潤滑、燃燒、粘接、催化、包覆等微觀機(jī)理研究；污染化學(xué)、塵埃粒子研究等的環(huán)保測定；分子生物化學(xué)以及三維剖析如界面及過渡層的研究等方面有所應(yīng)用。

XPS 與某些分析方法的比較

常規(guī)應(yīng)用

1. 樣品表面1-12nm 的元素和元素質(zhì)量

2. 檢測存在于樣品表面的雜質(zhì)

3. 含過量表面雜質(zhì)的自由材料的實(shí)驗(yàn)式

4. 樣品中1 種或多種元素的化學(xué)狀態(tài)

5. 一個(gè)或多個(gè)電子態(tài)的鍵能

6. 不同材料表面12nm 范圍內(nèi)一層或多層的厚度

7. 電子態(tài)密度測量

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