單晶電子衍射花樣優(yōu)缺點(diǎn)

鑠思百檢測(cè)可為您提供單晶X射線衍射服務(wù)，單晶XRD是利用單晶體對(duì)X射線的衍射效應(yīng)來(lái)測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)的實(shí)驗(yàn)方法。

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單晶X射線衍射是利用單晶體對(duì) X射線的衍射效應(yīng)來(lái)測(cè)定晶體結(jié)構(gòu)的實(shí)驗(yàn)方法。依照強(qiáng)度記錄方式的不同，可分為照相法和衍射儀法兩類(lèi)。

照相法使射線作用在膠片上，然后測(cè)量底片上衍射點(diǎn)的黑度來(lái)獲得衍射線的強(qiáng)度數(shù)據(jù)，根據(jù)實(shí)驗(yàn)裝置和條件的差別，又分為多種方法。

勞厄照相法用連續(xù)波長(zhǎng)的 X射線照射到靜止不動(dòng)的單晶體上，通常采用平板底片，所攝得的衍射圖稱(chēng)為勞厄圖。勞厄圖常用來(lái)測(cè)定晶體的對(duì)稱(chēng)性和用于晶體的定向等。

優(yōu)點(diǎn)：

形貌觀察與結(jié)構(gòu)分析結(jié)合

使晶體結(jié)構(gòu)的研究直觀,比X射線衍射的簡(jiǎn)單。

散射能力強(qiáng),曝光時(shí)間短

缺點(diǎn)：

只能用來(lái)分析方向問(wèn)題,不能用來(lái)測(cè)量衍射強(qiáng)度

要求試樣薄,試樣制備工作復(fù)雜

在精度方面也遠(yuǎn)比X射線低

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